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1. WO2014129082 - 検査装置

公開番号 WO/2014/129082
公開日 28.08.2014
国際出願番号 PCT/JP2013/084577
国際出願日 25.12.2013
IPC
G01B 11/24 2006.01
G物理学
01測定;試験
B長さ,厚さまたは同種の直線寸法の測定;角度の測定;面積の測定;表面または輪郭の不規則性の測定
11光学的手段の使用によって特徴づけられた測定装置
24輪郭または曲率の測定用
G01N 21/84 2006.01
G物理学
01測定;試験
N材料の化学的または物理的性質の決定による材料の調査または分析
21光学的手段,すなわち,赤外線,可視光線または紫外線を使用することによる材料の調査または分析
84特殊な応用に特に適合したシステム
CPC
G01N 21/8901
GPHYSICS
01MEASURING; TESTING
NINVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
21Investigating or analysing materials by the use of optical means, i.e. using sub-millimetre waves, infrared, visible or ultraviolet light
84Systems specially adapted for particular applications
88Investigating the presence of flaws or contamination
89in moving material, e.g. running paper or textiles
8901Optical details; Scanning details
出願人
  • 第一実業ビスウィル株式会社 DAIICHI JITSUGYO VISWILL CO., LTD. [JP]/[JP]
発明者
  • 佐々木 浩一 SASAKI, Koichi
  • 松田 晋也 MATSUDA, Shinya
  • 加藤 秋久 KATO, Akihisa
代理人
  • 村上 智司 MURAKAMI, Satoshi
優先権情報
2013-03076620.02.2013JP
公開言語 (言語コード) 日本語 (JA)
出願言語 (言語コード) 日本語 (JA)
指定国 (国コード)
発明の名称
(EN) INSPECTION DEVICE
(FR) DISPOSITIF D'INSPECTION
(JA) 検査装置
要約
(EN)
This inspection device (1) is provided with a conveyance mechanism (2) for conveying a conveyed object (W), a first illumination mechanism (5) for illuminating an inspected surface (Wa) of an inspected object (W) conveyed by the conveyance mechanism (2) at an inspection point (P), and an imaging camera (4) for imaging the inspected surface (Wa). The first illumination mechanism (5) is provided with a plurality of light emitters (12, 20) for illuminating the inspected surface (Wa), and supports (6, 13) for supporting the light emitters (12, 20), and the support (13) supports the light emitter (20) that is closest to a conveyance path at a point in front or to the rear of a group of other light emitters (12) in the direction of conveyance of the conveyed object (W), at a position separated from the inspection position (P). Between the separated light emitter (20) and the group of other light emitters (12), a space (18) is formed whereby the inspected surface (Wa) can be observed from a back surface on a reverse side from the inspection position (P), and the imaging camera (4) images the inspected surface (Wa) through the space (18).
(FR)
L'invention porte sur un dispositif d'inspection (1), lequel dispositif comporte un mécanisme de transport (2) pour transporter un objet transporté (W), un premier mécanisme d'éclairage (5) pour éclairer une surface inspectée (Wa) d'un objet inspecté (W) transporté par le mécanisme de transport (2) en un point d'inspection (P), et une caméra de réalisation d'image (4) pour réaliser une image de la surface inspectée (Wa). Le premier mécanisme d'éclairage (5) est pourvu d'une pluralité d'émetteurs de lumière (12, 20) pour éclairer la surface inspectée (Wa), et des supports (6, 13) pour soutenir les émetteurs de lumière (12, 20), et le support (13) soutient l'émetteur de lumière (20) qui est le plus proche d'une trajectoire de transport en un point à l'avant ou à l'arrière d'un groupe d'autres émetteurs de lumière (12) dans la direction de transport de l'objet transporté (W), en une position séparée vis-à-vis de la position d'inspection (P). Entre l'émetteur de lumière séparé (20) et le groupe d'autres émetteurs de lumière (12), un espace (18) est formé, ce par quoi la surface inspectée (Wa) peut être observée à partir d'une surface arrière sur un côté inverse vis-à-vis de la position d'inspection (P), et la caméra de réalisation d'image (4) réalise une image de la surface inspectée (Wa) à travers l'espace (18).
(JA)
 この検査装置1は、被搬送物Wを搬送する搬送機構2と、検査位置Pにおいて、搬送機構2によって搬送される被検査物Wの被検査面Waを照明する第1 の照明機構5と、被検査面Waを撮像する撮像カメラ4とを備える。第1 の照明機構5は、被検査面Waを照明する複数の発光器12,20と、この発光器12,20を支持する支持体6,13とを備え、支持体13は、搬送路に最も近い発光器20を、他の一群の発光器12よりも検査位置Pから離隔した位置である被搬送物Wの搬送方向の前側または後側で支持する。離隔した発光器20と他の一群の発光器12との間に、検査位置Pとは反対側の背面から被検査面Waを観察できる空間18が形成され、撮像カメラ4は、この空間18を通して被検査面Waを撮像する。
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