PATENTSCOPE は、メンテナンスのため次の日時に数時間サービスを休止します。サービス休止: 火曜日 25.01.2022 (9:00 午前 CET)
ご意見送信
設定

設定

出願の表示

1. WO2014196476 - 欠陥検査システム及びフィルムの製造装置

パーマリンク
公開番号 WO/2014/196476
公開日 11.12.2014
国際出願番号 PCT/JP2014/064472
国際出願日 30.05.2014
IPC
G01N 21/892 2006.1
G物理学
01測定;試験
N材料の化学的または物理的性質の決定による材料の調査または分析
21光学的手段,すなわち,赤外線,可視光線または紫外線を使用することによる材料の調査または分析
84特殊な応用に特に適合したシステム
88きず,欠陥,または汚れの存在の調査
89動いている材料,例.紙・織物,の中の
892調査されるきず,欠陥,または対象物の特質に特徴付けられるもの
G01B 11/30 2006.1
G物理学
01測定;試験
B長さ,厚さまたは同種の直線寸法の測定;角度の測定;面積の測定;表面または輪郭の不規則性の測定
11光学的手段の使用によって特徴づけられた測定装置
30表面の粗さまたは不規則性測定用
CPC
B32B 2041/04
BPERFORMING OPERATIONS; TRANSPORTING
32LAYERED PRODUCTS
BLAYERED PRODUCTS, i.e. PRODUCTS BUILT-UP OF STRATA OF FLAT OR NON-FLAT, e.g. CELLULAR OR HONEYCOMB, FORM
41Arrangements for controlling or monitoring lamination processes; Safety arrangements
04Detecting wrong registration, misalignment, deviation, failure
B32B 27/08
BPERFORMING OPERATIONS; TRANSPORTING
32LAYERED PRODUCTS
BLAYERED PRODUCTS, i.e. PRODUCTS BUILT-UP OF STRATA OF FLAT OR NON-FLAT, e.g. CELLULAR OR HONEYCOMB, FORM
27Layered products comprising ; a layer of; synthetic resin
06as the main or only constituent of a layer, ; which is; next to another layer of ; the same or of; a ; different material
08of synthetic resin
B32B 41/00
BPERFORMING OPERATIONS; TRANSPORTING
32LAYERED PRODUCTS
BLAYERED PRODUCTS, i.e. PRODUCTS BUILT-UP OF STRATA OF FLAT OR NON-FLAT, e.g. CELLULAR OR HONEYCOMB, FORM
41Arrangements for controlling or monitoring lamination processes; Safety arrangements
G01N 2021/8438
GPHYSICS
01MEASURING; TESTING
NINVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
21Investigating or analysing materials by the use of optical means, i.e. using sub-millimetre waves, infrared, visible or ultraviolet light
84Systems specially adapted for particular applications
8422Investigating thin films, e.g. matrix isolation method
8438Mutilayers
G01N 2021/8848
GPHYSICS
01MEASURING; TESTING
NINVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
21Investigating or analysing materials by the use of optical means, i.e. using sub-millimetre waves, infrared, visible or ultraviolet light
84Systems specially adapted for particular applications
88Investigating the presence of flaws or contamination
8806Specially adapted optical and illumination features
8848Polarisation of light
G01N 21/8422
GPHYSICS
01MEASURING; TESTING
NINVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
21Investigating or analysing materials by the use of optical means, i.e. using sub-millimetre waves, infrared, visible or ultraviolet light
84Systems specially adapted for particular applications
8422Investigating thin films, e.g. matrix isolation method
出願人
  • 住友化学株式会社 SUMITOMO CHEMICAL COMPANY, LIMITED [JP]/[JP]
発明者
  • 井村　圭太 IMURA Keita
代理人
  • 棚井　澄雄 TANAI Sumio
優先権情報
2013-11794704.06.2013JP
公開言語 (言語コード) 日本語 (ja)
出願言語 (言語コード) 日本語 (JA)
指定国 (国コード)
発明の名称
(EN) DEFECT INSPECTION SYSTEM AND FILM PRODUCTION APPARATUS
(FR) SYSTÈME D'INSPECTION DE DÉFAUTS, ET DISPOSITIF DE FABRICATION DE FILM
(JA) 欠陥検査システム及びフィルムの製造装置
front page image
要約
(EN) This defect inspection system includes: lamination rolls for laminating a first film and a second film to form a film; a transport line to the downstream side from the lamination rolls, for transporting the film; a defect inspection apparatus situated on the transport line; and a recording apparatus situated on the transport line to the downstream side from the defect inspection apparatus, for recording onto the film defect information relating to defects detected by the defect inspection apparatus. The defect inspection apparatus is located on the transport line to the upstream side from the roll that, apart from the lamination rolls, initially contacts the second film on the surface on the opposite side from the first film.
(FR) Le système d'inspection de défauts de l'invention contient : un rouleau de collage qui forme un film en collant un premier et un second film ; une chaîne de transport sur laquelle le film est transporté côté aval du rouleau de collage ; un dispositif d'inspection de défauts agencé sur la chaîne de transport ; et un dispositif d'enregistrement agencé sur la chaîne de transport côté aval par rapport au dispositif d'inspection, et enregistrant sur le film des informations de défauts relatives aux défauts inspectés par le dispositif d'inspection de défauts. Le dispositif d'inspection de défauts est disposé sur la chaîne de transport côté aval par rapport à un rouleau en contact en premier avec la face du second film côté opposé au premier film, à l'exclusion du rouleau de collage.
(JA) 　欠陥検査システムは、第１フィルムと第２フィルムとを貼合してフィルムを形成する貼合ロールと、貼合ロールの下流側においてフィルムが搬送される搬送ラインと、搬送ラインに設けられた欠陥検査装置と、欠陥検査装置よりも下流側の搬送ラインに設けられ、欠陥検査装置によって検出された欠陥に関する欠陥情報をフィルムに記録する記録装置と、を含み、欠陥検査装置は、貼合ロール以外で、第２フィルムの第１フィルムとは反対側の面に最初に接するロールよりも上流側の搬送ラインに配置されている。
Related patent documents
JP2014235123
CN105308441
KR1020160014630
KR1020190108655
国際事務局に記録されている最新の書誌情報
# -