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1. (WO2015145548) X線装置、X線計測装置および構造物の製造方法
国際事務局に記録されている最新の書誌情報

国際公開番号: WO/2015/145548 国際出願番号: PCT/JP2014/058105
国際公開日: 01.10.2015 国際出願日: 24.03.2014
IPC:
G01N 23/04 (2006.01)
G 物理学
01
測定;試験
N
材料の化学的または物理的性質の決定による材料の調査または分析
23
グループG01N21/00またはG01N22/00に包含されない波動性または粒子性放射線,例.X線,中性子線,の使用による材料の調査または分析
02
放射線の材料透過によるもの
04
映像形成
出願人:
株式会社ニコン NIKON CORPORATION [JP/JP]; 東京都千代田区有楽町一丁目12番1号 12-1, Yurakucho 1-chome, Chiyoda-ku, Tokyo 1008331, JP
発明者:
武田 信介 TAKEDA, Shinsuke; JP
代理人:
永井 冬紀 NAGAI, Fuyuki; 東京都港区港南一丁目6番41号 品川クリスタルスクエア 901 永井特許事務所 NAGAI & ASSOCIATES, SHINAGAWA CRYSTAL SQUARE BLDG. Suite No. 901, 1-6-41, Kounan, Minato-ku, Tokyo 1080075, JP
優先権情報:
発明の名称: (EN) X-RAY DEVICE, X-RAY MEASUREMENT DEVICE AND STRUCTURE PRODUCTION METHOD
(FR) DISPOSITIF À RAYONS X, DISPOSITIF DE MESURE À RAYONS X ET PROCÉDÉ DE PRODUCTION DE STRUCTURE
(JA) X線装置、X線計測装置および構造物の製造方法
要約:
(EN) This X-ray device is provided with: an X-ray source that irradiates an object to be measured with an X-ray; an X-ray detector that acquires a transmission image of the X-ray that has passed through the object to be measured; a mount that is arranged between the X-ray source and the X-ray detector, and on which the object to be measured is mounted; and a calculating unit that calculates the mounting position at which the object to be measured should be mounted to the mount on the basis of structural information of the object to be measured.
(FR) La présente invention concerne un dispositif à rayons X qui est pourvu : d'une source de rayons X qui irradie un objet à mesurer à l'aide d'un rayon X; un détecteur de rayons X qui acquiert une image de transmission des rayons X qui est passé à travers l'objet à mesurer; une monture qui est agencée entre la source de rayons X et le détecteur de rayons X et sur laquelle l'objet à mesurer est monté; et une unité de calcul qui calcule la position de montage à laquelle l'objet à mesurer devrait être monté sur la monture sur la base d'informations structurelles de l'objet à mesurer.
(JA)  X線装置は、被測定物にX線を照射するX線源と、被測定物を透過したX線の透過像を取得するX線検出器と、X線源とX線検出器との間に配置され、被測定物を載置する載置台と、載置台へ被測定物を載置するべき載置位置を、被測定物の構成情報に基づいて算出する算出部とを備える。
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指定国: AE, AG, AL, AM, AO, AT, AU, AZ, BA, BB, BG, BH, BN, BR, BW, BY, BZ, CA, CH, CL, CN, CO, CR, CU, CZ, DE, DK, DM, DO, DZ, EC, EE, EG, ES, FI, GB, GD, GE, GH, GM, GT, HN, HR, HU, ID, IL, IN, IR, IS, JP, KE, KG, KN, KP, KR, KZ, LA, LC, LK, LR, LS, LT, LU, LY, MA, MD, ME, MG, MK, MN, MW, MX, MY, MZ, NA, NG, NI, NO, NZ, OM, PA, PE, PG, PH, PL, PT, QA, RO, RS, RU, RW, SA, SC, SD, SE, SG, SK, SL, SM, ST, SV, SY, TH, TJ, TM, TN, TR, TT, TZ, UA, UG, US, UZ, VC, VN, ZA, ZM, ZW
アフリカ広域知的所有権機関(ARIPO) (BW, GH, GM, KE, LR, LS, MW, MZ, NA, RW, SD, SL, SZ, TZ, UG, ZM, ZW)
ユーラシア特許庁(EAPO) (AM, AZ, BY, KG, KZ, RU, TJ, TM)
欧州特許庁(EPO) (AL, AT, BE, BG, CH, CY, CZ, DE, DK, EE, ES, FI, FR, GB, GR, HR, HU, IE, IS, IT, LT, LU, LV, MC, MK, MT, NL, NO, PL, PT, RO, RS, SE, SI, SK, SM, TR)
アフリカ知的所有権機関(OAPI) (BF, BJ, CF, CG, CI, CM, GA, GN, GQ, GW, KM, ML, MR, NE, SN, TD, TG)
国際公開言語: 日本語 (JA)
国際出願言語: 日本語 (JA)