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1. (WO2015137063) 干渉測定装置、干渉測定方法及びX線撮像装置
国際事務局に記録されている最新の書誌情報

国際公開番号: WO/2015/137063 国際出願番号: PCT/JP2015/054382
国際公開日: 17.09.2015 国際出願日: 18.02.2015
IPC:
G01T 7/00 (2006.01) ,G01N 23/04 (2006.01) ,G01N 23/20 (2006.01) ,G02B 5/18 (2006.01)
G 物理学
01
測定;試験
T
原子核放射線またはX線の測定
7
放射線測定装置の細部
G 物理学
01
測定;試験
N
材料の化学的または物理的性質の決定による材料の調査または分析
23
グループG01N21/00またはG01N22/00に包含されない波動性または粒子性放射線,例.X線,中性子線,の使用による材料の調査または分析
02
放射線の材料透過によるもの
04
映像形成
G 物理学
01
測定;試験
N
材料の化学的または物理的性質の決定による材料の調査または分析
23
グループG01N21/00またはG01N22/00に包含されない波動性または粒子性放射線,例.X線,中性子線,の使用による材料の調査または分析
20
放射線の回折の利用によるもの,例.結晶構造の調査のためのもの;放射線の反射の利用によるもの
G 物理学
02
光学
B
光学要素,光学系,または光学装置
5
レンズ以外の光学要素
18
回折格子
出願人:
株式会社日立製作所 HITACHI, LTD. [JP/JP]; 東京都千代田区丸の内1丁目6番6号 6-6, Marunouchi 1-chome, Chiyoda-ku, Tokyo 1008280, JP
発明者:
永田 浩司 NAGATA,Koji; JP
岡部 正和 OKABE,Masakazu; JP
代理人:
田村 尚隆 TAMURA, Naotaka; 千葉県柏市新十余二2-1 株式会社日立製作所 ヘルスケアビジネスユニット 経営戦略室 知的財産部内 c/o HITACHI, LTD. HEALTHCARE BUSINESS UNIT, STRATEGY PLANNING & DEVELOPMENT OFFICE, INTELLECTUAL PROPERTY DEPARTMENT, 2-1, Shintoyofuta, Kashiwa-shi, Chiba 2770804, JP
優先権情報:
2014-05108714.03.2014JP
発明の名称: (EN) INTERFERENCE MEASUREMENT DEVICE, INTERFERENCE MEASUREMENT METHOD AND X-RAY IMAGING DEVICE
(FR) DISPOSITIF DE MESURE D'INTERFÉRENCES, PROCÉDÉ DE MESURE D'INTERFÉRENCES ET DISPOSITIF D'IMAGERIE À RAYONS X
(JA) 干渉測定装置、干渉測定方法及びX線撮像装置
要約:
(EN) Provided is an interference measurement device which avoids a high-aspect ratio grating structure in order to eliminate the necessity of thickening the diffractive grating, and which, regardless of light intensity, can stably acquire differential phase-contrast images by utilizing characteristics such as the photoelectric effect and Compton scattering. This interference measurement device is provided with a diffraction grating which includes a grating structure having a photoelectric unit and/or a light generating unit. This interference measurement device acquires multiple images as the diffraction grating moves, detects changes in signal strength of each pixel between multiple images, and acquires a differential phase-contrast image by setting the phase of the change in signal strength to the display intensity of each pixel.
(FR) L'invention concerne un dispositif de mesure d'interférences qui évite une structure de réseau à rapport de forme élevé de sorte à éliminer le besoin d'épaissir le réseau de diffraction, et qui, indépendamment de l'intensité lumineuse, peut acquérir de manière stable des images en contraste de phase différentielle à l'aide de caractéristiques telles que l'effet photoélectrique et la diffusion Compton. Ce dispositif de mesure d'interférences est pourvu d'un réseau de diffraction qui comprend une structure de réseau ayant une unité photoélectrique et/ou une unité de génération de lumière. Ce dispositif de mesure d'interférences acquiert de multiples images à mesure que le réseau de diffraction se déplace, détecte les changements d'intensité du signal de chaque pixel entre de multiples images, et acquiert une image en contraste de phase différentielle en réglant la phase du changement d'intensité du signal sur l'intensité d'affichage de chaque pixel.
(JA)  回折格子を厚くする必要がなくなるため、高アスペクト比のグレーティング構造を回避することができる干渉測定装置を提供し、光電効果やコンプトン散乱などの特性を利用するため、光エネルギーの強弱に依らず、安定的に微分位相コントラスト画像を取得することができる干渉測定装置を提供するために、本発明の干渉測定装置は、光電部又は発光部の少なくとも一方を有するグレーティング構造を含む回折格子を備え、回折格子の移動に伴って複数の画像を取得し、複数の画像間で各画素の信号強度変化を検出し、信号強度変化の位相を各画素の表示強度とすることで微分位相コントラスト画像を取得する。
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指定国: AE, AG, AL, AM, AO, AT, AU, AZ, BA, BB, BG, BH, BN, BR, BW, BY, BZ, CA, CH, CL, CN, CO, CR, CU, CZ, DE, DK, DM, DO, DZ, EC, EE, EG, ES, FI, GB, GD, GE, GH, GM, GT, HN, HR, HU, ID, IL, IN, IR, IS, JP, KE, KG, KN, KP, KR, KZ, LA, LC, LK, LR, LS, LU, LY, MA, MD, ME, MG, MK, MN, MW, MX, MY, MZ, NA, NG, NI, NO, NZ, OM, PA, PE, PG, PH, PL, PT, QA, RO, RS, RU, RW, SA, SC, SD, SE, SG, SK, SL, SM, ST, SV, SY, TH, TJ, TM, TN, TR, TT, TZ, UA, UG, US, UZ, VC, VN, ZA, ZM, ZW
アフリカ広域知的所有権機関(ARIPO) (BW, GH, GM, KE, LR, LS, MW, MZ, NA, RW, SD, SL, ST, SZ, TZ, UG, ZM, ZW)
ユーラシア特許庁(EAPO) (AM, AZ, BY, KG, KZ, RU, TJ, TM)
欧州特許庁(EPO) (AL, AT, BE, BG, CH, CY, CZ, DE, DK, EE, ES, FI, FR, GB, GR, HR, HU, IE, IS, IT, LT, LU, LV, MC, MK, MT, NL, NO, PL, PT, RO, RS, SE, SI, SK, SM, TR)
アフリカ知的所有権機関(OAPI) (BF, BJ, CF, CG, CI, CM, GA, GN, GQ, GW, KM, ML, MR, NE, SN, TD, TG)
国際公開言語: 日本語 (JA)
国際出願言語: 日本語 (JA)
また、:
JPWO2015137063