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1. (WO2013046534) 光伝導素子、レンズ、テラヘルツ放射顕微鏡及びデバイスの製造方法
国際事務局に記録されている最新の書誌情報   

Translation翻訳: 原文 > 日本語
国際公開番号:    WO/2013/046534    国際出願番号:    PCT/JP2012/005393
国際公開日: 04.04.2013 国際出願日: 28.08.2012
IPC:
G01N 21/63 (2006.01)
出願人: SONY CORPORATION [JP/JP]; 1-7-1 Konan, Minato-ku, Tokyo 1080075 (JP) (米国を除く全ての指定国).
KAMATA, Masanao [JP/JP]; (JP) (米国のみ)
発明者: KAMATA, Masanao; (JP)
代理人: OMORI, Junichi; 2nd Floor U&M Akasaka Bldg., 7-5-47 Akasaka, Minato-ku, Tokyo 1070052 (JP)
優先権情報:
2011-216164 30.09.2011 JP
発明の名称: (EN) PHOTOCONDUCTIVE ELEMENT, LENS, TERAHERTZ EMISSION MICROSCOPE, AND DEVICE MANUFACTURING METHOD
(FR) ÉLÉMENT PHOTOCONDUCTEUR, LENTILLE, MICROSCOPE À ÉMISSION TÉRAHERTZ ET PROCÉDÉ DE FABRICATION D'UN DISPOSITIF
(JA) 光伝導素子、レンズ、テラヘルツ放射顕微鏡及びデバイスの製造方法
要約: front page image
(EN)[Problem] To provide a terahertz emission microscope having improved detection accuracy of terahertz microwaves, and to provide a photoconductive element and a lens to be used in the terahertz emission microscope, and a device manufacturing method. [Solution] This photoconductive element is provided with a base material, electrodes, and a film material. The base material has an input surface having inputted thereto terahertz microwaves, which are generated by radiating pulsed-laser beams to a device, i.e., an object to be observed, said pulsed-laser beams having been generated from a light source. The electrodes are formed on the base material, and detect the terahertz microwaves inputted to the input surface of the base material. The film material is formed on the input surface of the base material, passes through the terahertz microwaves, and reflects the pulsed-laser beams.
(FR)La présente invention concerne un microscope à émission térahertz présentant une plus grande précision de détection des microondes térahertz et un élément photoconducteur et une lentille utilisables dans ledit microscope à émission térahertz, ainsi qu'un procédé de fabrication d'un dispositif. Ledit élément photoconducteur comporte un matériau support, des électrodes et un matériau se présentant sous la forme d'un film. Le matériau support présente une surface d'entrée dans laquelle pénètrent les microondes térahertz, générées en envoyant des faisceaux laser pulsés vers un dispositif, c'est-à-dire un objet à observer, lesdits faisceaux laser pulsés ayant été générés par une source de lumière. Les électrodes sont situées sur le matériau support et détectent les microondes térahertz ayant pénétré dans la surface d'entrée du matériau support. Le matériau se présentant sous la forme d'un film est situé sur la surface d'entrée du matériau support, laisse passer les microondes térahertz et réfléchit les faisceaux lasers pulsés.
(JA)【課題】テラヘルツ電磁波の検出精度を向上させることができるテラヘルツ放射顕微鏡、これに用いられる、光伝導素子、レンズ及びデバイスの製造方法を提供すること。 【解決手段】光伝導素子は、基材と、電極と、膜材とを具備する。前記基材は、光源から発生したパルスレーザーが、観察対象であるデバイスに照射されることにより発生するテラヘルツ電磁波が入射する入射面を有する。前記電極は、前記基材に形成され、前記基材の入射面に入射された前記テラヘルツ電磁波を検出する。前記膜材は、前記基材の前記入射面に形成され、前記テラヘルツ電磁波を透過させ、前記パルスレーザーを反射させる。
指定国: AE, AG, AL, AM, AO, AT, AU, AZ, BA, BB, BG, BH, BN, BR, BW, BY, BZ, CA, CH, CL, CN, CO, CR, CU, CZ, DE, DK, DM, DO, DZ, EC, EE, EG, ES, FI, GB, GD, GE, GH, GM, GT, HN, HR, HU, ID, IL, IN, IS, KE, KG, KM, KN, KP, KR, KZ, LA, LC, LK, LR, LS, LT, LU, LY, MA, MD, ME, MG, MK, MN, MW, MX, MY, MZ, NA, NG, NI, NO, NZ, OM, PE, PG, PH, PL, PT, QA, RO, RS, RU, RW, SC, SD, SE, SG, SK, SL, SM, ST, SV, SY, TH, TJ, TM, TN, TR, TT, TZ, UA, UG, US, UZ, VC, VN, ZA, ZM, ZW.
アフリカ広域知的所有権機関(ARIPO) (BW, GH, GM, KE, LR, LS, MW, MZ, NA, RW, SD, SL, SZ, TZ, UG, ZM, ZW)
ユーラシア特許庁(EAPO) (AM, AZ, BY, KG, KZ, RU, TJ, TM)
欧州特許庁(EPO) (AL, AT, BE, BG, CH, CY, CZ, DE, DK, EE, ES, FI, FR, GB, GR, HR, HU, IE, IS, IT, LT, LU, LV, MC, MK, MT, NL, NO, PL, PT, RO, RS, SE, SI, SK, SM, TR)
アフリカ知的所有権機関(OAPI) (BF, BJ, CF, CG, CI, CM, GA, GN, GQ, GW, ML, MR, NE, SN, TD, TG).
国際公開言語: Japanese (JA)
国際出願言語: Japanese (JA)