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1. (WO2014128821) パターン位置検出方法、パターン位置検出システム及びこれらを用いた画質調整技術
国際事務局に記録されている最新の書誌情報   

Translation翻訳: 原文 > 日本語
国際公開番号:    WO/2014/128821    国際出願番号:    PCT/JP2013/053918
国際公開日: 28.08.2014 国際出願日: 19.02.2013
IPC:
H04N 9/30 (2006.01), G09G 5/00 (2006.01), G09G 5/02 (2006.01), G09G 5/10 (2006.01)
出願人: IIX INC. [JP/JP]; 2-7-12, Nishigotanda, Shinagawa-ku Tokyo 1410031 (JP)
発明者: MURASE Hiroshi; (JP).
IMOTO Masayoshi; (JP)
代理人: MATSUDA Junichi; MATSUDA & PARTNERS, Asahi Seimei Otemachi Bldg. 7F, 2-6-1, Otemachi, Chiyoda-ku, Tokyo 1000004 (JP)
優先権情報:
発明の名称: (EN) PATTERN POSITION DETECTION METHOD, PATTERN POSITION DETECTION SYSTEM, AND IMAGE QUALITY ADJUSTMENT TECHNIQUE USING PATTERN POSITION DETECTION METHOD AND PATTERN POSITION DETECTION SYSTEM
(FR) PROCÉDÉ DE DÉTECTION DE POSITION DE MOTIF, SYSTÈME DE DÉTECTION DE POSITION DE MOTIF, ET PROCÉDÉ D'AJUSTEMENT DE QUALITÉ D'IMAGE UTILISANT LE PROCÉDÉ DE DÉTECTION DE POSITION DE MOTIF ET LE SYSTÈME DE DÉTECTION DE POSITION DE MOTIF
(JA) パターン位置検出方法、パターン位置検出システム及びこれらを用いた画質調整技術
要約: front page image
(EN)[Problem] To provide a pattern position detection method that enables the position of an alignment pattern to be detected in a highly-precise manner. [Solution] In this pattern position detection method, a pattern is displayed on a liquid crystal panel (2) and captured by a camera (3), and a black image is displayed on the liquid crystal panel (2) and is captured by the camera (3) at the same shutter speed or F-value used when the pattern was captured; and the position of an image of the pattern on the imaging area of the camera (3) is detected on the basis of the differences between the captured image of the pattern and the captured image of the black image.
(FR)L'invention vise à fournir un procédé de détection de position de motif qui permette de détecter la position d'un motif d'alignement de façon extrêmement précise. Dans ce procédé de détection de position de motif, un motif est affiché sur un panneau à cristaux liquides (2) et capturé par un appareil photo (3). Une image noire est affichée sur le panneau à cristaux liquides (2) et capturée par l'appareil photo (3) à la même vitesse d'obturation, ou valeur F, que celle utilisée lors de la capture du motif. La position d'une image du motif dans la zone de formation d'image de l'appareil photo (3) est détectée sur la base des différences entre l'image capturée du motif et l'image capturée de l'image noire.
(JA)【課題】 位置合わせ用のパターンの位置を高精度に検出することができるパターン位置検出方法を提供する。 【解決手段】 本発明に係るパターン位置検出方法では、液晶パネル2にパターンを表示させてカメラ3により撮像するとともに、液晶パネル2に黒色画像を表示させてパターンの撮像時と同一のシャッタースピード又はF値でカメラ3により撮像し、パターンの撮像画像と黒色画像の撮像画像との差分に基づいて、カメラ3の撮像面上におけるパターンの像の位置を検出する。
指定国: AE, AG, AL, AM, AO, AT, AU, AZ, BA, BB, BG, BH, BN, BR, BW, BY, BZ, CA, CH, CL, CN, CO, CR, CU, CZ, DE, DK, DM, DO, DZ, EC, EE, EG, ES, FI, GB, GD, GE, GH, GM, GT, HN, HR, HU, ID, IL, IN, IS, JP, KE, KG, KM, KN, KP, KR, KZ, LA, LC, LK, LR, LS, LT, LU, LY, MA, MD, ME, MG, MK, MN, MW, MX, MY, MZ, NA, NG, NI, NO, NZ, OM, PA, PE, PG, PH, PL, PT, QA, RO, RS, RU, RW, SC, SD, SE, SG, SK, SL, SM, ST, SV, SY, TH, TJ, TM, TN, TR, TT, TZ, UA, UG, US, UZ, VC, VN, ZA, ZM, ZW.
アフリカ広域知的所有権機関(ARIPO) (BW, GH, GM, KE, LR, LS, MW, MZ, NA, RW, SD, SL, SZ, TZ, UG, ZM, ZW)
ユーラシア特許庁(EAPO) (AM, AZ, BY, KG, KZ, RU, TJ, TM)
欧州特許庁(EPO) (AL, AT, BE, BG, CH, CY, CZ, DE, DK, EE, ES, FI, FR, GB, GR, HR, HU, IE, IS, IT, LT, LU, LV, MC, MK, MT, NL, NO, PL, PT, RO, RS, SE, SI, SK, SM, TR)
アフリカ知的所有権機関(OAPI) (BF, BJ, CF, CG, CI, CM, GA, GN, GQ, GW, ML, MR, NE, SN, TD, TG).
国際公開言語: Japanese (JA)
国際出願言語: Japanese (JA)