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1. (WO2014061636) 検査チップ
国際事務局に記録されている最新の書誌情報   

Translation翻訳: 原文 > 日本語
国際公開番号:    WO/2014/061636    国際出願番号:    PCT/JP2013/077911
国際公開日: 24.04.2014 国際出願日: 15.10.2013
IPC:
G01N 35/00 (2006.01)
出願人: BROTHER KOGYO KABUSHIKI KAISHA [JP/JP]; 15-1,Naeshiro-cho,Mizuho-ku,Nagoya-shi, Aichi 4678561 (JP)
発明者: OSHIKA Yumiko; (JP).
YOSHIMURA Chisato; (JP)
優先権情報:
2012-228491 15.10.2012 JP
発明の名称: (EN) INSPECTION CHIP
(FR) PUCE D'INSPECTION
(JA) 検査チップ
要約: front page image
(EN)Provided is an inspection chip that improves quantification precision. In the inspection chip (2), a virtual plane (H1) that is parallel to a quantitative surface (T) forms an angle (A) with a sample supply unit wall surface (119). A virtual plane (H2) that is parallel to the quantitative surface (T) forms an angle (B) with a first passage wall surface (120). A virtual plane (H3) that is parallel to the quantitative surface (T) forms an angle (C) with a second passage wall surface (122). A virtual plane (H4) that is parallel to the quantitative surface (T) forms an angle (D) with a holding section wall surface (118). The inspection chip (2) is configured so as to satisfy the following relationships: Angle (A) < Angle (B) < Angle (C); Angle (A) < Angle (D); Angle (D) < Angle (B). By satisfying these relationships, it is possible to accurately perform quantification without causing a shortage of a sample when quantifying said sample using a sample quantification unit (114).
(FR)L'invention concerne une puce d'inspection qui améliore la précision de quantification. Dans la puce d'inspection (2), un plan virtuel (H1) qui est parallèle à une surface quantitative (T) forme un angle (A) avec une surface de paroi (119) d'unité d'alimentation d'échantillon. Un plan virtuel (H2) qui est parallèle à la surface quantitative (T) forme un angle (B) avec une surface de paroi (120) d'un premier passage. Un plan virtuel (H3) qui est parallèle à la surface quantitative (T) forme un angle (C) avec une surface de paroi (122) d'un second passage. Un plan virtuel (H4) qui est parallèle à la surface quantitative (T) forme un angle (D) avec une surface de paroi (118) d'une section de maintien. La puce d'inspection (2) est conçue de manière à satisfaire aux relations suivantes : Angle (A) < Angle (B) < Angle (C) ; Angle (A) < Angle (D); Angle (D) < Angle (B). En satisfaisant à ces relations, il est possible d'effectuer précisément une quantification sans causer de manque d'un échantillon quand on quantifie ledit échantillon au moyen d'une unité de quantification d'échantillon (114).
(JA) 定量精度を向上する検査チップを提供する。 検査チップ2では、定量面Tと平行な仮想面H1と検体供給部壁面119との成す角の角度Aとする。定量面Tと平行な仮想面H2と第一通路壁面120との成す角の角度Bとする。定量面Tと平行な仮想面H3と第二通路壁面122との成す角の角度Cとする。定量面Tと平行な仮想面H4と保持部壁面118との成す角の角度Dとする。検査チップ2では、以下の関係を満たすようになっている。 角度A<角度B<角度C、角度A<角度D、角度D<角度B この関係を満たすことにより、検体定量部114での検体の定量時に、検体の不足を生じることなく正確に定量を行うことができる。
指定国: AE, AG, AL, AM, AO, AT, AU, AZ, BA, BB, BG, BH, BN, BR, BW, BY, BZ, CA, CH, CL, CN, CO, CR, CU, CZ, DE, DK, DM, DO, DZ, EC, EE, EG, ES, FI, GB, GD, GE, GH, GM, GT, HN, HR, HU, ID, IL, IN, IR, IS, KE, KG, KN, KP, KR, KZ, LA, LC, LK, LR, LS, LT, LU, LY, MA, MD, ME, MG, MK, MN, MW, MX, MY, MZ, NA, NG, NI, NO, NZ, OM, PA, PE, PG, PH, PL, PT, QA, RO, RS, RU, RW, SA, SC, SD, SE, SG, SK, SL, SM, ST, SV, SY, TH, TJ, TM, TN, TR, TT, TZ, UA, UG, US, UZ, VC, VN, ZA, ZM, ZW.
アフリカ広域知的所有権機関(ARIPO) (BW, GH, GM, KE, LR, LS, MW, MZ, NA, RW, SD, SL, SZ, TZ, UG, ZM, ZW)
ユーラシア特許庁(EAPO) (AM, AZ, BY, KG, KZ, RU, TJ, TM)
欧州特許庁(EPO) (AL, AT, BE, BG, CH, CY, CZ, DE, DK, EE, ES, FI, FR, GB, GR, HR, HU, IE, IS, IT, LT, LU, LV, MC, MK, MT, NL, NO, PL, PT, RO, RS, SE, SI, SK, SM, TR)
アフリカ知的所有権機関(OAPI) (BF, BJ, CF, CG, CI, CM, GA, GN, GQ, GW, KM, ML, MR, NE, SN, TD, TG).
国際公開言語: Japanese (JA)
国際出願言語: Japanese (JA)