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1. (WO2013042690) 光学測定装置および校正方法
国際事務局に記録されている最新の書誌情報   

Translation翻訳: 原文 > 日本語
国際公開番号:    WO/2013/042690    国際出願番号:    PCT/JP2012/073948
国際公開日: 28.03.2013 国際出願日: 19.09.2012
IPC:
A61B 1/00 (2006.01), G01N 21/27 (2006.01)
出願人: OLYMPUS CORPORATION [JP/JP]; 43-2, Hatagaya 2-chome, Shibuya-ku, Tokyo 1510072 (JP)
発明者: TAKAOKA, Hideyuki; (JP).
ITO, Ryosuke; (JP)
代理人: SAKAI, Hiroaki; Sakai International Patent Office, Kasumigaseki Building, 2-5, Kasumigaseki 3-chome, Chiyoda-ku, Tokyo 1006020 (JP)
優先権情報:
61/536,705 20.09.2011 US
発明の名称: (EN) OPTICAL MEASUREMENT APPARATUS AND CALIBRATION METHOD
(FR) APPAREIL DE MESURE OPTIQUE ET PROCÉDÉ D'ÉTALONNAGE
(JA) 光学測定装置および校正方法
要約: front page image
(EN)Provided are an optical measurement apparatus and a calibration method that can perform calibration easily. The apparatus is provided with: a recording unit (26) for recording the value of the ratio of a first detected intensity when illuminating light is irradiated by the measurement probe (3) on a first medium having the same refractive index as the sample (S1) and a second detected intensity when illuminating light is irradiated by the measurement probe (3) on a second medium; and a computing unit (271) for computing the background intensity of background light, to be used when correcting the illumination light returning from the sample (S1), using the product of a third detected intensity when illuminating light is irradiated on the second medium by the measurement probe (3) and the value of the ratio recorded by the recording unit (26).
(FR)L'invention concerne un appareil de mesure optique et un procédé d'étalonnage permettant d'effectuer facilement un étalonnage. L'appareil comprend : une unité d'enregistrement (26) pour enregistrer la valeur du rapport entre une première intensité détectée lorsqu'une lumière d'éclairage est projetée par une sonde de mesure (3) sur un premier support ayant le même indice de réfraction qu'un échantillon (S1) et une seconde intensité détectée lorsqu'une lumière d'éclairage est projetée par la sonde de mesure (3) sur un second support ; et une unité de calcul (271) pour calculer l'intensité d'arrière-plan de la lumière d'arrière-plan à utiliser lorsque la lumière d'éclairage revenant de l'échantillon (S1) est corrigée au moyen du produit d'une troisième intensité détectée lorsque la lumière d'éclairage est projetée sur le second support par la sonde de mesure (3) et la valeur du rapport enregistrée par l'unité d'enregistrement (26).
(JA) 容易に校正処理を行うことができる光学測定装置および校正方法を提供する。測定プローブ3によって試料S1と同じ屈折率を有する第1の媒質に照明光を照射した際の第1の検出強度と、測定プローブ3によって第2の媒質に照明光を照射した際の第2の検出強度との比の値を記録する記録部26と、測定プローブ3によって第2の媒質に照明光を照射した際の第3の検出強度と記録部26が記録する比の値との積により、試料S1からの照明光の戻り光を補正する際に用いるバックグランド光のバックグランド強度を演算する演算部271と、を備える。
指定国: AE, AG, AL, AM, AO, AT, AU, AZ, BA, BB, BG, BH, BN, BR, BW, BY, BZ, CA, CH, CL, CN, CO, CR, CU, CZ, DE, DK, DM, DO, DZ, EC, EE, EG, ES, FI, GB, GD, GE, GH, GM, GT, HN, HR, HU, ID, IL, IN, IS, JP, KE, KG, KM, KN, KP, KR, KZ, LA, LC, LK, LR, LS, LT, LU, LY, MA, MD, ME, MG, MK, MN, MW, MX, MY, MZ, NA, NG, NI, NO, NZ, OM, PA, PE, PG, PH, PL, PT, QA, RO, RS, RU, RW, SC, SD, SE, SG, SK, SL, SM, ST, SV, SY, TH, TJ, TM, TN, TR, TT, TZ, UA, UG, US, UZ, VC, VN, ZA, ZM, ZW.
アフリカ広域知的所有権機関(ARIPO) (BW, GH, GM, KE, LR, LS, MW, MZ, NA, RW, SD, SL, SZ, TZ, UG, ZM, ZW)
ユーラシア特許庁(EAPO) (AM, AZ, BY, KG, KZ, RU, TJ, TM)
欧州特許庁(EPO) (AL, AT, BE, BG, CH, CY, CZ, DE, DK, EE, ES, FI, FR, GB, GR, HR, HU, IE, IS, IT, LT, LU, LV, MC, MK, MT, NL, NO, PL, PT, RO, RS, SE, SI, SK, SM, TR)
アフリカ知的所有権機関(OAPI) (BF, BJ, CF, CG, CI, CM, GA, GN, GQ, GW, ML, MR, NE, SN, TD, TG).
国際公開言語: Japanese (JA)
国際出願言語: Japanese (JA)