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1. WO2015025703 - 欠陥検査装置、光学部材の製造システム及び光学表示デバイスの生産システム

公開番号 WO/2015/025703
公開日 26.02.2015
国際出願番号 PCT/JP2014/070546
国際出願日 05.08.2014
IPC
G01N 21/892 2006.01
G物理学
01測定;試験
N材料の化学的または物理的性質の決定による材料の調査または分析
21光学的手段,すなわち,赤外線,可視光線または紫外線を使用することによる材料の調査または分析
84特殊な応用に特に適合したシステム
88きず,欠陥,または汚れの存在の調査
89動いている材料,例.紙・織物,の中の
892調査されるきず,欠陥,または対象物の特質に特徴付けられるもの
G01N 21/88 2006.01
G物理学
01測定;試験
N材料の化学的または物理的性質の決定による材料の調査または分析
21光学的手段,すなわち,赤外線,可視光線または紫外線を使用することによる材料の調査または分析
84特殊な応用に特に適合したシステム
88きず,欠陥,または汚れの存在の調査
G01N 21/896 2006.01
G物理学
01測定;試験
N材料の化学的または物理的性質の決定による材料の調査または分析
21光学的手段,すなわち,赤外線,可視光線または紫外線を使用することによる材料の調査または分析
84特殊な応用に特に適合したシステム
88きず,欠陥,または汚れの存在の調査
89動いている材料,例.紙・織物,の中の
892調査されるきず,欠陥,または対象物の特質に特徴付けられるもの
896透明材料の内部または表面の光学的欠陥,例.歪・表面のきず
G02B 5/30 2006.01
G物理学
02光学
B光学要素,光学系,または光学装置
5レンズ以外の光学要素
30偏光要素
G02F 1/13 2006.01
G物理学
02光学
F光の強度,色,位相,偏光または方向の制御,例.スイッチング,ゲーテイング,変調または復調のための装置または配置の媒体の光学的性質の変化により,光学的作用が変化する装置または配置;そのための技法または手順;周波数変換;非線形光学;光学的論理素子;光学的アナログ/デジタル変換器
1独立の光源から到達する光の強度,色,位相,偏光または方向の制御のための装置または配置,例.スィッチング,ゲーテイングまたは変調;非線形光学
01強度,位相,偏光または色の制御のためのもの
13液晶に基づいたもの,例.単一の液晶表示セル
G02F 1/1335 2006.01
G物理学
02光学
F光の強度,色,位相,偏光または方向の制御,例.スイッチング,ゲーテイング,変調または復調のための装置または配置の媒体の光学的性質の変化により,光学的作用が変化する装置または配置;そのための技法または手順;周波数変換;非線形光学;光学的論理素子;光学的アナログ/デジタル変換器
1独立の光源から到達する光の強度,色,位相,偏光または方向の制御のための装置または配置,例.スィッチング,ゲーテイングまたは変調;非線形光学
01強度,位相,偏光または色の制御のためのもの
13液晶に基づいたもの,例.単一の液晶表示セル
133構造配置;液晶セルの作動;回路配置
1333構造配置
1335セルと光学部材,例.偏光子または反射鏡,との構造的組合せ
CPC
G01N 21/8901
GPHYSICS
01MEASURING; TESTING
NINVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
21Investigating or analysing materials by the use of optical means, i.e. using infra-red, visible or ultra-violet light
84Systems specially adapted for particular applications
88Investigating the presence of flaws or contamination
89in moving material, e.g. running paper or textiles
8901Optical details; Scanning details
G01N 21/896
GPHYSICS
01MEASURING; TESTING
NINVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
21Investigating or analysing materials by the use of optical means, i.e. using infra-red, visible or ultra-violet light
84Systems specially adapted for particular applications
88Investigating the presence of flaws or contamination
89in moving material, e.g. running paper or textiles
892characterised by the flaw, defect or object feature examined
896Optical defects in or on transparent materials, e.g. distortion, surface flaws ; in conveyed flat sheet or rod
G02F 1/1303
GPHYSICS
02OPTICS
FDEVICES OR ARRANGEMENTS, THE OPTICAL OPERATION OF WHICH IS MODIFIED BY CHANGING THE OPTICAL PROPERTIES OF THE MEDIUM OF THE DEVICES OR ARRANGEMENTS FOR THE CONTROL OF THE INTENSITY, COLOUR, PHASE, POLARISATION OR DIRECTION OF LIGHT, e.g. SWITCHING, GATING, MODULATING OR DEMODULATING; TECHNIQUES OR PROCEDURES FOR THE OPERATION THEREOF; FREQUENCY-CHANGING; NON-LINEAR OPTICS; OPTICAL LOGIC ELEMENTS; OPTICAL ANALOGUE/DIGITAL CONVERTERS
1Devices or arrangements for the control of the intensity, colour, phase, polarisation or direction of light arriving from an independent light source, e.g. switching, gating, or modulating; Non-linear optics
01for the control of the intensity, phase, polarisation or colour 
13based on liquid crystals, e.g. single liquid crystal display cells
1303Apparatus specially adapted to the manufacture of LCDs
G02F 1/1309
GPHYSICS
02OPTICS
FDEVICES OR ARRANGEMENTS, THE OPTICAL OPERATION OF WHICH IS MODIFIED BY CHANGING THE OPTICAL PROPERTIES OF THE MEDIUM OF THE DEVICES OR ARRANGEMENTS FOR THE CONTROL OF THE INTENSITY, COLOUR, PHASE, POLARISATION OR DIRECTION OF LIGHT, e.g. SWITCHING, GATING, MODULATING OR DEMODULATING; TECHNIQUES OR PROCEDURES FOR THE OPERATION THEREOF; FREQUENCY-CHANGING; NON-LINEAR OPTICS; OPTICAL LOGIC ELEMENTS; OPTICAL ANALOGUE/DIGITAL CONVERTERS
1Devices or arrangements for the control of the intensity, colour, phase, polarisation or direction of light arriving from an independent light source, e.g. switching, gating, or modulating; Non-linear optics
01for the control of the intensity, phase, polarisation or colour 
13based on liquid crystals, e.g. single liquid crystal display cells
1306Details
1309Repairing; Testing
G02F 1/133528
GPHYSICS
02OPTICS
FDEVICES OR ARRANGEMENTS, THE OPTICAL OPERATION OF WHICH IS MODIFIED BY CHANGING THE OPTICAL PROPERTIES OF THE MEDIUM OF THE DEVICES OR ARRANGEMENTS FOR THE CONTROL OF THE INTENSITY, COLOUR, PHASE, POLARISATION OR DIRECTION OF LIGHT, e.g. SWITCHING, GATING, MODULATING OR DEMODULATING; TECHNIQUES OR PROCEDURES FOR THE OPERATION THEREOF; FREQUENCY-CHANGING; NON-LINEAR OPTICS; OPTICAL LOGIC ELEMENTS; OPTICAL ANALOGUE/DIGITAL CONVERTERS
1Devices or arrangements for the control of the intensity, colour, phase, polarisation or direction of light arriving from an independent light source, e.g. switching, gating, or modulating; Non-linear optics
01for the control of the intensity, phase, polarisation or colour 
13based on liquid crystals, e.g. single liquid crystal display cells
133Constructional arrangements; Operation of liquid crystal cells; Circuit arrangements
1333Constructional arrangements; ; Manufacturing methods
1335Structural association of cells with optical devices, e.g. polarisers or reflectors
133528Polarisers
出願人
  • 住友化学株式会社 SUMITOMO CHEMICAL COMPANY, LIMITED [JP/JP]; 東京都中央区新川二丁目27番1号 27-1, Shinkawa 2-chome, Chuo-ku, Tokyo 1048260, JP
発明者
  • 橋口 大輔 HASHIGUCHI Daisuke; JP
  • 加集 功士 KASHU Koji; JP
代理人
  • 棚井 澄雄 TANAI Sumio; JP
優先権情報
2013-17234422.08.2013JP
公開言語 (言語コード) 日本語 (JA)
出願言語 (言語コード) 日本語 (JA)
指定国 (国コード)
発明の名称
(EN) DEFECT INSPECTION DEVICE, OPTICAL MEMBER MANUFACTURING SYSTEM, AND OPTICAL DISPLAY DEVICE PRODUCTION SYSTEM
(FR) DISPOSITIF D'INSPECTION DE DÉFAUTS, SYSTÈME DE FABRICATION D'UN ÉLÉMENT OPTIQUE, ET SYSTÈME DE PRODUCTION D'UN DISPOSITIF D'AFFICHAGE OPTIQUE
(JA) 欠陥検査装置、光学部材の製造システム及び光学表示デバイスの生産システム
要約
(EN)
A defect inspection device for an optical member including a polarizer includes a light source, an imaging device for imaging an image produced by transmitted light from the optical member, a first polarizing filter that is disposed on an optical path between the light source and the optical member and has a first absorption axis, a second polarizing filter that is disposed on an optical path between the imaging device and the optical member and has a second absorption axis, a first movement device for moving the first polarizing filter forward and backward in relation to the optical path between the light source and the optical member, and a second movement device for moving the second polarizing filter forward and backward in relation to the optical path between the imaging device and the optical member.
(FR)
La présente invention concerne un dispositif d'inspection de défauts pour un élément optique comprenant un polariseur, qui comprend une source de lumière, un dispositif d'imagerie permettant d'imager une image produite par une lumière transmise depuis l'élément optique, un premier filtre polarisant qui est disposé sur un trajet optique entre la source de lumière et l'élément optique et possède un premier axe d'absorption, un second filtre polarisant qui est disposé sur un trajet optique entre le dispositif d'imagerie et l'élément optique et possède un second axe d'absorption, un premier dispositif de mouvement permettant de déplacer le premier filtre polarisant vers l'avant et vers l'arrière en relation avec le trajet optique entre la source de lumière et l'élément optique, et un second dispositif de mouvement permettant de déplacer le second filtre polarisant vers l'avant et vers l'arrière en relation avec le trajet optique entre le dispositif d'imagerie et l'élément optique.
(JA)
 偏光子を含む光学部材の欠陥検査装置は、光源と、光学部材からの透過光による像を撮像する撮像装置と、光源と光学部材との間の光路上に配置され、第1の吸収軸を有する第1偏光フィルターと、撮像装置と光学部材との間の光路上に配置され、第2の吸収軸を有する第2偏光フィルターと、第1偏光フィルターを光源と光学部材との間の光路に向けて進退移動させる第1移動装置と、第2偏光フィルターを撮像装置と光学部材との間の光路に向けて進退移動させる第2移動装置と、を含む。
他の公開
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