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1. (WO2014126035) 比抵抗測定回路、液体試料測定セル、比抵抗測定装置、液体試料管理方法及び液体試料管理システム
国際事務局に記録されている最新の書誌情報   

Translation翻訳: 原文 > 日本語
国際公開番号:    WO/2014/126035    国際出願番号:    PCT/JP2014/053025
国際公開日: 21.08.2014 国際出願日: 10.02.2014
IPC:
G01N 27/10 (2006.01)
出願人: HORIBA ADVANCED TECHNO, CO., LTD. [JP/JP]; 31, Miyanonishi-cho, Kisshoin, Minami-ku, Kyoto-shi, Kyoto 6018306 (JP).
JX NIPPON OIL & ENERGY CORPORATION [JP/JP]; 6-3, Otemachi 2-chome, Chiyoda-ku, Tokyo 1008162 (JP)
発明者: SUZUKI, Riichiro; (JP).
SUGAWARA, Tsunetoshi; (JP).
OSHIO, Tadashi; (JP)
代理人: NISHIMURA, Ryuhei; Inter One Place Kyoto Building, 3rd Floor, 280, Makieya-cho, Nakagyo-ku, Kyoto-shi, Kyoto 6040857 (JP)
優先権情報:
2013-024789 12.02.2013 JP
2013-024790 12.02.2013 JP
2013-024791 12.02.2013 JP
発明の名称: (EN) RESISTIVITY-MEASURING CIRCUIT, CELL FOR MEASURING LIQUID SAMPLE, RESISTIVITY-MEASURING APPARATUS, LIQUID SAMPLE CONTROL METHOD AND LIQUID SAMPLE CONTROL SYSTEM
(FR) CIRCUIT DE MESURE DE RÉSISTIVITÉ, CELLULE POUR MESURE D'ÉCHANTILLON LIQUIDE, APPAREIL DE MESURE DE RÉSISTIVITÉ, PROCÉDÉ DE RÉGLAGE D'ÉCHANTILLON LIQUIDE ET SYSTÈME DE RÉGLAGE D'ÉCHANTILLON LIQUIDE
(JA) 比抵抗測定回路、液体試料測定セル、比抵抗測定装置、液体試料管理方法及び液体試料管理システム
要約: front page image
(EN)The present invention pertains to a resistivity-measuring circuit (C) which is to be used in measuring the resistivity of a liquid sample and thereby detecting the deterioration of the sample. The circuit (C) makes it possible to measure the resistivity of a liquid sample continuously with excellent accuracy while protecting the liquid sample against deterioration associated with the measurement. The deterioration is denaturation or the like. The resistivity of a liquid sample is calculated from the voltage generated between an outer electrode (21) and an inner electrode (22), wherein a square wave alternating current voltage having an amplitude of 1 to 42V and a frequency of 0.5 to 30Hz is applied between the external electrode (21) and the internal electrode (22).
(FR)La présente invention concerne un circuit (C) de mesure de résistivité qui est destiné à être utilisé dans la mesure de la résistivité d'un échantillon liquide et ainsi la détection de la détérioration de l'échantillon. Le circuit (C) permet de mesurer la résistivité d'un échantillon liquide en continu avec une précision excellente tout en protégeant l'échantillon liquide vis-à-vis d'une détérioration associée à la mesure. La détérioration est une dénaturation ou similaire. La résistivité d'un échantillon liquide est calculée à partir de la tension générée entre une électrode (21) extérieure et une électrode (22) intérieure, une tension de courant alternatif à onde carrée ayant une amplitude de 1 à 42 V et une fréquence de 0,5 à 30 Hz étant appliquée entre l'électrode (21) externe et l'électrode (22) interne.
(JA) 本発明は、液体試料の比抵抗を連続して精度良く測定できるとともに、測定に伴う液体試料の変質等の劣化を防ぐものであり、液体試料の劣化を検知するために比抵抗を測定する比抵抗測定回路Cであって、外部電極21及び内部電極22の間に生じる電圧を検出することによって、液体試料の比抵抗を算出するものであり、外部電極21及び内部電極22の間に、振幅が1V~42Vで周波数が0.5Hz~30Hzの矩形波交流電圧を印加する。
指定国: AE, AG, AL, AM, AO, AT, AU, AZ, BA, BB, BG, BH, BN, BR, BW, BY, BZ, CA, CH, CL, CN, CO, CR, CU, CZ, DE, DK, DM, DO, DZ, EC, EE, EG, ES, FI, GB, GD, GE, GH, GM, GT, HN, HR, HU, ID, IL, IN, IR, IS, KE, KG, KN, KP, KR, KZ, LA, LC, LK, LR, LS, LT, LU, LY, MA, MD, ME, MG, MK, MN, MW, MX, MY, MZ, NA, NG, NI, NO, NZ, OM, PA, PE, PG, PH, PL, PT, QA, RO, RS, RU, RW, SA, SC, SD, SE, SG, SK, SL, SM, ST, SV, SY, TH, TJ, TM, TN, TR, TT, TZ, UA, UG, US, UZ, VC, VN, ZA, ZM, ZW.
アフリカ広域知的所有権機関(ARIPO) (BW, GH, GM, KE, LR, LS, MW, MZ, NA, RW, SD, SL, SZ, TZ, UG, ZM, ZW)
ユーラシア特許庁(EAPO) (AM, AZ, BY, KG, KZ, RU, TJ, TM)
欧州特許庁(EPO) (AL, AT, BE, BG, CH, CY, CZ, DE, DK, EE, ES, FI, FR, GB, GR, HR, HU, IE, IS, IT, LT, LU, LV, MC, MK, MT, NL, NO, PL, PT, RO, RS, SE, SI, SK, SM, TR)
アフリカ知的所有権機関(OAPI) (BF, BJ, CF, CG, CI, CM, GA, GN, GQ, GW, KM, ML, MR, NE, SN, TD, TG).
国際公開言語: Japanese (JA)
国際出願言語: Japanese (JA)