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1. (WO2013111373) 画像検査方法および画像検査装置
国際事務局に記録されている最新の書誌情報   

Translation翻訳: 原文 > 日本語
国際公開番号:    WO/2013/111373    国際出願番号:    PCT/JP2012/073686
国際公開日: 01.08.2013 国際出願日: 14.09.2012
IPC:
G01N 21/88 (2006.01), G06T 1/00 (2006.01), G06T 7/60 (2006.01)
出願人: OMRON Corporation [JP/JP]; 801, Minamifudodo-cho, Horikawahigashiiru, Shiokoji-dori, Shimogyo-ku, Kyoto-shi, Kyoto 6008530 (JP) (米国を除く全ての指定国).
MINATO Yoshihisa [JP/JP]; (JP) (米国のみ).
YANAGAWA Yukiko [JP/JP]; (JP) (米国のみ)
発明者: MINATO Yoshihisa; (JP).
YANAGAWA Yukiko; (JP)
代理人: SERA Kazunobu; Acropolis 21 Building 6th floor, 4-10, Higashi Nihonbashi 3-chome, Chuo-ku, Tokyo 1030004 (JP)
優先権情報:
2012-015810 27.01.2012 JP
発明の名称: (EN) IMAGE EXAMINATION METHOD AND IMAGE EXAMINATION APPARATUS
(FR) PROCÉDÉ D'EXAMEN D'IMAGES ET APPAREIL D'EXAMEN D'IMAGES
(JA) 画像検査方法および画像検査装置
要約: front page image
(EN)According to the invention, a parameter, which is used as a constraint condition in an optimum solution search process, is given, as examination area definition information, to an image examination apparatus. Then, during examination of a to-be-examined object, the image examination apparatus uses, as the constraint condition, the examination area definition information to determine an optimum solution of examination area in an image of the to-be-examined object. In this way, for each of a plurality of to-be-examined objects, the position and shape of a respective examination area are determined.
(FR)L'invention concerne un paramètre, utilisé comme condition de contrainte dans un processus de recherche de solutions optimales, qui est transmis comme information de définition de la région d'examen, à un appareil d'examen d'images. Lors de l'examen d'un objet à examiner, l'appareil d'examen d'images utilise ensuite, comme condition de contrainte, les informations de définition de la région d'examen pour déterminer une solution optimale de la région d'examen dans une image de l'objet à examiner. De cette manière, pour chaque objet d'une pluralité d'objets à examiner, la position et la forme d'une région d'examen respective sont déterminées.
(JA) 本発明では、最適解探索処理において拘束条件として用いられるパラメタを検査領域定義情報として画像検査装置に与える。そして、検査対象物の検査を行う際は、画像検査装置がこの検査領域定義情報を拘束条件として用いて検査対象物画像の中から検査領域の最適解を求めることにより、検査対象物ごとに個別に検査領域の位置及び形状を決定する。
指定国: AE, AG, AL, AM, AO, AT, AU, AZ, BA, BB, BG, BH, BN, BR, BW, BY, BZ, CA, CH, CL, CN, CO, CR, CU, CZ, DE, DK, DM, DO, DZ, EC, EE, EG, ES, FI, GB, GD, GE, GH, GM, GT, HN, HR, HU, ID, IL, IN, IS, KE, KG, KM, KN, KP, KR, KZ, LA, LC, LK, LR, LS, LT, LU, LY, MA, MD, ME, MG, MK, MN, MW, MX, MY, MZ, NA, NG, NI, NO, NZ, OM, PA, PE, PG, PH, PL, PT, QA, RO, RS, RU, RW, SC, SD, SE, SG, SK, SL, SM, ST, SV, SY, TH, TJ, TM, TN, TR, TT, TZ, UA, UG, US, UZ, VC, VN, ZA, ZM, ZW.
アフリカ広域知的所有権機関(ARIPO) (BW, GH, GM, KE, LR, LS, MW, MZ, NA, RW, SD, SL, SZ, TZ, UG, ZM, ZW)
ユーラシア特許庁(EAPO) (AM, AZ, BY, KG, KZ, RU, TJ, TM)
欧州特許庁(EPO) (AL, AT, BE, BG, CH, CY, CZ, DE, DK, EE, ES, FI, FR, GB, GR, HR, HU, IE, IS, IT, LT, LU, LV, MC, MK, MT, NL, NO, PL, PT, RO, RS, SE, SI, SK, SM, TR)
アフリカ知的所有権機関(OAPI) (BF, BJ, CF, CG, CI, CM, GA, GN, GQ, GW, ML, MR, NE, SN, TD, TG).
国際公開言語: Japanese (JA)
国際出願言語: Japanese (JA)