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1. (WO2015137023) 被試験デバイスの検査システム、及びその操作方法
国際事務局に記録されている最新の書誌情報

国際公開番号: WO/2015/137023 国際出願番号: PCT/JP2015/053260
国際公開日: 17.09.2015 国際出願日: 05.02.2015
IPC:
G01R 31/26 (2014.01)
G 物理学
01
測定;試験
R
電気的変量の測定;磁気的変量の測定
31
電気的性質を試験するための装置;電気的故障の位置を示すための装置;試験対象に特徴のある電気的試験用の装置で,他に分類されないもの
26
個々の半導体装置の試験
出願人:
新東工業株式会社 SINTOKOGIO, LTD. [JP/JP]; 愛知県名古屋市中村区名駅三丁目28番12号 28-12, Meieki 3-chome, Nakamura-ku, Nagoya-shi, Aichi 4506424, JP
発明者:
瀧田 伸幸 TAKITA Nobuyuki; JP
浜田 貴之 HAMADA Takayuki; JP
坂本 陽一 SAKAMOTO Yoichi; JP
石川 修次 ISHIKAWA Syuji; JP
代理人:
長谷川 芳樹 HASEGAWA Yoshiki; JP
優先権情報:
2014-04704011.03.2014JP
発明の名称: (EN) INSPECTION SYSTEM FOR DEVICE TO BE TESTED, AND METHOD FOR OPERATING INSPECTION SYSTEM FOR DEVICE TO BE TESTED
(FR) SYSTÈME D’INSPECTION POUR UN DISPOSITIF DEVANT ÊTRE ESSAYÉ ET PROCÉDÉ POUR EXÉCUTER UN SYSTÈME D’INSPECTION POUR UN DISPOSITIF DEVANT ÊTRE ESSAYÉ
(JA) 被試験デバイスの検査システム、及びその操作方法
要約:
(EN) In this inspection system for devices to be tested, a stage moves to a static characteristic test station and to a dynamic characteristic test station, said stage having a device and a diode placed thereon. A method for operating the inspection system is provided with: a step for carrying in and placing the stage having placed thereon the device and the diode; a step for carrying in and fixing the device to a test station; a step for bringing a probe into contact with the diode; a step for switching the position of the diode; a step for measuring the device; a step for carrying out the device from the stage; and a step for sorting the device.
(FR) La présente invention concerne un système d’inspection destiné à des dispositifs devant être essayés, une table se déplaçant vers une station d'essai de caractéristique statique et vers une station d'essai de caractéristique dynamique, ladite table présentant un dispositif et une diode placée sur celle-ci. La présente invention concerne un procédé qui permet d'exécuter le système d’inspection et qui comprend les étapes consistant : à apporter et à placer la table ayant le dispositif et la diode placés sur celle-ci ; à apporter et à fixer le dispositif sur une station d'essai ; à introduire une sonde en contact avec la diode ; à commuter la position de la diode ; à mesurer le dispositif ; à retirer le dispositif de la table ; à classer le dispositif.
(JA)  被試験デバイスの検査システムにおいて、被試験デバイスとダイオードとを載置したステージが、静特性試験ステーションと動特性試験ステーションとに移動する。被試験デバイスの検査システムの操作方法は、被試験デバイスとダイオードとを載置したステージを搬入及び載置する工程と、被試験デバイスを試験ステーションに搬入及び固定する工程と、ダイオードにプローブを接触する工程と、ダイオードの位置を切り替える工程と、被試験デバイスを測定する工程と、被試験デバイスをステージから搬出する工程と、被試験デバイスを選別する工程と、を備える。
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指定国: AE, AG, AL, AM, AO, AT, AU, AZ, BA, BB, BG, BH, BN, BR, BW, BY, BZ, CA, CH, CL, CN, CO, CR, CU, CZ, DE, DK, DM, DO, DZ, EC, EE, EG, ES, FI, GB, GD, GE, GH, GM, GT, HN, HR, HU, ID, IL, IN, IR, IS, JP, KE, KG, KN, KP, KR, KZ, LA, LC, LK, LR, LS, LU, LY, MA, MD, ME, MG, MK, MN, MW, MX, MY, MZ, NA, NG, NI, NO, NZ, OM, PA, PE, PG, PH, PL, PT, QA, RO, RS, RU, RW, SA, SC, SD, SE, SG, SK, SL, SM, ST, SV, SY, TH, TJ, TM, TN, TR, TT, TZ, UA, UG, US, UZ, VC, VN, ZA, ZM, ZW
アフリカ広域知的所有権機関(ARIPO) (BW, GH, GM, KE, LR, LS, MW, MZ, NA, RW, SD, SL, ST, SZ, TZ, UG, ZM, ZW)
ユーラシア特許庁(EAPO) (AM, AZ, BY, KG, KZ, RU, TJ, TM)
欧州特許庁(EPO) (AL, AT, BE, BG, CH, CY, CZ, DE, DK, EE, ES, FI, FR, GB, GR, HR, HU, IE, IS, IT, LT, LU, LV, MC, MK, MT, NL, NO, PL, PT, RO, RS, SE, SI, SK, SM, TR)
アフリカ知的所有権機関(OAPI) (BF, BJ, CF, CG, CI, CM, GA, GN, GQ, GW, KM, ML, MR, NE, SN, TD, TG)
国際公開言語: 日本語 (JA)
国際出願言語: 日本語 (JA)
また、:
CN105074482DE112015001192US20170023636JPWO2015137023