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1. (WO2014119037) 分光測定装置及び分光測定方法
国際事務局に記録されている最新の書誌情報   

Translation翻訳: 原文 > 日本語
国際公開番号:    WO/2014/119037    国際出願番号:    PCT/JP2013/075032
国際公開日: 07.08.2014 国際出願日: 17.09.2013
IPC:
G01N 21/64 (2006.01), G01J 3/443 (2006.01)
出願人: HAMAMATSU PHOTONICS K.K. [JP/JP]; 1126-1, Ichino-cho, Higashi-ku, Hamamatsu-shi, Shizuoka 4358558 (JP)
発明者: EURA Shigeru; (JP).
SUZUKI Kengo; (JP).
IKEMURA Kenichiro; (JP).
IGUCHI Kazuya; (JP)
代理人: HASEGAWA Yoshiki; SOEI PATENT AND LAW FIRM, Marunouchi MY PLAZA (Meiji Yasuda Life Bldg.) 9th fl., 1-1, Marunouchi 2-chome, Chiyoda-ku, Tokyo 1000005 (JP)
優先権情報:
2013-019406 04.02.2013 JP
発明の名称: (EN) SPECTRUM MEASURING DEVICE AND SPECTRUM MEASURING METHOD
(FR) DISPOSITIF AINSI QUE PROCÉDÉ DE SPECTROMÉTRIE
(JA) 分光測定装置及び分光測定方法
要約: front page image
(EN)A spectrum measuring device, that emits excitation light onto a sample to be measured and detects light to be measured, comprises a light source to generate the excitation light, an entry opening into which the excitation light enters, an integrating device having an exit opening from which the light to be measured exits, an accommodating portion that is disposed in the integrating device and that accommodates the sample, an input optical system to emit the excitation light onto the sample, a light detecting device to detect the light to be measured that exits from the exit opening, and an analyzing means that calculates a light absorption rate of the sample on the basis of the detection value detected by the light detecting device, wherein the area irradiated by the excitation light at an entrance location to the sample is larger than the area to be irradiated on the sample, and the analyzing means corrects the area ratio pertaining to the area irradiated by excitation light and the area to be irradiated on the sample according to the calculated light absorption rate.
(FR)L'invention concerne un dispositif de spectrométrie qui irradie d'une lumière d'excitation un échantillon constituant l'objet de la mesure. Ce dispositif de spectrométrie est équipé : d'une source lumineuse générant la lumière d'excitation ; d'un intégrateur qui possède une partie ouverture d'incidence sur laquelle la lumière d'excitation est incidente, et une partie ouverture d'émission en sortie par laquelle une lumière à mesurer est émise en sortie ; d'une partie admission qui est disposée à l'intérieur de l'intégrateur, et qui admet l'échantillon ; d'un système optique d'incidence mettant la lumière d'excitation en incidence sur l'échantillon ; d'un détecteur de lumière détectant la lumière à mesurer émise en sortie depuis la partie ouverture d'émission en sortie ; et d'un moyen d'analyse qui calcule le facteur d'absorption de lumière de l'échantillon sur la base de la valeur de détection détectée par le détecteur de lumière. La surface d'irradiation de la lumière d'excitation en position d'incidence sur l'échantillon, est supérieure à la surface à irradier de l'échantillon. Le moyen d'analyse effectue une correction de rapport surfacique pour la surface d'irradiation de la lumière d'excitation et la surface à irradier de l'échantillon, par rapport au facteur d'absorption de lumière ainsi calculé.
(JA) 測定対象となる試料に励起光を照射し、被測定光を検出する分光測定装置であって、励起光を発生させる光源と、励起光が入射される入射開口部と、被測定光を出射する出射開口部とを有する積分器と、積分器内に配置され、試料を収容する収容部と、試料に励起光を入射させる入射光学系と、出射開口部から出射された被測定光を検出する光検出器と、光検出器で検出された検出値に基づき試料の光吸収率を算出する解析手段と、を備え、試料への入射位置における励起光の照射面積は、試料の被照射面積よりも大きくされ、解析手段は、算出される光吸収率に対して、励起光の照射面積及び試料の被照射面積に関する面積比補正を行う。
指定国: AE, AG, AL, AM, AO, AT, AU, AZ, BA, BB, BG, BH, BN, BR, BW, BY, BZ, CA, CH, CL, CN, CO, CR, CU, CZ, DE, DK, DM, DO, DZ, EC, EE, EG, ES, FI, GB, GD, GE, GH, GM, GT, HN, HR, HU, ID, IL, IN, IS, KE, KG, KN, KP, KR, KZ, LA, LC, LK, LR, LS, LT, LU, LY, MA, MD, ME, MG, MK, MN, MW, MX, MY, MZ, NA, NG, NI, NO, NZ, OM, PA, PE, PG, PH, PL, PT, QA, RO, RS, RU, RW, SA, SC, SD, SE, SG, SK, SL, SM, ST, SV, SY, TH, TJ, TM, TN, TR, TT, TZ, UA, UG, US, UZ, VC, VN, ZA, ZM, ZW.
アフリカ広域知的所有権機関(ARIPO) (BW, GH, GM, KE, LR, LS, MW, MZ, NA, RW, SD, SL, SZ, TZ, UG, ZM, ZW)
ユーラシア特許庁(EAPO) (AM, AZ, BY, KG, KZ, RU, TJ, TM)
欧州特許庁(EPO) (AL, AT, BE, BG, CH, CY, CZ, DE, DK, EE, ES, FI, FR, GB, GR, HR, HU, IE, IS, IT, LT, LU, LV, MC, MK, MT, NL, NO, PL, PT, RO, RS, SE, SI, SK, SM, TR)
アフリカ知的所有権機関(OAPI) (BF, BJ, CF, CG, CI, CM, GA, GN, GQ, GW, KM, ML, MR, NE, SN, TD, TG).
国際公開言語: Japanese (JA)
国際出願言語: Japanese (JA)