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1. (WO2014119486) 自動分析装置
国際事務局に記録されている最新の書誌情報   

Translation翻訳: 原文 > 日本語
国際公開番号:    WO/2014/119486    国際出願番号:    PCT/JP2014/051545
国際公開日: 07.08.2014 国際出願日: 24.01.2014
IPC:
G01N 35/02 (2006.01), G01N 35/10 (2006.01)
出願人: HITACHI HIGH-TECHNOLOGIES CORPORATION [JP/JP]; 24-14, Nishi Shimbashi 1-chome, Minato-ku, Tokyo 1058717 (JP)
発明者: SETOMARU Takeshi; (JP).
ISHIZAWA Masato; (JP).
CHIBA Hideyasu; (JP)
代理人: KAICHI IP; 4-1, Nihonbashi-honcho 3-chome, Chuo-ku, Tokyo 1030023 (JP)
優先権情報:
2013-018503 01.02.2013 JP
発明の名称: (EN) AUTOMATED ANALYZER
(FR) ANALYSEUR AUTOMATIQUE
(JA) 自動分析装置
要約: front page image
(EN)Provided is an automated analyzer capable of stopping operation of a specimen sampling mechanism and a specimen container bridging mechanism even when a hand of the operator or the like is sandwiched between a probe guard and the specimen container bridging mechanism without any further pressure on the hand of the operator or the like. When an external force works on a probe guard (26) in the horizontal direction, the probe guard (26) moves in a direction to escape the external force with the center (47) of a specimen container bridging mechanism (1) as the axis, and the probe guard (26) leaves a fixed position. The external wall (29) of the probe guard (26) is on a specimen sampling mechanism track (28), and the risk that a sampling nozzle (23) of a specimen sampling mechanism (5) penetrates the specimen container bridging mechanism (1) is prevented by the external wall (29). When the probe guard (26) leaves the fixed position, that event is detected, and operations of the specimen sampling mechanism (5) and the specimen container bridging mechanism (1) are stopped.
(FR)La présente invention concerne un analyseur automatique pouvant interrompre le fonctionnement d'un mécanisme d'échantillonnage et d'un mécanisme de pontage de récipients d'échantillons même lorsque la main de l'opérateur ou similaire est prise en sandwich entre un capot de sonde et le mécanisme de pontage de récipients d'échantillons sans autre pression sur la main de l'opérateur ou similaire. Lorsqu'une force extérieure s'exerce sur un capot de sonde (26) dans la direction horizontale, le capot de sonde (26) se déplace dans une direction afin d'échapper à la force extérieure dont l'axe est le centre (47) d'un mécanisme de pontage de récipients d'échantillons (1), et le capot de sonde (26) quitte une position fixe. La paroi externe (29) du capot de sonde (26) se trouve sur une piste de mécanisme d'échantillonnage (28), et le risque que le gicleur d'échantillonnage (23) d'un mécanisme d'échantillonnage (5) pénètre le mécanisme de pontage de récipients d'échantillons (1) est empêché par la paroi externe (29). Lorsque le capot de sonde (26) qui la position fixe, cet évènement est détecté et les opérations du mécanisme d'échantillonnage (5) et du mécanisme de pontage des récipients d'échantillons (1) sont interrompues.
(JA) プローブガードと検体容器架設機構との間に作業者の手等が挟まれた場合であっても、作業者の手等をさらに圧迫することなく、検体サンプリング機構及び検体容器架設機構の動作を停止させることが可能な自動分析装置が実現される。プローブガード26に水平方向に外力が働いた場合、プローブガード26は検体容器架設機構1の中心部47を軸にして外力から逃げる方向に移動し、プローブガード26は固定位置から外れる。検体サンプリング機構軌道28上にプローブガード26の外周壁29が入り込み、この外周壁29により検体容器架設機構1上に検体サンプリング機構5のサンプリングノズル23が侵入するリスクが回避される。プローブガード26が固定位置から外れた場合には、それが検知され、検体サンプリング機構5及び検体容器架設機構1の動作が停止される。
指定国: AE, AG, AL, AM, AO, AT, AU, AZ, BA, BB, BG, BH, BN, BR, BW, BY, BZ, CA, CH, CL, CN, CO, CR, CU, CZ, DE, DK, DM, DO, DZ, EC, EE, EG, ES, FI, GB, GD, GE, GH, GM, GT, HN, HR, HU, ID, IL, IN, IR, IS, KE, KG, KN, KP, KR, KZ, LA, LC, LK, LR, LS, LT, LU, LY, MA, MD, ME, MG, MK, MN, MW, MX, MY, MZ, NA, NG, NI, NO, NZ, OM, PA, PE, PG, PH, PL, PT, QA, RO, RS, RU, RW, SA, SC, SD, SE, SG, SK, SL, SM, ST, SV, SY, TH, TJ, TM, TN, TR, TT, TZ, UA, UG, US, UZ, VC, VN, ZA, ZM, ZW.
アフリカ広域知的所有権機関(ARIPO) (BW, GH, GM, KE, LR, LS, MW, MZ, NA, RW, SD, SL, SZ, TZ, UG, ZM, ZW)
ユーラシア特許庁(EAPO) (AM, AZ, BY, KG, KZ, RU, TJ, TM)
欧州特許庁(EPO) (AL, AT, BE, BG, CH, CY, CZ, DE, DK, EE, ES, FI, FR, GB, GR, HR, HU, IE, IS, IT, LT, LU, LV, MC, MK, MT, NL, NO, PL, PT, RO, RS, SE, SI, SK, SM, TR)
アフリカ知的所有権機関(OAPI) (BF, BJ, CF, CG, CI, CM, GA, GN, GQ, GW, KM, ML, MR, NE, SN, TD, TG).
国際公開言語: Japanese (JA)
国際出願言語: Japanese (JA)