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1. (WO2013047593) 微細凹凸構造を表面に有する部材の検査装置および検査方法、陽極酸化アルミナ層を表面に有する部材の製造方法、及び光学フィルムの製造方法
国際事務局に記録されている最新の書誌情報   

Translation翻訳: 原文 > 日本語
国際公開番号:    WO/2013/047593    国際出願番号:    PCT/JP2012/074726
国際公開日: 04.04.2013 国際出願日: 26.09.2012
IPC:
G01N 21/88 (2006.01), G01B 11/00 (2006.01)
出願人: MITSUBISHI RAYON CO., LTD. [JP/JP]; 1-1, Marunouchi 1-chome, Chiyoda-ku, Tokyo 1008253 (JP) (米国を除く全ての指定国).
FUKUYAMA Mitsufumi [JP/JP]; (JP) (US only).
ISHIMARU Teruta [JP/JP]; (JP) (US only).
MATSUBARA Yuuji [JP/JP]; (JP) (US only)
発明者: FUKUYAMA Mitsufumi; (JP).
ISHIMARU Teruta; (JP).
MATSUBARA Yuuji; (JP)
代理人: TSUJII Koichi; NAKAMURA & PARTNERS, Shin-Tokyo Bldg., 3-1, Marunouchi 3-chome, Chiyoda-ku, Tokyo 1008355 (JP)
優先権情報:
2011-209705 26.09.2011 JP
2011-209706 26.09.2011 JP
2011-209707 26.09.2011 JP
発明の名称: (EN) INSPECTION DEVICE AND INSPECTION METHOD FOR MEMBER HAVING FINE UNEVEN STRUCTURE ON SURFACE THEREOF, MANUFACTURING METHOD FOR MEMBER HAVING ANODIC ALUMINA LAYER ON SURFACE THEREOF, AND MANUFACTURING METHOD FOR OPTICAL FILM
(FR) DISPOSITIF DE CONTRÔLE ET PROCÉDÉ DE CONTRÔLE D'UN ÉLÉMENT PRÉSENTANT UNE STRUCTURE FINE IRRÉGULIÈRE À LA SURFACE DE CELUI-CI, PROCÉDÉ DE FABRICATION D'UN ÉLÉMENT PRÉSENTANT UNE COUCHE D'ALUMINE ANODIQUE À LA SURFACE DE CELUI-CI, ET PROCÉDÉ DE FABRICATION D'UN FILM OPTIQUE
(JA) 微細凹凸構造を表面に有する部材の検査装置および検査方法、陽極酸化アルミナ層を表面に有する部材の製造方法、及び光学フィルムの製造方法
要約: front page image
(EN)Provided are an inspection device and an inspection method which are capable of easily inspecting the shape of a fine uneven structure on the surface of anodic alumina and the thickness of the anodic alumina, and the like. This inspection device for anodic alumina is characterized by being provided with: an application means (22) for applying light to anodic alumina to be inspected; an image capturing means (24) for capturing an image of light that has passed through a polarization means; the polarization means (28) for polarizing the light applied from the application means; and an image processing means (26) for, on the basis of color information obtained from the image captured by the image capturing means, determining whether the state of the anodic alumina is good or not.
(FR)La présente invention concerne un dispositif de contrôle et un procédé de contrôle qui sont capables de contrôler facilement la forme d'une structure fine irrégulière à la surface d'une alumine anodique et l'épaisseur de l'alumine anodique, et analogues. Ce dispositif de contrôle d'une alumine anodique est caractérisé en ce qu'il comprend : un moyen d'application (22) destiné à appliquer de la lumière sur une alumine anodique à contrôler ; un moyen de capture d'image (24) destiné à capturer une image de la lumière qui passe à travers un moyen de polarisation ; le moyen de polarisation (28) destiné à polariser la lumière appliquée par le moyen d'application ; et un moyen de traitement d'image (26) destiné à, en se basant sur les informations de couleur obtenues de l'image capturée par le moyen de capture d'image, déterminer si l'état de l'alumine anodique est bon ou non.
(JA) 陽極酸化アルミナの表面の微細凹凸構造の形状や陽極酸化アルミナの厚さを簡易に検査できる検査装置および検査方法等を提供すること。 発明の陽極酸化アルミナの検査装置は、検査対象の陽極酸化アルミナに光を照射する照射手段22と、偏光手段を通過した光を撮像する撮像手段24と、照射手段から照射された光を偏光させる偏光手段28と、撮像手段によって撮像された画像から得られた色情報に基づいて陽極酸化アルミナの状態の良否を判定する画像処理手段26とを備えていることを特徴とする。
指定国: AE, AG, AL, AM, AO, AT, AU, AZ, BA, BB, BG, BH, BN, BR, BW, BY, BZ, CA, CH, CL, CN, CO, CR, CU, CZ, DE, DK, DM, DO, DZ, EC, EE, EG, ES, FI, GB, GD, GE, GH, GM, GT, HN, HR, HU, ID, IL, IN, IS, JP, KE, KG, KM, KN, KP, KR, KZ, LA, LC, LK, LR, LS, LT, LU, LY, MA, MD, ME, MG, MK, MN, MW, MX, MY, MZ, NA, NG, NI, NO, NZ, OM, PA, PE, PG, PH, PL, PT, QA, RO, RS, RU, RW, SC, SD, SE, SG, SK, SL, SM, ST, SV, SY, TH, TJ, TM, TN, TR, TT, TZ, UA, UG, US, UZ, VC, VN, ZA, ZM, ZW.
アフリカ広域知的所有権機関(ARIPO) (BW, GH, GM, KE, LR, LS, MW, MZ, NA, RW, SD, SL, SZ, TZ, UG, ZM, ZW)
ユーラシア特許庁(EAPO) (AM, AZ, BY, KG, KZ, RU, TJ, TM)
欧州特許庁(EPO) (AL, AT, BE, BG, CH, CY, CZ, DE, DK, EE, ES, FI, FR, GB, GR, HR, HU, IE, IS, IT, LT, LU, LV, MC, MK, MT, NL, NO, PL, PT, RO, RS, SE, SI, SK, SM, TR)
アフリカ知的所有権機関(OAPI) (BF, BJ, CF, CG, CI, CM, GA, GN, GQ, GW, ML, MR, NE, SN, TD, TG).
国際公開言語: Japanese (JA)
国際出願言語: Japanese (JA)