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1. (WO2015132934) 情報処理装置および情報処理方法
国際事務局に記録されている最新の書誌情報

国際公開番号: WO/2015/132934 国際出願番号: PCT/JP2014/055804
国際公開日: 11.09.2015 国際出願日: 06.03.2014
IPC:
G06F 1/28 (2006.01)
G 物理学
06
計算;計数
F
電気的デジタルデータ処理
1
グループ3/00~13/00および21/00に包含されないデータ処理装置の細部
26
電力供給手段,例.電源の安定化
28
電源の監視,例.規定値はずれの監視による電力供給不良の検知
出願人:
株式会社日立製作所 HITACHI, LTD. [JP/JP]; 東京都千代田区丸の内一丁目6番6号 6-6, Marunouchi 1-chome, Chiyoda-ku, Tokyo 1008280, JP
発明者:
飯田 敬 IIDA, Takashi; JP
日下田 恵一 HIGETA, Keiichi; JP
高橋 英行 TAKAHASHI, Hideyuki; JP
大坂 英樹 OSAKA, Hideki; JP
植松 裕 UEMATSU, Yutaka; JP
柳生 正義 YAGYU, Masayoshi; JP
鳥羽 忠信 TOBA, Tadanobu; JP
代理人:
特許業務法人 湘洋内外特許事務所 SHOYO INTELLECTUAL PROPERTY FIRM; 神奈川県横浜市西区北幸二丁目15-1 東武横浜第2ビル6階 6F Tobu Yokohama 2ND Bldg., 15-1 Kitasaiwai 2-Chome, Nishi-ku, Yokohama-shi, Kanagawa 2200004, JP
優先権情報:
発明の名称: (EN) INFORMATION PROCESSING APPARATUS AND INFORMATION PROCESSING METHOD
(FR) APPAREIL DE TRAITEMENT D'INFORMATIONS ET PROCÉDÉ DE TRAITEMENT D'INFORMATIONS
(JA) 情報処理装置および情報処理方法
要約:
(EN) The present invention is capable of determining whether a malfunction of a semiconductor chip is a malfunction due to power supply abnormality or a malfunction due to a software error. A power supply abnormality detection unit (11) detects an abnormality of a power supply voltage supplied to a logic circuit. A logic abnormality detection unit (12) detects a logic abnormality of the logic circuit. A counter unit (13) outputs a count value. When the abnormality of the power supply voltage is detected by means of the power supply abnormality detection unit (11), a count value storage unit (14) stores the count value outputted from the counter unit (13), and when the logic abnormality is detected by means of the logic abnormality detection unit (12), the count value storage unit stores the count value outputted from the counter unit (13).
(FR) La présente invention peut déterminer si un dysfonctionnement d'une puce à semi-conducteur est un dysfonctionnement dû à une anomalie d'alimentation électrique ou un dysfonctionnement dû à une erreur de logiciel. Une unité de détection d'anomalie d'alimentation électrique (11) détecte une anomalie d'une tension d'alimentation fournie à un circuit logique. Une unité de détection d'anomalie logique (12) détecte une anomalie logique du circuit logique. Un compteur (13) délivre une valeur de comptage. Lorsque l'anomalie de la tension d'alimentation est détectée au moyen de l'unité de détection d'anomalie d'alimentation électrique (11), une unité de stockage de valeur de comptage (14) stocke la valeur de comptage délivrée par l'unité de compteur (13) et, lorsque l'anomalie logique est détectée au moyen de l'unité de détection d'anomalie logique (12), l'unité de stockage de valeur de comptage stocke la valeur de comptage délivrée par l'unité de compteur (13).
(JA)  半導体チップの誤動作が、電源異常による誤動作であるか、ソフトエラーによる誤動作であるかを判断することができる。 電源異常検出部11は、論理回路に供給される電源電圧の異常を検出する。論理異常検出部12は、論理回路の論理異常を検出する。カウンタ部13は、カウント値を出力する。カウント値記憶部14は、電源異常検出部11によって電源電圧の異常が検出されたとき、カウンタ部13から出力されたカウント値を記憶し、また論理異常検出部12によって論理異常が検出されたとき、カウンタ部13から出力されたカウント値を記憶する。
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指定国: AE, AG, AL, AM, AO, AT, AU, AZ, BA, BB, BG, BH, BN, BR, BW, BY, BZ, CA, CH, CL, CN, CO, CR, CU, CZ, DE, DK, DM, DO, DZ, EC, EE, EG, ES, FI, GB, GD, GE, GH, GM, GT, HN, HR, HU, ID, IL, IN, IR, IS, JP, KE, KG, KN, KP, KR, KZ, LA, LC, LK, LR, LS, LT, LU, LY, MA, MD, ME, MG, MK, MN, MW, MX, MY, MZ, NA, NG, NI, NO, NZ, OM, PA, PE, PG, PH, PL, PT, QA, RO, RS, RU, RW, SA, SC, SD, SE, SG, SK, SL, SM, ST, SV, SY, TH, TJ, TM, TN, TR, TT, TZ, UA, UG, US, UZ, VC, VN, ZA, ZM, ZW
アフリカ広域知的所有権機関 (ARIPO) (BW, GH, GM, KE, LR, LS, MW, MZ, NA, RW, SD, SL, SZ, TZ, UG, ZM, ZW)
ユーラシア特許庁(EAPO) (AM, AZ, BY, KG, KZ, RU, TJ, TM)
欧州特許庁(EPO) (AL, AT, BE, BG, CH, CY, CZ, DE, DK, EE, ES, FI, FR, GB, GR, HR, HU, IE, IS, IT, LT, LU, LV, MC, MK, MT, NL, NO, PL, PT, RO, RS, SE, SI, SK, SM, TR)
アフリカ知的所有権機関(OAPI) (BF, BJ, CF, CG, CI, CM, GA, GN, GQ, GW, KM, ML, MR, NE, SN, TD, TG)
国際公開言語: 日本語 (JA)
国際出願言語: 日本語 (JA)