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1. WO2015025378 - 試料分析方法及び試料分析装置

公開番号 WO/2015/025378
公開日 26.02.2015
国際出願番号 PCT/JP2013/072275
国際出願日 21.08.2013
IPC
G01N 27/62 2006.01
G物理学
01測定;試験
N材料の化学的または物理的性質の決定による材料の調査または分析
27電気的,電気化学的,または磁気的手段の利用による材料の調査または分析
62ガスのイオン化の調査によるもの;放電の調査によるもの,例.陰極の放射
CPC
G01N 27/62
GPHYSICS
01MEASURING; TESTING
NINVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
27Investigating or analysing materials by the use of electric, electro-chemical, or magnetic means
62by investigating the ionisation of gases; by investigating electric discharges, e.g. emission of cathode
G01N 35/0098
GPHYSICS
01MEASURING; TESTING
NINVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
35Automatic analysis not limited to methods or materials provided for in any single one of groups G01N1/00 - G01N33/00; Handling materials therefor
0098involving analyte bound to insoluble magnetic carrier, e.g. using magnetic separation
G01N 35/1095
GPHYSICS
01MEASURING; TESTING
NINVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
35Automatic analysis not limited to methods or materials provided for in any single one of groups G01N1/00 - G01N33/00; Handling materials therefor
10Devices for transferring samples ; or any liquids; to, in, or from, the analysis apparatus, e.g. suction devices, injection devices
1095for supplying the samples to flow-through analysers
H01J 49/165
HELECTRICITY
01BASIC ELECTRIC ELEMENTS
JELECTRIC DISCHARGE TUBES OR DISCHARGE LAMPS
49Particle spectrometers or separator tubes
02Details
10Ion sources; Ion guns
16using surface ionisation, e.g. field-, thermionic- or photo-emission
165Electrospray ionisation
出願人
  • 株式会社日立製作所 HITACHI, LTD. [JP/JP]; 東京都千代田区丸の内一丁目6番6号 6-6, Marunouchi 1-chome, Chiyoda-ku, Tokyo 1008280, JP
発明者
  • 橋場 周平 HASHIBA Shuhei; JP
  • 橋本 雄一郎 HASHIMOTO Yuichiro; JP
代理人
  • 平木 祐輔 HIRAKI Yusuke; 東京都港区愛宕2丁目5番1号 愛宕グリーンヒルズMORIタワー32階 Atago Green Hills MORI Tower 32F, 5-1, Atago 2-chome, Minato-ku, Tokyo 1056232, JP
優先権情報
公開言語 (言語コード) 日本語 (JA)
出願言語 (言語コード) 日本語 (JA)
指定国 (国コード)
発明の名称
(EN) SAMPLE ANALYSIS METHOD AND SAMPLE ANALYSIS DEVICE
(FR) PROCÉDÉ D'ANALYSE D'ÉCHANTILLON ET DISPOSITIF D'ANALYSE D'ÉCHANTILLON
(JA) 試料分析方法及び試料分析装置
要約
(EN)
A sample analysis device according to the present invention uses magnetic force to capture magnetic beads (8) in a mobile phase (1) that have surfaces having a specific affinity for a substance under measurement and that have bonded with the substance under measurement. Then, the sample analysis device uses magnetic force (10, 11) to move the captured magnetic beads at a high speed to the leading end of an electrospray tip (13) filled with an eluent (2). Finally, high-concentration elution of the substance under measurement from the magnetic beads (9) at the leading end of the electrospray tip is carried out using a minimal amount of eluent, and immediately thereafter, ionization is carried out under low flow rate conditions optimal for ionization so as to enhance the amount of ionization. The present invention makes it possible to achieve both highly sensitive and fast measurement of a sample. The present invention is applicable to methods and devices in which a sample that has been ionized through electrospray ionization is analyzed by a mass spectrometer.
(FR)
Un dispositif d'analyse d'échantillon selon la présente invention utilise une force magnétique pour capturer des billes (8) magnétiques dans une phase (1) mobile qui ont des surfaces ayant une affinité spécifique pour une substance soumise à une mesure et qui se sont liées à la substance soumise à une mesure. Ensuite, le dispositif d'analyse d'échantillon utilise une force (10, 11) magnétique pour déplacer les billets magnétiques capturées à haute vitesse vers l'extrémité avant d'une pointe (13) d'électronébulisation remplie d'un éluant (2). Enfin, une élution à concentration élevée de la substance soumise à une mesure des billes (9) magnétiques au niveau de l'extrémité avant de la pointe d'électronébulisation est réalisée à l'aide d'une quantité minimale d'éluant, et immédiatement après, une ionisation est réalisée sous des conditions de débit faible optimales pour une ionisation de manière à améliorer la quantité d'ionisation. La présente invention permet d'atteindre une mesure à la fois hautement sensible et rapide d'un échantillon. La présente invention est apte à être appliquée à des procédés et des dispositifs dans lesquels un échantillon qui a été ionisé par l'intermédiaire d'une ionisation à électronébulisation est analysé par un spectromètre de masse.
(JA)
 本発明の試料分析装置では、被測定物質と特異的な親和力を表面に持ち被測定物質を結合させた移動相(1)の中の磁気ビーズ(8)を磁力によって 捕捉し、次に、捕捉した磁気ビーズを溶出液(2)が充填されたエレクトロスプレーチップ(13)の先端に磁力(10)(11)の力で高速移動させる。最後に、エレクトロスプレーチップの先端にある磁気ビーズ(9)から、被測定物質を最小限の溶出液量で高濃度の溶出を行い、直後に、イオン化に最適な低流速条件でイオン化を行い、イオン化量を増大させる。 本発明によると、試料の高感度測定と高速測定を両立できる。本発明は、エレクトロスプレーイオン化法でイオン化させた試料を質量分析計で分析する方法及び装置に適用される。
国際事務局に記録されている最新の書誌情報