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1. (WO2013042220) 磁場解析装置、磁場解析プログラムおよび磁場解析方法
国際事務局に記録されている最新の書誌情報   

Translation翻訳: 原文 > 日本語
国際公開番号:    WO/2013/042220    国際出願番号:    PCT/JP2011/071443
国際公開日: 28.03.2013 国際出願日: 21.09.2011
IPC:
G06F 17/50 (2006.01)
出願人: FUJITSU LIMITED [JP/JP]; 1-1, Kamikodanaka 4-chome, Nakahara-ku, Kawasaki-shi, Kanagawa 2118588 (JP) (米国を除く全ての指定国).
SHIMIZU, Koichi [JP/JP]; (JP) (米国のみ)
発明者: SHIMIZU, Koichi; (JP)
代理人: SAKAI, Hiroaki; Sakai International Patent Office, Kasumigaseki Building, 2-5, Kasumigaseki 3-chome, Chiyoda-ku, Tokyo 1006020 (JP)
優先権情報:
発明の名称: (EN) MAGNETIC FIELD ANALYSIS DEVICE, MAGNETIC FIELD ANALYSIS PROGRAM, AND MAGNETIC FIELD ANALYSIS METHOD
(FR) DISPOSITIF D'ANALYSE DE CHAMP MAGNÉTIQUE, PROGRAMME D'ANALYSE DE CHAMP MAGNÉTIQUE ET PROCÉDÉ D'ANALYSE DE CHAMP MAGNÉTIQUE
(JA) 磁場解析装置、磁場解析プログラムおよび磁場解析方法
要約: front page image
(EN)A magnetic field analysis device (1) which analyzes a model magnetic field segments a magnetic body model into a plurality of segment models which are rotationally symmetrical with respect to one another. The magnetic field analysis device (1) computes a scalar potential of one of the segment models. Based on a location relation between the computed segment model and other segment models, the magnetic field analysis device (1) computes a boundary integral matrix which denotes an intensity of a contribution to the boundary portion of the computed segment model from the scalar potentials of the other segment models. The magnetic field analysis device (1) computes the product of the computed segment model scalar potential and the boundary integral matrix as a scalar potential which arises at the boundary of the computed segment models. Thereafter, the magnetic field analysis device (1) analyses the magnetic field in the segment models, using the computed segment model scalar potentials and the scalar potentials which arise at the computed segment model boundary.
(FR)Le dispositif d'analyse de champ magnétique (1) de l'invention, qui analyse un champ magnétique modèle, segmente un modèle de corps magnétique en une pluralité de modèles de segment qui présentent une symétrie de rotation les uns par rapport aux autres. Le dispositif d'analyse de champ magnétique (1) calcule un potentiel scalaire d'un des modèles de segment. D'après une relation d'emplacement entre le modèle de segment calculé et d'autres modèles de segment, le dispositif d'analyse de champ magnétique (1) calcule une matrice d'intégrale aux limites qui indique l'intensité d'une contribution à la partie limite du modèle de segment calculé d'après les potentiels scalaires des autres modèles de segment. Le dispositif d'analyse de champ magnétique (1) calcule le produit du potentiel scalaire de modèle de segment calculé et de la matrice d'intégrale aux limites en tant que potentiel scalaire qui se produit à la limite des modèles de segment calculés. Le dispositif d'analyse de champ magnétique (1) analyse ensuite le champ magnétique dans les modèles de segment, en utilisant les potentiels scalaires de modèle de segment calculés et les potentiels scalaires qui se produisent à la limite de modèle de segment calculée.
(JA) モデルの磁場を解析する磁場解析装置(1)は、磁性体のモデルを、それぞれ相互に回転対称な複数の分割モデルに分割する。また、磁場解析装置(1)は、分割モデルのうち、いずれかの分割モデルのスカラーポテンシャルを算出する。また、磁場解析装置(1)は、算出済み分割モデルと、他の分割モデルとの位置関係に基づいて、他の分割モデルのスカラーポテンシャルから算出済み分割モデルの境界積分に対する寄与の強さを示す境界積分行列を算出する。そして、磁場解析装置(1)は、算出した分割モデルのスカラーポテンシャルと、境界積分行列との積を、算出済み分割モデルの境界に生じるスカラーポテンシャルとして算出する。その後、磁場解析装置(1)は、算出済み分割モデルのスカラーポテンシャルと、算出済み分割モデルの境界に生じるスカラーポテンシャルとを用いて、分割モデルにおける磁場を解析する。
指定国: AE, AG, AL, AM, AO, AT, AU, AZ, BA, BB, BG, BH, BR, BW, BY, BZ, CA, CH, CL, CN, CO, CR, CU, CZ, DE, DK, DM, DO, DZ, EC, EE, EG, ES, FI, GB, GD, GE, GH, GM, GT, HN, HR, HU, ID, IL, IN, IS, JP, KE, KG, KM, KN, KP, KR, KZ, LA, LC, LK, LR, LS, LT, LU, LY, MA, MD, ME, MG, MK, MN, MW, MX, MY, MZ, NA, NG, NI, NO, NZ, OM, PE, PG, PH, PL, PT, QA, RO, RS, RU, RW, SC, SD, SE, SG, SK, SL, SM, ST, SV, SY, TH, TJ, TM, TN, TR, TT, TZ, UA, UG, US, UZ, VC, VN, ZA, ZM, ZW.
アフリカ広域知的所有権機関(ARIPO) (BW, GH, GM, KE, LR, LS, MW, MZ, NA, SD, SL, SZ, TZ, UG, ZM, ZW)
ユーラシア特許庁(EAPO) (AM, AZ, BY, KG, KZ, MD, RU, TJ, TM)
欧州特許庁(EPO) (AL, AT, BE, BG, CH, CY, CZ, DE, DK, EE, ES, FI, FR, GB, GR, HR, HU, IE, IS, IT, LT, LU, LV, MC, MK, MT, NL, NO, PL, PT, RO, RS, SE, SI, SK, SM, TR)
アフリカ知的所有権機関(OAPI) (BF, BJ, CF, CG, CI, CM, GA, GN, GQ, GW, ML, MR, NE, SN, TD, TG).
国際公開言語: Japanese (JA)
国際出願言語: Japanese (JA)