WIPO logo
Mobile | Deutsch | English | Español | Français | 한국어 | Português | Русский | 中文 | العربية |
PATENTSCOPE

国際・国内特許データベース検索
World Intellectual Property Organization
検索
 
閲覧
 
翻訳
 
オプション
 
最新情報
 
ログイン
 
ヘルプ
 
自動翻訳
1. (WO2014156900) スリットランプ顕微鏡
国際事務局に記録されている最新の書誌情報   

Translation翻訳: 原文 > 日本語
国際公開番号:    WO/2014/156900    国際出願番号:    PCT/JP2014/057593
国際公開日: 02.10.2014 国際出願日: 19.03.2014
IPC:
A61B 3/12 (2006.01)
出願人: KABUSHIKI KAISHA TOPCON [JP/JP]; 75-1, Hasunuma-cho, Itabashi-ku, Tokyo 1748580 (JP)
発明者: SATO,Toshiaki; (JP).
TAKEDA,Takanori; (JP).
WATANABE,Takahiro; (JP)
代理人: MISAWA PATENT OFFICE, P.C.; Nippan Bldg., 15-8, Nishishinjuku 7-chome, Shinjuku-ku, Tokyo 1600023 (JP)
優先権情報:
2013-069567 28.03.2013 JP
発明の名称: (EN) SLIT LAMP MICROSCOPE
(FR) MICROSCOPE À LAMPE À FENTE
(JA) スリットランプ顕微鏡
要約: front page image
(EN)Provided is a slit lamp microscope whereby a coordinated control of a projection state of a slit light and a projection state of a background illumination light is possible. A slit lamp microscope according to an embodiment comprises a primary illumination assembly, a background illumination assembly, an observation assembly, and a control assembly. The primary illumination assembly further comprises a first light source unit which outputs a first light, and a slit forming part which forms a variable-width slit, and illuminates a subject eye with the first light which passes through the slit. The background illumination assembly further comprises a second light source unit which outputs a second light, and illuminates, with the second light, a peripheral region of the projection region of the first light with respect to the subject eye. The observation assembly further comprises an eyepiece, an image capture device, and an optical element group which guides reflected light of the first light and reflected light of the second light from the subject eye to the eyepiece and the image capture device. The control unit controls the primary illumination assembly and the second light source unit in coordination.
(FR)L'invention concerne un microscope à lampe à fente, au moyen duquel une commande coordonnée d'un état de projection d'une lumière à fente et d'un état de projection d'une lumière de rétroéclairage est possible. Un microscope à lampe à fente selon un mode de réalisation comprend un ensemble d'éclairage primaire, un ensemble de rétroéclairage, un ensemble d'observation et un ensemble de commande. L'ensemble d'éclairage primaire comprend en outre une première unité de source de lumière qui délivre une première lumière, et une partie de formation de fente qui forme une fente à largeur variable, et éclaire un œil de sujet avec la première lumière qui traverse la fente. L'ensemble de rétroéclairage comprend en outre une seconde unité de source de lumière qui délivre une seconde lumière, et éclaire, avec la seconde lumière, une région périphérique de la région de projection de la première lumière par rapport à l'œil de sujet. L'ensemble d'observation comprend en outre un oculaire, un dispositif de capture d'image et un groupe d'éléments optiques qui guide la lumière réfléchie de la première lumière et la lumière réfléchie de la seconde lumière de l'œil de sujet vers l'oculaire et le dispositif de capture d'image. L'unité de commande commande l'ensemble d'éclairage primaire et la seconde unité de source de lumière en coordination.
(JA) スリット光の照射状態と背景照明光の照射状態とを連係制御することが可能なスリットランプ顕微鏡を提供する。実施形態に係るスリットランプ顕微鏡は、主照明系と、背景照明系と、観察系と、制御部とを有する。主照明系は、第1の光を出力する第1の光源部と、幅が可変なスリットを形成するスリット形成部とを含み、スリットを通過した第1の光で被検眼を照明する。背景照明系は、第2の光を出力する第2の光源部を含み、被検眼に対する第1の光の照射領域の周囲の領域を第2の光で照明する。観察系は、接眼レンズと、撮像装置と、被検眼による第1の光の反射光および第2の光の反射光を接眼レンズおよび撮像装置に導く光学素子群とを含む。制御部は、主照明系と第2の光源部とを連係制御する。
指定国: AE, AG, AL, AM, AO, AT, AU, AZ, BA, BB, BG, BH, BN, BR, BW, BY, BZ, CA, CH, CL, CN, CO, CR, CU, CZ, DE, DK, DM, DO, DZ, EC, EE, EG, ES, FI, GB, GD, GE, GH, GM, GT, HN, HR, HU, ID, IL, IN, IR, IS, KE, KG, KN, KP, KR, KZ, LA, LC, LK, LR, LS, LT, LU, LY, MA, MD, ME, MG, MK, MN, MW, MX, MY, MZ, NA, NG, NI, NO, NZ, OM, PA, PE, PG, PH, PL, PT, QA, RO, RS, RU, RW, SA, SC, SD, SE, SG, SK, SL, SM, ST, SV, SY, TH, TJ, TM, TN, TR, TT, TZ, UA, UG, US, UZ, VC, VN, ZA, ZM, ZW.
アフリカ広域知的所有権機関(ARIPO) (BW, GH, GM, KE, LR, LS, MW, MZ, NA, RW, SD, SL, SZ, TZ, UG, ZM, ZW)
ユーラシア特許庁(EAPO) (AM, AZ, BY, KG, KZ, RU, TJ, TM)
欧州特許庁(EPO) (AL, AT, BE, BG, CH, CY, CZ, DE, DK, EE, ES, FI, FR, GB, GR, HR, HU, IE, IS, IT, LT, LU, LV, MC, MK, MT, NL, NO, PL, PT, RO, RS, SE, SI, SK, SM, TR)
アフリカ知的所有権機関(OAPI) (BF, BJ, CF, CG, CI, CM, GA, GN, GQ, GW, KM, ML, MR, NE, SN, TD, TG).
国際公開言語: Japanese (JA)
国際出願言語: Japanese (JA)