国際・国内特許データベース検索
このアプリケーションの一部のコンテンツは現在ご利用になれません。
この状況が続く場合は、次のお問い合わせ先までご連絡ください。フィードバック & お問い合わせ
1. (WO2015137074) 成分測定装置、方法及びプログラム
国際事務局に記録されている最新の書誌情報

国際公開番号: WO/2015/137074 国際出願番号: PCT/JP2015/054540
国際公開日: 17.09.2015 国際出願日: 19.02.2015
IPC:
G01N 21/78 (2006.01) ,G01N 21/27 (2006.01)
G 物理学
01
測定;試験
N
材料の化学的または物理的性質の決定による材料の調査または分析
21
光学的手段,すなわち.赤外線,可視光線または紫外線を使用することによる材料の調査または分析
75
材料が化学反応を受け,その反応の進行または結果が調査されるシステム
77
化学指示薬に対する効果を観察することによるもの
78
色の変化の提示
G 物理学
01
測定;試験
N
材料の化学的または物理的性質の決定による材料の調査または分析
21
光学的手段,すなわち.赤外線,可視光線または紫外線を使用することによる材料の調査または分析
17
調査される材料の特性に応じて入射光が変調されるシステム
25
色;スペクトル特性,すなわち2またはそれ以上の波長あるいは波長帯において材料が光に与える効果の比較
27
光電検出器を用いるもの
出願人:
テルモ株式会社 TERUMO KABUSHIKI KAISHA [JP/JP]; 東京都渋谷区幡ヶ谷二丁目44番1号 44-1, Hatagaya 2-chome, Shibuya-ku, Tokyo 1510072, JP
発明者:
落合庄司 OCHIAI, Shouji; JP
森内健行 MORIUCHI, Takeyuki; JP
滝浪雅夫 TAKINAMI, Masao; JP
代理人:
千葉剛宏 CHIBA Yoshihiro; JP
優先権情報:
2014-05220614.03.2014JP
発明の名称: (EN) COMPONENT MEASUREMENT DEVICE, METHOD, AND PROGRAM
(FR) DISPOSITIF, PROCÉDÉ ET PROGRAMME DE MESURE DE COMPOSANT
(JA) 成分測定装置、方法及びプログラム
要約:
(EN) A component measurement device (10) determines a function form expressing the wavelength characteristic of an amount of change caused by scattering (S(λ)); calculates one or more coefficients (p, q) as unknown quantities on the basis of a first relational expression including an amount of change caused by absorption (H(λ1)) and a group of second relational expressions not including amounts of change caused by absorption (H(λ2a), H(λ2b), H(λ2c)); and at least removes the influence of scattered light by using a function arrived at by applying the one or more coefficients (p, q) to the function form to correct an absorbance measured at an arbitrary wavelength (λ).
(FR) L'invention concerne un dispositif de mesure de composant (10) qui détermine une forme de fonction exprimant la caractéristique de longueur d'onde d'une quantité de variation provoquée par diffusion (S (λ)) ; calcule un ou plusieurs coefficients (p, q) en tant que quantités inconnues sur la base d'une première expression relationnelle comprenant une quantité de variation provoquée par absorption (H (λ1)) et un groupe de secondes expressions relationnelles ne comprenant pas de quantités de variation provoquée par absorption (H (λ2a), H (λ2b), H (λ2c)) ; et au moins élimine l'influence de la lumière diffusée en utilisant une fonction à laquelle on est arrivé en appliquant les un ou plusieurs coefficients (p, q) à la forme de fonction pour corriger une absorbance mesurée à une longueur d'onde arbitraire (λ).
(JA)  成分測定装置(10)は、散乱起因変化量(S(λ))の波長特性を示す関数形を決定する。そして、吸収起因変化量(H(λ1))を含む第1関係式及び吸収起因変化量(H(λ2a)、H(λ2b)、H(λ2c))を含まない一群の第2関係式に基づいて、未知数としての1つ以上の係数(p,q)を算出する。そして、1つ以上の係数(p,q)を上記の関数形に適用した関数を用いて、任意の波長(λ)にて測定された吸光度を補正することで、少なくとも光散乱の影響を除去する。
front page image
指定国: AE, AG, AL, AM, AO, AT, AU, AZ, BA, BB, BG, BH, BN, BR, BW, BY, BZ, CA, CH, CL, CN, CO, CR, CU, CZ, DE, DK, DM, DO, DZ, EC, EE, EG, ES, FI, GB, GD, GE, GH, GM, GT, HN, HR, HU, ID, IL, IN, IR, IS, JP, KE, KG, KN, KP, KR, KZ, LA, LC, LK, LR, LS, LU, LY, MA, MD, ME, MG, MK, MN, MW, MX, MY, MZ, NA, NG, NI, NO, NZ, OM, PA, PE, PG, PH, PL, PT, QA, RO, RS, RU, RW, SA, SC, SD, SE, SG, SK, SL, SM, ST, SV, SY, TH, TJ, TM, TN, TR, TT, TZ, UA, UG, US, UZ, VC, VN, ZA, ZM, ZW
アフリカ広域知的所有権機関 (ARIPO) (BW, GH, GM, KE, LR, LS, MW, MZ, NA, RW, SD, SL, ST, SZ, TZ, UG, ZM, ZW)
ユーラシア特許庁(EAPO) (AM, AZ, BY, KG, KZ, RU, TJ, TM)
欧州特許庁(EPO) (AL, AT, BE, BG, CH, CY, CZ, DE, DK, EE, ES, FI, FR, GB, GR, HR, HU, IE, IS, IT, LT, LU, LV, MC, MK, MT, NL, NO, PL, PT, RO, RS, SE, SI, SK, SM, TR)
アフリカ知的所有権機関(OAPI) (BF, BJ, CF, CG, CI, CM, GA, GN, GQ, GW, KM, ML, MR, NE, SN, TD, TG)
国際公開言語: 日本語 (JA)
国際出願言語: 日本語 (JA)
Also published as:
CN106104259US20190049468JPWO2015137074