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1. (WO2013118663) 輝度測定装置

Pub. No.:    WO/2013/118663    International Application No.:    PCT/JP2013/052436
Publication Date: 2013/08/15 International Filing Date: 2013/02/04
IPC: G01J 1/42
Applicants: KABUSHIKI KAISHA TOPCON
株式会社トプコン
Inventors: OKAMOTO, Hiroaki
岡本 浩明
Title: 輝度測定装置
Abstract:
 設定時間の自由度を高めつつ、短い測定時間で設定時間における輝度予測値を高い精度で得ることのできる輝度測定装置を提供する。 受光部(15)と演算部(23)と記憶部(22)とを備える輝度測定装置(10)である。互いに異なる励起照度で励起した標準蓄光材料(Pb)から得た第1標準特性線(P1)および第2標準特性線(P2)を用い、記憶部(22)には、第1時間(T1)の残光輝度に基づく第1要素で示す値と第2時間(T2)の残光輝度に基づく第2要素で示す値とで表すことのできる第1標準特性線(P1)からの第1準輝度点(b1)と第2標準特性線(P2)からの第2準輝度点(b2)とを含む直線式としての輝度予測線(Bp)が格納され、演算部(23)は、対象蓄光材料(Pd)の第1時間(T1)での残光輝度に基づく第1要素で示す値を輝度予測線(Bp)に当てはめることで第2時間(T2)での輝度予測値(CP)を算出する。