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1. (WO2014129271) 自動分析装置
国際事務局に記録されている最新の書誌情報   

国際公開番号: WO/2014/129271 国際出願番号: PCT/JP2014/051878
国際公開日: 28.08.2014 国際出願日: 29.01.2014
IPC:
G01N 35/02 (2006.01)
出願人: HITACHI HIGH-TECHNOLOGIES CORPORATION[JP/JP]; 24-14, Nishi Shimbashi 1-chome, Minato-ku, Tokyo 1058717, JP
発明者: MAEDA Koshi; JP
MORISHIMA Daisuke; JP
SAKAMOTO Naoto; JP
FUJITA Hiroko; JP
代理人: INOUE Manabu; c/o HITACHI, LTD., 6-1, Marunouchi 1-chome, Chiyoda-ku, Tokyo 1008220, JP
優先権情報:
2013-03054620.02.2013JP
発明の名称: (EN) AUTOMATED ANALYZER
(FR) ANALYSEUR AUTOMATISÉ
(JA) 自動分析装置
要約: front page image
(EN) When using, in a device, a test sample that has a time restriction for being held in the device, the time limit on the use of the test sample may be exceeded due to being in testing standby status when a plurality of tests with long measurement times are ordered. To address this problem, the hold time for the test sample is calculated from the input information of the content of an order and the time the sample can be held is displayed, thereby allowing determination on when to start preparing the test sample. Furthermore, a test sample holding unit (201) is locked until a time at which the usage time limit is observed, allowing a test order button to be pressed at a time when ordering a test is possible, and the lock on the test sample holding unit (201) is released after the button is pressed, thereby preventing holding a test sample for which a user erroneously did not observe the usage time limit. Moreover, the test start time limit is displayed at the time of order, thereby allowing the time limit on the use of the test sample to be prevented from being exceeded due to the tester pressing the start button too late.
(FR) Selon la présente invention, lors de l'utilisation, dans un dispositif, d'un échantillon d'essai qui a une restriction temporelle pour être maintenu dans le dispositif, la limite temporelle sur l'utilisation de l'échantillon d'essai peut être dépassée du fait qu'il est dans un statut en veille d'essai lorsqu'une pluralité d'essais avec de longs temps de mesure sont ordonnés. Selon la présente invention, afin de traiter ce problème, le temps de maintien pour l'échantillon d'essai est calculé à partir des informations d'entrée du contenu d'un ordre et le temps pendant lequel l'échantillon peut être maintenu est affiché, autorisant ainsi une détermination sur le moment où démarrer la préparation de l'échantillon d'essai. De plus, une unité (201) de maintien d'échantillon d'essai est verrouillée jusqu'à un temps auquel la limite de temps d'utilisation est observée, autorisant un bouton d'ordre d'essai à être pressé à un temps lorsque l'ordre d'un essai est possible, et le verrou sur l'unité (201) de maintien d'échantillon d'essai est libéré après que le bouton est pressé, empêchant ainsi le maintien d'un échantillon d'essai pour lequel un utilisateur n'a pas observé de manière erronée la limite de temps d'utilisation. De plus, la limite de temps de démarrage d'essai est affichée au moment de l'ordre, autorisant ainsi la limite temporelle sur l'utilisation de l'échantillon d'essai à être empêchée d'être dépassée en raison du testeur pressant le bouton de démarrage trop tard.
(JA)  装置上での架設時間に制限のある検査試料を装置上で運用した場合は、測定時間の長い検査が多数依頼されると検査待ちの状態となり、検査試料の使用期限が切れる可能性があった。当該課題に対して、依頼内容の入力情報から検査試料の架設時間を計算し、架設可能な時間を表示することで、検査試料を準備するタイミングを測ることができる。さらに、使用期限を守れる時間まで検査試料架設部201をロックし、検査依頼可能な時間に検査依頼のボタンを押下できるようにし、押下後に検査試料架設部201のロックを解除することで、ユーザが誤って使用期限を守れない検査試料を架設することを防ぐ。また、依頼時に検査開始期限を表示することで、検査者の開始ボタン押下遅れによる検査試料の使用期限切れを防止することができる。
指定国: AE, AG, AL, AM, AO, AT, AU, AZ, BA, BB, BG, BH, BN, BR, BW, BY, BZ, CA, CH, CL, CN, CO, CR, CU, CZ, DE, DK, DM, DO, DZ, EC, EE, EG, ES, FI, GB, GD, GE, GH, GM, GT, HN, HR, HU, ID, IL, IN, IR, IS, JP, KE, KG, KN, KP, KR, KZ, LA, LC, LK, LR, LS, LT, LU, LY, MA, MD, ME, MG, MK, MN, MW, MX, MY, MZ, NA, NG, NI, NO, NZ, OM, PA, PE, PG, PH, PL, PT, QA, RO, RS, RU, RW, SA, SC, SD, SE, SG, SK, SL, SM, ST, SV, SY, TH, TJ, TM, TN, TR, TT, TZ, UA, UG, US, UZ, VC, VN, ZA, ZM, ZW
アフリカ広域知的所有権機関(ARIPO) (BW, GH, GM, KE, LR, LS, MW, MZ, NA, RW, SD, SL, SZ, TZ, UG, ZM, ZW)
ユーラシア特許庁(EAPO) (AM, AZ, BY, KG, KZ, RU, TJ, TM)
欧州特許庁(EPO) (AL, AT, BE, BG, CH, CY, CZ, DE, DK, EE, ES, FI, FR, GB, GR, HR, HU, IE, IS, IT, LT, LU, LV, MC, MK, MT, NL, NO, PL, PT, RO, RS, SE, SI, SK, SM, TR)
アフリカ知的所有権機関(OAPI) (BF, BJ, CF, CG, CI, CM, GA, GN, GQ, GW, KM, ML, MR, NE, SN, TD, TG)
国際公開言語: 日本語 (JA)
国際出願言語: 日本語 (JA)