処理中

しばらくお待ちください...

設定

設定

出願の表示

1. WO2014119486 - 自動分析装置

公開番号 WO/2014/119486
公開日 07.08.2014
国際出願番号 PCT/JP2014/051545
国際出願日 24.01.2014
IPC
G01N 35/02 2006.01
G物理学
01測定;試験
N材料の化学的または物理的性質の決定による材料の調査または分析
35グループG01N1/00~G01N33/00のいずれか1つに分類される方法または材料に限定されない自動分析;そのための材料の取扱い
021以上の処理位置または分析位置へコンベア系によって移動させられる多数の試料容器を用いるもの
G01N 35/10 2006.01
G物理学
01測定;試験
N材料の化学的または物理的性質の決定による材料の調査または分析
35グループG01N1/00~G01N33/00のいずれか1つに分類される方法または材料に限定されない自動分析;そのための材料の取扱い
10分析装置に,または分析装置から試料を移送するための装置,例.吸引装置,導入装置
CPC
G01N 1/14
GPHYSICS
01MEASURING; TESTING
NINVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
1Sampling; Preparing specimens for investigation
02Devices for withdrawing samples
10in the liquid or fluent state
14Suction devices, e.g. pumps; Ejector devices
G01N 2035/00316
GPHYSICS
01MEASURING; TESTING
NINVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
35Automatic analysis not limited to methods or materials provided for in any single one of groups G01N1/00 - G01N33/00; Handling materials therefor
00178Special arrangements of analysers
00306Housings, cabinets, control panels (details)
00316Detecting door closure
G01N 2035/0439
GPHYSICS
01MEASURING; TESTING
NINVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
35Automatic analysis not limited to methods or materials provided for in any single one of groups G01N1/00 - G01N33/00; Handling materials therefor
02using a plurality of sample containers moved by a conveyor system past one or more treatment or analysis stations
04Details of the conveyor system
0439Rotary sample carriers, i.e. carousels
G01N 2035/0441
GPHYSICS
01MEASURING; TESTING
NINVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
35Automatic analysis not limited to methods or materials provided for in any single one of groups G01N1/00 - G01N33/00; Handling materials therefor
02using a plurality of sample containers moved by a conveyor system past one or more treatment or analysis stations
04Details of the conveyor system
0439Rotary sample carriers, i.e. carousels
0441for samples
G01N 21/11
GPHYSICS
01MEASURING; TESTING
NINVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
21Investigating or analysing materials by the use of optical means, i.e. using sub-millimetre waves, infrared, visible or ultraviolet light
01Arrangements or apparatus for facilitating the optical investigation
11Filling or emptying of cuvettes
G01N 35/00584
GPHYSICS
01MEASURING; TESTING
NINVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
35Automatic analysis not limited to methods or materials provided for in any single one of groups G01N1/00 - G01N33/00; Handling materials therefor
00584Control arrangements for automatic analysers
出願人
  • 株式会社日立ハイテクノロジーズ HITACHI HIGH-TECHNOLOGIES CORPORATION [JP]/[JP]
発明者
  • 瀬戸丸 武 SETOMARU Takeshi
  • 石沢 雅人 ISHIZAWA Masato
  • 千葉 英康 CHIBA Hideyasu
代理人
  • 特許業務法人開知国際特許事務所 KAICHI IP
優先権情報
2013-01850301.02.2013JP
公開言語 (言語コード) 日本語 (JA)
出願言語 (言語コード) 日本語 (JA)
指定国 (国コード)
発明の名称
(EN) AUTOMATED ANALYZER
(FR) ANALYSEUR AUTOMATIQUE
(JA) 自動分析装置
要約
(EN)
Provided is an automated analyzer capable of stopping operation of a specimen sampling mechanism and a specimen container bridging mechanism even when a hand of the operator or the like is sandwiched between a probe guard and the specimen container bridging mechanism without any further pressure on the hand of the operator or the like. When an external force works on a probe guard (26) in the horizontal direction, the probe guard (26) moves in a direction to escape the external force with the center (47) of a specimen container bridging mechanism (1) as the axis, and the probe guard (26) leaves a fixed position. The external wall (29) of the probe guard (26) is on a specimen sampling mechanism track (28), and the risk that a sampling nozzle (23) of a specimen sampling mechanism (5) penetrates the specimen container bridging mechanism (1) is prevented by the external wall (29). When the probe guard (26) leaves the fixed position, that event is detected, and operations of the specimen sampling mechanism (5) and the specimen container bridging mechanism (1) are stopped.
(FR)
La présente invention concerne un analyseur automatique pouvant interrompre le fonctionnement d'un mécanisme d'échantillonnage et d'un mécanisme de pontage de récipients d'échantillons même lorsque la main de l'opérateur ou similaire est prise en sandwich entre un capot de sonde et le mécanisme de pontage de récipients d'échantillons sans autre pression sur la main de l'opérateur ou similaire. Lorsqu'une force extérieure s'exerce sur un capot de sonde (26) dans la direction horizontale, le capot de sonde (26) se déplace dans une direction afin d'échapper à la force extérieure dont l'axe est le centre (47) d'un mécanisme de pontage de récipients d'échantillons (1), et le capot de sonde (26) quitte une position fixe. La paroi externe (29) du capot de sonde (26) se trouve sur une piste de mécanisme d'échantillonnage (28), et le risque que le gicleur d'échantillonnage (23) d'un mécanisme d'échantillonnage (5) pénètre le mécanisme de pontage de récipients d'échantillons (1) est empêché par la paroi externe (29). Lorsque le capot de sonde (26) qui la position fixe, cet évènement est détecté et les opérations du mécanisme d'échantillonnage (5) et du mécanisme de pontage des récipients d'échantillons (1) sont interrompues.
(JA)
 プローブガードと検体容器架設機構との間に作業者の手等が挟まれた場合であっても、作業者の手等をさらに圧迫することなく、検体サンプリング機構及び検体容器架設機構の動作を停止させることが可能な自動分析装置が実現される。プローブガード26に水平方向に外力が働いた場合、プローブガード26は検体容器架設機構1の中心部47を軸にして外力から逃げる方向に移動し、プローブガード26は固定位置から外れる。検体サンプリング機構軌道28上にプローブガード26の外周壁29が入り込み、この外周壁29により検体容器架設機構1上に検体サンプリング機構5のサンプリングノズル23が侵入するリスクが回避される。プローブガード26が固定位置から外れた場合には、それが検知され、検体サンプリング機構5及び検体容器架設機構1の動作が停止される。
国際事務局に記録されている最新の書誌情報