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1. (WO2015128946) 分光スペクトル解析方法
国際事務局に記録されている最新の書誌情報

国際公開番号: WO/2015/128946 国際出願番号: PCT/JP2014/054581
国際公開日: 03.09.2015 国際出願日: 25.02.2014
IPC:
G01N 21/65 (2006.01) ,G01N 21/17 (2006.01) ,G01N 21/35 (2014.01)
G 物理学
01
測定;試験
N
材料の化学的または物理的性質の決定による材料の調査または分析
21
光学的手段,すなわち.赤外線,可視光線または紫外線を使用することによる材料の調査または分析
62
調査される材料が励起され,それにより光を発しまたは入射光の波長に変化を生ずるシステム
63
光学的励起
65
ラマン散乱
G 物理学
01
測定;試験
N
材料の化学的または物理的性質の決定による材料の調査または分析
21
光学的手段,すなわち.赤外線,可視光線または紫外線を使用することによる材料の調査または分析
17
調査される材料の特性に応じて入射光が変調されるシステム
G 物理学
01
測定;試験
N
材料の化学的または物理的性質の決定による材料の調査または分析
21
光学的手段,すなわち.赤外線,可視光線または紫外線を使用することによる材料の調査または分析
17
調査される材料の特性に応じて入射光が変調されるシステム
25
色;スペクトル特性,すなわち2またはそれ以上の波長あるいは波長帯において材料が光に与える効果の比較
31
特定の元素または分子を特徴づける波長における材料の相対的効果の調査,例.原子吸光分光
35
赤外光を用いるもの
出願人:
オリンパス株式会社 OLYMPUS CORPORATION [JP/JP]; 東京都八王子市石川町2951番地 2951 Ishikawa-machi, Hachioji-shi, Tokyo 1928507, JP
発明者:
佐藤 亮 SATO, Akira; JP
瀧本 真一 TAKIMOTO, Shinichi; JP
代理人:
上田 邦生 UEDA, Kunio; 神奈川県横浜市西区みなとみらい2-2-1 横浜ランドマークタワー37F 37F The Landmark Tower Yokohama, 2-2-1, Minatomirai, Nishi-ku, Yokohama-shi, Kanagawa 2208137, JP
優先権情報:
発明の名称: (EN) OPTICAL SPECTRUM ANALYSIS METHOD
(FR) PROCÉDÉ D'ANALYSE DE SPECTRE OPTIQUE
(JA) 分光スペクトル解析方法
要約:
(EN) This optical spectrum analysis method involves: calculating a principal component for a plurality of degrees configuring each optical spectrum, by principal component analysis of a set of optical spectrums measured at each specimen location (S12); generating, for each degree, a principal component image in which a principal component score for each principal component is set as a value for the corresponding location (S13); extracting a distribution pattern for the principal component scores from the principal component images (S14); extracting the shape of the specimen from the shape image in which the specimen is captured (S22); extracting a principal component image in which the distribution pattern of principal component scores is correlated with the specimen shape (S31); and reconstructing each optical spectrum by using the principal components for the degrees corresponding to the degrees of the extracted principal component images (S32).
(FR) La présente invention concerne un procédé d'analyse de spectre optique qui met en oeuvre : le calcul d'une composante principale pour une pluralité de degrés configurant chaque spectre optique, par analyse de composante principale d'un ensemble de spectres optiques mesurés à chaque emplacement de spécimen (S12); la génération, pour chaque degré, d'une image de composante principale dans laquelle un score de composante principale pour chaque composante principale est définie en tant que valeur pour l'emplacement correspondant (S13); extraction d'un profil de distribution pour les scores des composantes principales à partir des images de composante principale (S14); extraction de la forme du spécimen à partir de l'image de forme dans laquelle l'échantillon est capturé (S22); extraction d'une image de composante principale, dans laquelle le profil de distribution de scores de composante principale est corrélé à la forme de spécimen (S31); et reconstruction de chaque spectre optique en utilisant les composantes principales pour les degrés correspondant aux degrés des images de composante principal extraites (S32).
(JA) 本発明の分光スペクトル解析方法は、標本の各位置において測定された分光スペクトルの集合を主成分分析することにより各分光スペクトルを構成する複数の次数の主成分を算出し(S12)、各主成分の主成分スコアを対応する位置の値とした主成分画像を各次数について作成し(S13)、各主成分画像から主成分スコアの分布パターンを抽出し(S14)、標本を撮影した形態画像から標本の形態を抽出し(S22)、主成分スコアの分布パターンが標本の形態と相関している主成分画像を抽出し(S31)、抽出された主成分画像の次数と対応する次数の主成分を用いて各分光スペクトルを再構成する(S32)。
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指定国: AE, AG, AL, AM, AO, AT, AU, AZ, BA, BB, BG, BH, BN, BR, BW, BY, BZ, CA, CH, CL, CN, CO, CR, CU, CZ, DE, DK, DM, DO, DZ, EC, EE, EG, ES, FI, GB, GD, GE, GH, GM, GT, HN, HR, HU, ID, IL, IN, IR, IS, JP, KE, KG, KN, KP, KR, KZ, LA, LC, LK, LR, LS, LT, LU, LY, MA, MD, ME, MG, MK, MN, MW, MX, MY, MZ, NA, NG, NI, NO, NZ, OM, PA, PE, PG, PH, PL, PT, QA, RO, RS, RU, RW, SA, SC, SD, SE, SG, SK, SL, SM, ST, SV, SY, TH, TJ, TM, TN, TR, TT, TZ, UA, UG, US, UZ, VC, VN, ZA, ZM, ZW
アフリカ広域知的所有権機関(ARIPO) (BW, GH, GM, KE, LR, LS, MW, MZ, NA, RW, SD, SL, SZ, TZ, UG, ZM, ZW)
ユーラシア特許庁(EAPO) (AM, AZ, BY, KG, KZ, RU, TJ, TM)
欧州特許庁(EPO) (AL, AT, BE, BG, CH, CY, CZ, DE, DK, EE, ES, FI, FR, GB, GR, HR, HU, IE, IS, IT, LT, LU, LV, MC, MK, MT, NL, NO, PL, PT, RO, RS, SE, SI, SK, SM, TR)
アフリカ知的所有権機関(OAPI) (BF, BJ, CF, CG, CI, CM, GA, GN, GQ, GW, KM, ML, MR, NE, SN, TD, TG)
国際公開言語: 日本語 (JA)
国際出願言語: 日本語 (JA)