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1. (WO2014125814) アルファ線観測装置、アルファ線観測システムおよびアルファ線観測方法
国際事務局に記録されている最新の書誌情報   

Translation翻訳: 原文 > 日本語
国際公開番号:    WO/2014/125814    国際出願番号:    PCT/JP2014/000720
国際公開日: 21.08.2014 国際出願日: 12.02.2014
IPC:
G01T 1/205 (2006.01), G01T 1/17 (2006.01), G01T 1/20 (2006.01)
出願人: KABUSHIKI KAISHA TOSHIBA [JP/JP]; 1-1, Shibaura 1-chome, Minato-ku, Tokyo 1058001 (JP)
発明者: KUME, Naoto; (JP).
KURODA, Hidehiko; (JP).
NAKAYAMA, Kunihiko; (JP).
TAKAKURA, Kei; (JP)
代理人: SAKURA PATENT OFFICE, P.C.; PMO KANDA TSUKASA-MACHI, 8-1, Kanda Tsukasa-machi 2-chome, Chiyoda-ku, Tokyo 1010048 (JP)
優先権情報:
2013-029059 18.02.2013 JP
発明の名称: (EN) ALPHA RAY OBSERVATION DEVICE, ALPHA RAY OBSERVATION SYSTEM, AND ALPHA RAY OBSERVATION METHOD
(FR) DISPOSITIF D'OBSERVATION DE RAYONS ALPHA, SYSTÈME D'OBSERVATION DE RAYONS ALPHA ET PROCÉDÉ D'OBSERVATION DE RAYONS ALPHA
(JA) アルファ線観測装置、アルファ線観測システムおよびアルファ線観測方法
要約: front page image
(EN)The alpha ray observation device (200), according to an embodiment, that observes alpha rays by way of detecting light caused by alpha rays in an object to be measured has: an alpha ray caused light wavelength selecting unit (1a) that can select light with wavelengths of light caused by alpha rays; an alpha ray caused light detecting unit (2a) that measures the amount of alpha ray caused light; a short-side wavelength selecting unit (1b) that can select short-side wavelength light that has a wavelength shorter than the alpha ray-caused light; a short-side wavelength light detecting unit (2b) that measures the amount of short-side wavelength light; a long-side wavelength selecting unit (1c) that can select long-side wavelength light that has a wavelength longer than the alpha ray-caused light; a long-side wavelength light detecting unit (2c) that measures the amount of long-side wavelength light; and a correcting unit (4) that calculates the amount of light after correction by correcting the amount of alpha ray-caused light.
(FR)Le dispositif (200) d'observation de rayons alpha, selon un mode de réalisation de la présente invention, qui observe des rayons alpha au moyen de la détection d'une lumière due à des rayons alpha dans un objet à mesurer a : une unité (1a) de sélection de longueur d'onde de lumière due à des rayons alpha qui peut sélectionner une lumière ayant des longueurs d'onde d'une lumière due à des rayons alpha ; une unité (2a) de détection de lumière due à des rayons alpha qui mesure la quantité de lumière due à des rayons alpha ; une unité (1b) de sélection de longueur d'onde côté court qui peut sélectionner une lumière de longueur d'onde côté court qui a une longueur d'onde plus courte que la lumière due à des rayons alpha ; une unité (2b) de détection de lumière de longueur d'onde côté court qui mesure la quantité de lumière de longueur d'onde côté court ; une unité (1c) de sélection de longueur d'onde côté long qui peut sélectionner une lumière de longueur d'onde côté long qui a une longueur d'onde plus longue que la lumière due à des rayons alpha ; une unité (2c) de détection de lumière de longueur d'onde côté long qui mesure la quantité de lumière de longueur d'onde côté long ; et une unité (4) de correction qui calcule la quantité de lumière après correction par la correction de la quantité de lumière due à des rayons alpha.
(JA)実施形態によれば、観測対象内のアルファ線起因光を検出することによりアルファ線を観測するアルファ線観測装置(200)は、アルファ線起因光の波長の光を選択可能なアルファ線起因光波長選択部(1a)と、アルファ線起因光の光量を計測するアルファ線起因光検出部(2a)と、アルファ線起因光の波長より短い短側波長の光を選択可能な短側波長選択部(1b)と、短側波長光の光量を計測する短側波長光検出部(2b)と、アルファ線起因光の波長より長い長側波長の光を選択可能な長側波長選択部(1c)と、長側波長光の光量を計測する長側波長光検出部(2c)と、アルファ線起因光の光量を補正して補正後の光量を算出する補正部(4)とを有する。
指定国: AE, AG, AL, AM, AO, AT, AU, AZ, BA, BB, BG, BH, BN, BR, BW, BY, BZ, CA, CH, CL, CN, CO, CR, CU, CZ, DE, DK, DM, DO, DZ, EC, EE, EG, ES, FI, GB, GD, GE, GH, GM, GT, HN, HR, HU, ID, IL, IN, IR, IS, KE, KG, KN, KP, KR, KZ, LA, LC, LK, LR, LS, LT, LU, LY, MA, MD, ME, MG, MK, MN, MW, MX, MY, MZ, NA, NG, NI, NO, NZ, OM, PA, PE, PG, PH, PL, PT, QA, RO, RS, RU, RW, SA, SC, SD, SE, SG, SK, SL, SM, ST, SV, SY, TH, TJ, TM, TN, TR, TT, TZ, UA, UG, US, UZ, VC, VN, ZA, ZM, ZW.
アフリカ広域知的所有権機関(ARIPO) (BW, GH, GM, KE, LR, LS, MW, MZ, NA, RW, SD, SL, SZ, TZ, UG, ZM, ZW)
ユーラシア特許庁(EAPO) (AM, AZ, BY, KG, KZ, RU, TJ, TM)
欧州特許庁(EPO) (AL, AT, BE, BG, CH, CY, CZ, DE, DK, EE, ES, FI, FR, GB, GR, HR, HU, IE, IS, IT, LT, LU, LV, MC, MK, MT, NL, NO, PL, PT, RO, RS, SE, SI, SK, SM, TR)
アフリカ知的所有権機関(OAPI) (BF, BJ, CF, CG, CI, CM, GA, GN, GQ, GW, KM, ML, MR, NE, SN, TD, TG).
国際公開言語: Japanese (JA)
国際出願言語: Japanese (JA)