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1. (WO2015064704) 表面プラズモン共鳴蛍光分析方法および表面プラズモン共鳴蛍光分析装置
国際事務局に記録されている最新の書誌情報   

Translation翻訳: 原文 > 日本語
国際公開番号:    WO/2015/064704    国際出願番号:    PCT/JP2014/078932
国際公開日: 07.05.2015 国際出願日: 30.10.2014
IPC:
G01N 21/64 (2006.01), G01N 21/03 (2006.01), G01N 21/41 (2006.01)
出願人: KONICA MINOLTA, INC. [JP/JP]; 2-7-2, Marunouchi, Chiyoda-ku, Tokyo 1007015 (JP)
発明者: NODA, Tetsuya; .
MATSUO, Masataka; .
HAMANO, Yoshimasa; .
HIRAYAMA, Hiroshi;
代理人: WASHIDA, Kimihito; (JP)
優先権情報:
2013-226667 31.10.2013 JP
発明の名称: (EN) SURFACE PLASMON RESONANCE FLUORESCENCE ANALYSIS METHOD AND SURFACE PLASMON RESONANCE FLUORESCENCE ANALYSIS DEVICE
(FR) PROCÉDÉ D'ANALYSE PAR FLUORESCENCE PAR RÉSONANCE PLASMONIQUE DE SURFACE ET DISPOSITIF D'ANALYSE PAR FLUORESCENCE PAR RÉSONANCE PLASMONIQUE DE SURFACE
(JA) 表面プラズモン共鳴蛍光分析方法および表面プラズモン共鳴蛍光分析装置
要約: front page image
(EN)In the present invention, excitation light is irradiated onto an analysis chip that has been placed in a chip holder, reflected light or transmitted light from the analysis chip is detected, and as a result the position information of the analysis chip is obtained. On the basis of this position information, the chip holder is moved by a conveyance stage and thereby moved to a measurement position. Excitation light is irradiated onto the analysis chip that is disposed at the measurement position, and fluorescence emitted from a fluorescent substance that marks the substance to be detected is detected.
(FR)Dans la présente invention, une lumière d'excitation est irradiée sur une puce d'analyse qui a été placée dans un support de puce, la lumière réfléchie ou la lumière transmise depuis la puce d'analyse est détectée, et, en résultat, une information sur la position de la puce d'analyse est obtenue. Sur la base de l'information de position, le support de puce est déplacé par un étage de transport et ainsi déplacé vers une position de mesure. Une lumière d'excitation est irradiée sur la puce d'analyse qui est placée dans la position de mesure, et la fluorescence émise par une substance fluorescente qui marque la substance à détecter est détectée.
(JA) チップホルダーに設置された分析チップに励起光を照射するとともに、分析チップからの反射光または透過光を検出して、分析チップの位置情報を得る。この位置情報に基づいて搬送ステージによりチップホルダーを移動させて、分析チップを測定位置に移動させる。測定位置に配置された分析チップに励起光を照射するとともに、被検出物質を標識する蛍光物質から放出された蛍光を検出する。
指定国: AE, AG, AL, AM, AO, AT, AU, AZ, BA, BB, BG, BH, BN, BR, BW, BY, BZ, CA, CH, CL, CN, CO, CR, CU, CZ, DE, DK, DM, DO, DZ, EC, EE, EG, ES, FI, GB, GD, GE, GH, GM, GT, HN, HR, HU, ID, IL, IN, IR, IS, JP, KE, KG, KN, KP, KR, KZ, LA, LC, LK, LR, LS, LU, LY, MA, MD, ME, MG, MK, MN, MW, MX, MY, MZ, NA, NG, NI, NO, NZ, OM, PA, PE, PG, PH, PL, PT, QA, RO, RS, RU, RW, SA, SC, SD, SE, SG, SK, SL, SM, ST, SV, SY, TH, TJ, TM, TN, TR, TT, TZ, UA, UG, US, UZ, VC, VN, ZA, ZM, ZW.
アフリカ広域知的所有権機関(ARIPO) (BW, GH, GM, KE, LR, LS, MW, MZ, NA, RW, SD, SL, ST, SZ, TZ, UG, ZM, ZW)
ユーラシア特許庁(EAPO) (AM, AZ, BY, KG, KZ, RU, TJ, TM)
欧州特許庁(EPO) (AL, AT, BE, BG, CH, CY, CZ, DE, DK, EE, ES, FI, FR, GB, GR, HR, HU, IE, IS, IT, LT, LU, LV, MC, MK, MT, NL, NO, PL, PT, RO, RS, SE, SI, SK, SM, TR)
アフリカ知的所有権機関(OAPI) (BF, BJ, CF, CG, CI, CM, GA, GN, GQ, GW, KM, ML, MR, NE, SN, TD, TG).
国際公開言語: Japanese (JA)
国際出願言語: Japanese (JA)