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1. WO2014196476 - 欠陥検査システム及びフィルムの製造装置
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公開番号
WO/2014/196476
公開日
11.12.2014
国際出願番号
PCT/JP2014/064472
国際出願日
30.05.2014
IPC
G01N 21/892
2006.1
G
物理学
01
測定;試験
N
材料の化学的または物理的性質の決定による材料の調査または分析
21
光学的手段,すなわち,赤外線,可視光線または紫外線を使用することによる材料の調査または分析
84
特殊な応用に特に適合したシステム
88
きず,欠陥,または汚れの存在の調査
89
動いている材料,例.紙・織物,の中の
892
調査されるきず,欠陥,または対象物の特質に特徴付けられるもの
G01B 11/30
2006.1
G
物理学
01
測定;試験
B
長さ,厚さまたは同種の直線寸法の測定;角度の測定;面積の測定;表面または輪郭の不規則性の測定
11
光学的手段の使用によって特徴づけられた測定装置
30
表面の粗さまたは不規則性測定用
G01N 21/892
2006.1
G
物理学
01
測定;試験
N
材料の化学的または物理的性質の決定による材料の調査または分析
21
光学的手段,すなわち,赤外線,可視光線または紫外線を使用することによる材料の調査または分析
84
特殊な応用に特に適合したシステム
88
きず,欠陥,または汚れの存在の調査
89
動いている材料,例.紙・織物,の中の
892
調査されるきず,欠陥,または対象物の特質に特徴付けられるもの
G01B 11/30
2006.1
G
物理学
01
測定;試験
B
長さ,厚さまたは同種の直線寸法の測定;角度の測定;面積の測定;表面または輪郭の不規則性の測定
11
光学的手段の使用によって特徴づけられた測定装置
30
表面の粗さまたは不規則性測定用
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CPC
B32B 2041/04
B
PERFORMING OPERATIONS; TRANSPORTING
32
LAYERED PRODUCTS
B
LAYERED PRODUCTS, i.e. PRODUCTS BUILT-UP OF STRATA OF FLAT OR NON-FLAT, e.g. CELLULAR OR HONEYCOMB, FORM
41
Arrangements for controlling or monitoring lamination processes; Safety arrangements
04
Detecting wrong registration, misalignment, deviation, failure
B32B 27/08
B
PERFORMING OPERATIONS; TRANSPORTING
32
LAYERED PRODUCTS
B
LAYERED PRODUCTS, i.e. PRODUCTS BUILT-UP OF STRATA OF FLAT OR NON-FLAT, e.g. CELLULAR OR HONEYCOMB, FORM
27
Layered products comprising ; a layer of; synthetic resin
06
as the main or only constituent of a layer, ; which is; next to another layer of ; the same or of; a ; different material
08
of synthetic resin
B32B 41/00
B
PERFORMING OPERATIONS; TRANSPORTING
32
LAYERED PRODUCTS
B
LAYERED PRODUCTS, i.e. PRODUCTS BUILT-UP OF STRATA OF FLAT OR NON-FLAT, e.g. CELLULAR OR HONEYCOMB, FORM
41
Arrangements for controlling or monitoring lamination processes; Safety arrangements
G01N 2021/8438
G
PHYSICS
01
MEASURING; TESTING
N
INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
21
Investigating or analysing materials by the use of optical means, i.e. using sub-millimetre waves, infrared, visible or ultraviolet light
84
Systems specially adapted for particular applications
8422
Investigating thin films, e.g. matrix isolation method
8438
Mutilayers
G01N 2021/8848
G
PHYSICS
01
MEASURING; TESTING
N
INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
21
Investigating or analysing materials by the use of optical means, i.e. using sub-millimetre waves, infrared, visible or ultraviolet light
84
Systems specially adapted for particular applications
88
Investigating the presence of flaws or contamination
8806
Specially adapted optical and illumination features
8848
Polarisation of light
G01N 21/8422
G
PHYSICS
01
MEASURING; TESTING
N
INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
21
Investigating or analysing materials by the use of optical means, i.e. using sub-millimetre waves, infrared, visible or ultraviolet light
84
Systems specially adapted for particular applications
8422
Investigating thin films, e.g. matrix isolation method
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B32B 2041/04
B
PERFORMING OPERATIONS; TRANSPORTING
32
LAYERED PRODUCTS
B
LAYERED PRODUCTS, i.e. PRODUCTS BUILT-UP OF STRATA OF FLAT OR NON-FLAT, e.g. CELLULAR OR HONEYCOMB, FORM
41
Arrangements for controlling or monitoring lamination processes; Safety arrangements
04
Detecting wrong registration, misalignment, deviation, failure
B32B 27/08
B
PERFORMING OPERATIONS; TRANSPORTING
32
LAYERED PRODUCTS
B
LAYERED PRODUCTS, i.e. PRODUCTS BUILT-UP OF STRATA OF FLAT OR NON-FLAT, e.g. CELLULAR OR HONEYCOMB, FORM
27
Layered products comprising ; a layer of; synthetic resin
06
as the main or only constituent of a layer, ; which is; next to another layer of ; the same or of; a ; different material
08
of synthetic resin
B32B 41/00
B
PERFORMING OPERATIONS; TRANSPORTING
32
LAYERED PRODUCTS
B
LAYERED PRODUCTS, i.e. PRODUCTS BUILT-UP OF STRATA OF FLAT OR NON-FLAT, e.g. CELLULAR OR HONEYCOMB, FORM
41
Arrangements for controlling or monitoring lamination processes; Safety arrangements
G01N 2021/8438
G
PHYSICS
01
MEASURING; TESTING
N
INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
21
Investigating or analysing materials by the use of optical means, i.e. using sub-millimetre waves, infrared, visible or ultraviolet light
84
Systems specially adapted for particular applications
8422
Investigating thin films, e.g. matrix isolation method
8438
Mutilayers
G01N 2021/8848
G
PHYSICS
01
MEASURING; TESTING
N
INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
21
Investigating or analysing materials by the use of optical means, i.e. using sub-millimetre waves, infrared, visible or ultraviolet light
84
Systems specially adapted for particular applications
88
Investigating the presence of flaws or contamination
8806
Specially adapted optical and illumination features
8848
Polarisation of light
G01N 21/8422
G
PHYSICS
01
MEASURING; TESTING
N
INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
21
Investigating or analysing materials by the use of optical means, i.e. using sub-millimetre waves, infrared, visible or ultraviolet light
84
Systems specially adapted for particular applications
8422
Investigating thin films, e.g. matrix isolation method
G01N 21/8901
G
PHYSICS
01
MEASURING; TESTING
N
INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
21
Investigating or analysing materials by the use of optical means, i.e. using sub-millimetre waves, infrared, visible or ultraviolet light
84
Systems specially adapted for particular applications
88
Investigating the presence of flaws or contamination
89
in moving material, e.g. running paper or textiles
8901
Optical details; Scanning details
G01N 21/8914
G
PHYSICS
01
MEASURING; TESTING
N
INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
21
Investigating or analysing materials by the use of optical means, i.e. using sub-millimetre waves, infrared, visible or ultraviolet light
84
Systems specially adapted for particular applications
88
Investigating the presence of flaws or contamination
89
in moving material, e.g. running paper or textiles
8914
characterised by the material examined
G01N 21/896
G
PHYSICS
01
MEASURING; TESTING
N
INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
21
Investigating or analysing materials by the use of optical means, i.e. using sub-millimetre waves, infrared, visible or ultraviolet light
84
Systems specially adapted for particular applications
88
Investigating the presence of flaws or contamination
89
in moving material, e.g. running paper or textiles
892
characterised by the flaw, defect or object feature examined
896
Optical defects in or on transparent materials, e.g. distortion, surface flaws ; in conveyed flat sheet or rod
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出願人
住友化学株式会社 SUMITOMO CHEMICAL COMPANY, LIMITED
[JP]/[JP]
発明者
井村 圭太 IMURA Keita
代理人
棚井 澄雄 TANAI Sumio
優先権情報
2013-117947
04.06.2013
JP
公開言語 (言語コード)
日本語 (ja)
出願言語 (言語コード)
日本語 (JA)
指定国 (国コード)
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AE, AG, AL, AM, AO, AT, AU, AZ, BA, BB, BG, BH, BN, BR, BW, BY, BZ, CA, CH, CL, CN, CO, CR, CU, CZ, DE, DK, DM, DO, DZ, EC, EE, EG, ES, FI, GB, GD, GE, GH, GM, GT, HN, HR, HU, ID, IL, IN, IR, IS, KE, KG, KN, KP, KR, KZ, LA, LC, LK, LR, LS, LT, LU, LY, MA, MD, ME, MG, MK, MN, MW, MX, MY, MZ, NA, NG, NI, NO, NZ, OM, PA, PE, PG, PH, PL, PT, QA, RO, RS, RU, RW, SA, SC, SD, SE, SG, SK, SL, SM, ST, SV, SY, TH, TJ, TM, TN, TR, TT, TZ, UA, UG, US, UZ, VC, VN, ZA, ZM, ZW
アフリカ広域知的所有権機関 (ARIPO) (BW, GH, GM, KE, LR, LS, MW, MZ, NA, RW, SD, SL, SZ, TZ, UG, ZM, ZW)
ユーラシア特許庁(EAPO) (AM, AZ, BY, KG, KZ, RU, TJ, TM)
欧州特許庁(EPO) (AL, AT, BE, BG, CH, CY, CZ, DE, DK, EE, ES, FI, FR, GB, GR, HR, HU, IE, IS, IT, LT, LU, LV, MC, MK, MT, NL, NO, PL, PT, RO, RS, SE, SI, SK, SM, TR)
アフリカ知的所有権機関(OAPI) (BF, BJ, CF, CG, CI, CM, GA, GN, GQ, GW, KM, ML, MR, NE, SN, TD, TG)
すべて非表示
発明の名称
(EN)
DEFECT INSPECTION SYSTEM AND FILM PRODUCTION APPARATUS
(FR)
SYSTÈME D'INSPECTION DE DÉFAUTS, ET DISPOSITIF DE FABRICATION DE FILM
(JA)
欠陥検査システム及びフィルムの製造装置
要約
(EN)
This defect inspection system includes: lamination rolls for laminating a first film and a second film to form a film; a transport line to the downstream side from the lamination rolls, for transporting the film; a defect inspection apparatus situated on the transport line; and a recording apparatus situated on the transport line to the downstream side from the defect inspection apparatus, for recording onto the film defect information relating to defects detected by the defect inspection apparatus. The defect inspection apparatus is located on the transport line to the upstream side from the roll that, apart from the lamination rolls, initially contacts the second film on the surface on the opposite side from the first film.
(FR)
Le système d'inspection de défauts de l'invention contient : un rouleau de collage qui forme un film en collant un premier et un second film ; une chaîne de transport sur laquelle le film est transporté côté aval du rouleau de collage ; un dispositif d'inspection de défauts agencé sur la chaîne de transport ; et un dispositif d'enregistrement agencé sur la chaîne de transport côté aval par rapport au dispositif d'inspection, et enregistrant sur le film des informations de défauts relatives aux défauts inspectés par le dispositif d'inspection de défauts. Le dispositif d'inspection de défauts est disposé sur la chaîne de transport côté aval par rapport à un rouleau en contact en premier avec la face du second film côté opposé au premier film, à l'exclusion du rouleau de collage.
(JA)
欠陥検査システムは、第1フィルムと第2フィルムとを貼合してフィルムを形成する貼合ロールと、貼合ロールの下流側においてフィルムが搬送される搬送ラインと、搬送ラインに設けられた欠陥検査装置と、欠陥検査装置よりも下流側の搬送ラインに設けられ、欠陥検査装置によって検出された欠陥に関する欠陥情報をフィルムに記録する記録装置と、を含み、欠陥検査装置は、貼合ロール以外で、第2フィルムの第1フィルムとは反対側の面に最初に接するロールよりも上流側の搬送ラインに配置されている。
関連特許文献
JP2014235123
CN105308441
KR1020160014630
KR1020190108655
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