WIPO logo
Mobile | Deutsch | English | Español | Français | 한국어 | Português | Русский | 中文 | العربية |
PATENTSCOPE

国際・国内特許データベース検索
World Intellectual Property Organization
検索
 
閲覧
 
翻訳
 
オプション
 
最新情報
 
ログイン
 
ヘルプ
 
自動翻訳
1. (WO2015064363) 接触角測定方法、接触角測定装置、生体補綴部材検査装置、プログラム、および、記憶媒体
国際事務局に記録されている最新の書誌情報   

国際公開番号: WO/2015/064363 国際出願番号: PCT/JP2014/077439
国際公開日: 07.05.2015 国際出願日: 15.10.2014
IPC:
G01N 13/02 (2006.01)
出願人: KYOCERA MEDICAL CORPORATION[JP/JP]; 3-3-31 Miyahara, Yodogawa-ku, Osaka-shi, Osaka 5320003, JP
発明者: TAKESHITA,Yohei; JP
MURANAKA,Akio; JP
UTSUMI,Kiyotaka; JP
代理人: ONEDEE IP PARTNERS; Shin-Osaka Center Bldg., 1-4, Miyahara 4-chome, Yodogawa-ku, Osaka-shi, Osaka 5320003, JP
優先権情報:
2013-22553830.10.2013JP
発明の名称: (EN) CONTACT-ANGLE MEASUREMENT METHOD, CONTACT-ANGLE MEASUREMENT DEVICE, BIOPROSTHETIC-MEMBER INSPECTION DEVICE, PROGRAM, AND STORAGE MEDIUM
(FR) PROCÉDÉ DE MESURE D'ANGLE DE CONTACT, DISPOSITIF DE MESURE D'ANGLE DE CONTACT, DISPOSITIF D'INSPECTION D'ÉLÉMENT BIOPROTHÉTIQUE, PROGRAMME ET SUPPORT D'INFORMATIONS
(JA) 接触角測定方法、接触角測定装置、生体補綴部材検査装置、プログラム、および、記憶媒体
要約: front page image
(EN) This invention measures a contact angle on a sample curved surface more accurately. This contact-angle measurement method is used to measure the contact angle (γ) between a sample curved surface (104) and a liquid droplet (2) supplied thereto. Said method includes the following steps: an apparent-contact-angle computation step in which an apparent contact angle (α) for the liquid droplet (2) is computed using a captured image of the sample curved surface (104) and the liquid droplet (2) supplied thereto; an inclination-angle computation step in which the captured image is used to compute the inclination angle (β) of the sample curved surface (104) at the outside edge (2a) of the contact area between the sample curved surface (104) and the liquid droplet (2); and a contact-angle computation step in which said inclination angle (β) is used to correct the abovementioned apparent contact angle (α) so as to compute the abovementioned contact angle (γ).
(FR) L'invention mesure de façon plus précise un angle de contact sur une surface incurvée d'échantillon Le procédé de mesure d'angle de contact est utilisé pour mesurer l'angle de contact (γ) entre une surface incurvée d'échantillon (104) et une gouttelette de liquide (2) fournie sur cette dernière. Ledit procédé comprend les étapes suivantes : une étape de calcul d'angle de contact apparent, dans laquelle un angle de contact apparent (α) pour la gouttelette de liquide (2) est calculé à l'aide d'une image capturée de la surface incurvée d'échantillon (104) et de la gouttelette de liquide (2) fournie sur cette dernière ; une étape de calcul d'angle d'inclinaison, dans laquelle l'image capturée est utilisée pour calculer l'angle d'inclinaison (β) de la surface incurvée d'échantillon (104) au niveau du bord extérieur (2a) de la région de contact entre la surface incurvée d'échantillon (104) et la gouttelette de liquide (2) ; et une étape de calcul d'angle de contact, dans laquelle ledit angle d'inclinaison (β) est utilisé pour corriger l'angle de contact apparent mentionné ci-dessus (α) de façon à calculer l'angle de contact mentionné ci-dessus (γ).
(JA)  試料曲面における接触角をより正確に測定する。 接触角測定方法は、試料曲面104に供給された液滴2と、試料曲面104との接触角γを測定する接触角測定方法である。この方法は、液滴2の見かけの接触角αを、試料曲面104に供給された液滴2および試料曲面104の撮影画像を用いて算出する、見かけの接触角算出ステップと、撮影画像を用いて、液滴2と試料曲面104との接触部における外周縁部2aでの試料曲面104の傾斜角βを算出する、傾斜角算出ステップと、傾斜角βを用いて見かけの接触角αを補正することで接触角γを算出する、接触角算出ステップと、を含んでいる。
指定国: AE, AG, AL, AM, AO, AT, AU, AZ, BA, BB, BG, BH, BN, BR, BW, BY, BZ, CA, CH, CL, CN, CO, CR, CU, CZ, DE, DK, DM, DO, DZ, EC, EE, EG, ES, FI, GB, GD, GE, GH, GM, GT, HN, HR, HU, ID, IL, IN, IR, IS, KE, KG, KN, KP, KR, KZ, LA, LC, LK, LR, LS, LU, LY, MA, MD, ME, MG, MK, MN, MW, MX, MY, MZ, NA, NG, NI, NO, NZ, OM, PA, PE, PG, PH, PL, PT, QA, RO, RS, RU, RW, SA, SC, SD, SE, SG, SK, SL, SM, ST, SV, SY, TH, TJ, TM, TN, TR, TT, TZ, UA, UG, US, UZ, VC, VN, ZA, ZM, ZW
アフリカ広域知的所有権機関(ARIPO) (BW, GH, GM, KE, LR, LS, MW, MZ, NA, RW, SD, SL, ST, SZ, TZ, UG, ZM, ZW)
ユーラシア特許庁(EAPO) (AM, AZ, BY, KG, KZ, RU, TJ, TM)
欧州特許庁(EPO) (AL, AT, BE, BG, CH, CY, CZ, DE, DK, EE, ES, FI, FR, GB, GR, HR, HU, IE, IS, IT, LT, LU, LV, MC, MK, MT, NL, NO, PL, PT, RO, RS, SE, SI, SK, SM, TR)
アフリカ知的所有権機関(OAPI) (BF, BJ, CF, CG, CI, CM, GA, GN, GQ, GW, KM, ML, MR, NE, SN, TD, TG)
国際公開言語: 日本語 (JA)
国際出願言語: 日本語 (JA)