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1. (WO2013038972) 板ガラス検査装置、板ガラス検査方法、板ガラス製造装置、及び板ガラス製造方法
国際事務局に記録されている最新の書誌情報   

Translation翻訳: 原文 > 日本語
国際公開番号:    WO/2013/038972    国際出願番号:    PCT/JP2012/072624
国際公開日: 21.03.2013 国際出願日: 05.09.2012
IPC:
G01N 21/896 (2006.01), C03B 17/06 (2006.01)
出願人: Nippon Electric Glass Co., Ltd. [JP/JP]; 7-1, Seiran 2-chome, Otsu-shi, Shiga 5208639 (JP) (米国を除く全ての指定国).
TANIDA Takeo [JP/JP]; (JP) (米国のみ)
発明者: TANIDA Takeo; (JP)
代理人: MAEI Hiroyuki; 6th Floor Kotera Plaza, 2-5-23 Kitahama,Chuo-ku, Osaka-shi, Osaka 5410041 (JP)
優先権情報:
2011-202283 15.09.2011 JP
発明の名称: (EN) PLATE GLASS INSPECTION DEVICE, PLATE GLASS INSPECTION METHOD, PLATE GLASS MANUFACTURING DEVICE, AND PLATE GLASS MANUFACTURING METHOD
(FR) DISPOSITIF ET PROCÉDÉ D'INSPECTION DE VERRE À VITRES, DISPOSITIF ET PROCÉDÉ DE FABRICATION DE VERRE À VITRES
(JA) 板ガラス検査装置、板ガラス検査方法、板ガラス製造装置、及び板ガラス製造方法
要約: front page image
(EN)Provided is a plate glass inspection device in which, in an inspection for glass defects that occur continuously, the inspection speed is increased without compromising the necessary inspection accuracy, the device configuration is kept simple, and the device cost is minimized. A plate glass inspection device for inspecting a plurality of plate glasses, the plate glass inspection device being provided with: a detector for detecting the defect candidate range of a first plate glass, and the defect candidate range of a second plate glass which is different from the first plate glass; and a determination unit for comparing the position of the defect candidate range of the first plate glass and the position of the defect candidate range of the second plate glass, and determining, on the basis of the result of the comparison, whether or not there is a defect that is continuous between the first plate glass and the second plate glass.
(FR)Cette invention concerne un dispositif d'inspection de verre à vitres qui permet une inspection destinée à rechercher les défauts du verre qui se produisent continuellement, à une vitesse d'inspection qui est augmentée, sans compromettre la précision d'inspection nécessaire, la configuration du dispositif étant simple, et le coût du dispositif réduit au minimum. Plus particulièrement, cette invention concerne un dispositif d'inspection de verre à vitres pour inspecter une pluralité de verres à vitres, ledit dispositif comprenant : un détecteur pour détecter la plage candidate de défauts d'un premier verre à vitres, et la plage candidate de défauts d'un second verre à vitres qui est différent du premier ; et une unité de détermination pour comparer la position de la plage candidate de défauts du premier verre à vitres et la position de la plage candidate de défauts du second verre à vitres, et déterminer, en fonction du résultat de la comparaison, s'il y a ou non un défaut qui est continu entre le premier verre à vitres et le second verre à vitres.
(JA) 連続して発生するガラス欠陥の検査において、必要な検査精度を確保したまま検査速度を高め、さらに、装置構成を複雑にせず装置コストを抑えた板ガラス検査装置を提供する。複数の板ガラスを検査する板ガラス検査装置であって、第1板ガラスの欠陥候補範囲と、前記第1板ガラスとは異なる第2板ガラスの欠陥候補範囲とを検出する検出部と、前記第1板ガラスの欠陥候補範囲の位置と、前記第2板ガラスの欠陥候補範囲の位置とを比較し、前記比較の結果に基づいて、前記第1板ガラスと前記第2板ガラスとに連続する欠陥の有無を判定する判定部とを備える。
指定国: AE, AG, AL, AM, AO, AT, AU, AZ, BA, BB, BG, BH, BN, BR, BW, BY, BZ, CA, CH, CL, CN, CO, CR, CU, CZ, DE, DK, DM, DO, DZ, EC, EE, EG, ES, FI, GB, GD, GE, GH, GM, GT, HN, HR, HU, ID, IL, IN, IS, KE, KG, KM, KN, KP, KR, KZ, LA, LC, LK, LR, LS, LT, LU, LY, MA, MD, ME, MG, MK, MN, MW, MX, MY, MZ, NA, NG, NI, NO, NZ, OM, PE, PG, PH, PL, PT, QA, RO, RS, RU, RW, SC, SD, SE, SG, SK, SL, SM, ST, SV, SY, TH, TJ, TM, TN, TR, TT, TZ, UA, UG, US, UZ, VC, VN, ZA, ZM, ZW.
アフリカ広域知的所有権機関(ARIPO) (BW, GH, GM, KE, LR, LS, MW, MZ, NA, RW, SD, SL, SZ, TZ, UG, ZM, ZW)
ユーラシア特許庁(EAPO) (AM, AZ, BY, KG, KZ, RU, TJ, TM)
欧州特許庁(EPO) (AL, AT, BE, BG, CH, CY, CZ, DE, DK, EE, ES, FI, FR, GB, GR, HR, HU, IE, IS, IT, LT, LU, LV, MC, MK, MT, NL, NO, PL, PT, RO, RS, SE, SI, SK, SM, TR)
アフリカ知的所有権機関(OAPI) (BF, BJ, CF, CG, CI, CM, GA, GN, GQ, GW, ML, MR, NE, SN, TD, TG).
国際公開言語: Japanese (JA)
国際出願言語: Japanese (JA)