WIPO logo
Mobile | Deutsch | English | Español | Français | 한국어 | Português | Русский | 中文 | العربية |
PATENTSCOPE

国際・国内特許データベース検索
World Intellectual Property Organization
検索
 
閲覧
 
翻訳
 
オプション
 
最新情報
 
ログイン
 
ヘルプ
 
自動翻訳
1. (WO2013038910) 電子線を用いた顕微鏡あるいは分析装置用の試料加熱ホルダー、およびそれを用いた試料加熱方法
国際事務局に記録されている最新の書誌情報   

Translation翻訳: 原文 > 日本語
国際公開番号:    WO/2013/038910    国際出願番号:    PCT/JP2012/071924
国際公開日: 21.03.2013 国際出願日: 23.08.2012
IPC:
H01J 37/20 (2006.01)
出願人: JFE STEEL CORPORATION [JP/JP]; 2-3, Uchisaiwai-cho 2-chome, Chiyoda-ku, Tokyo 1000011 (JP) (米国を除く全ての指定国).
YAMASHITA, Takako [JP/JP]; (JP) (米国のみ).
NORO, Hisato [JP/JP]; (JP) (米国のみ).
SEKIMOTO, Mitsuyoshi [JP/JP]; (JP) (米国のみ).
WATANABE, Manabu [JP/JP]; (JP) (米国のみ).
KAJIMA, Yoshihisa [JP/JP]; (JP) (米国のみ)
発明者: YAMASHITA, Takako; (JP).
NORO, Hisato; (JP).
SEKIMOTO, Mitsuyoshi; (JP).
WATANABE, Manabu; (JP).
KAJIMA, Yoshihisa; (JP)
代理人: KUMASAKA, Akira; c/o Intellectual Property Division, JFE TECHNO-RESEARCH CORPORATION, 7th floor, Yanagiya building, 1-10, Nihonbashi 2-chome, Chuo-ku, Tokyo 1030027 (JP)
優先権情報:
2011-200053 14.09.2011 JP
発明の名称: (EN) SAMPLE HEATING HOLDER FOR MICROSCOPE OR ANALYSIS EQUIPMENT THAT USES ELECTRON BEAM, AND SAMPLE HEATING METHOD THAT USES SAMPLE HEATING HOLDER
(FR) PORTE-ÉCHANTILLON CHAUFFANT POUR MICROSCOPE OU ÉQUIPEMENT D'ANALYSE UTILISANT UN FAISCEAU D'ÉLECTRONS, ET PROCÉDÉ DE CHAUFFAGE D'ÉCHANTILLONS UTILISANT LE PORTE-ÉCHANTILLON CHAUFFANT
(JA) 電子線を用いた顕微鏡あるいは分析装置用の試料加熱ホルダー、およびそれを用いた試料加熱方法
要約: front page image
(EN)Provided are: a sample heating holder for a microscope or analysis equipment that uses an electron beam, said holder not requiring an ultra-high vacuum, and being capable of stably preventing contamination of a sample surface without causing destruction of the sample surface; and a sample heating method that uses the sample heating holder. The sample heating holder for a microscope or analysis equipment that uses an electron beam is characterized by being provided with a positive temperature coefficient (PTC) thermistor as a heating element, and has excellent capacity for suppression of thermal drift and growth of carbon contamination during observation and analysis.
(FR)L'invention concerne : un porte-échantillon chauffant destiné à un microscope ou à un équipement d'analyse utilisant un faisceau d'électrons, ledit porte-échantillon ne nécessitant pas un vide ultra-poussé et étant capable d'empêcher de façon stable la contamination d'une surface d'échantillon sans provoquer la destruction de la surface d'échantillon ; et un procédé de chauffage d'échantillons utilisant le porte-échantillon chauffant. Le porte-échantillon chauffant pour microscope ou équipement d'analyse utilisant un faisceau d'électrons est caractérisé en ce qu'il comporte un thermistor à coefficient de température positif (PTC) en tant qu'élément chauffant, et en ce qu'il présente une excellente capacité de limitation de la dérive thermique et de la croissance d'une contamination au carbone pendant l'observation et l'analyse.
(JA)超高真空化が不要で、試料表面の破壊を引き起こすことなく、試料表面のコンタミを安定して防止できる電子線を用いた顕微鏡あるいは分析装置用の試料加熱ホルダー、およびそれを用いた試料加熱方法を提供する。発熱体として、正温度計数(PTC)サーミスタを備えることを特徴とする、観察・分析中のカーボンコンタミネーションの成長と熱ドリフトの抑制能力に優れた、電子線を用いた顕微鏡あるいは分析装置用の試料加熱ホルダー。
指定国: AE, AG, AL, AM, AO, AT, AU, AZ, BA, BB, BG, BH, BN, BR, BW, BY, BZ, CA, CH, CL, CN, CO, CR, CU, CZ, DE, DK, DM, DO, DZ, EC, EE, EG, ES, FI, GB, GD, GE, GH, GM, GT, HN, HR, HU, ID, IL, IN, IS, KE, KG, KM, KN, KP, KR, KZ, LA, LC, LK, LR, LS, LT, LU, LY, MA, MD, ME, MG, MK, MN, MW, MX, MY, MZ, NA, NG, NI, NO, NZ, OM, PE, PG, PH, PL, PT, QA, RO, RS, RU, RW, SC, SD, SE, SG, SK, SL, SM, ST, SV, SY, TH, TJ, TM, TN, TR, TT, TZ, UA, UG, US, UZ, VC, VN, ZA, ZM, ZW.
アフリカ広域知的所有権機関(ARIPO) (BW, GH, GM, KE, LR, LS, MW, MZ, NA, RW, SD, SL, SZ, TZ, UG, ZM, ZW)
ユーラシア特許庁(EAPO) (AM, AZ, BY, KG, KZ, RU, TJ, TM)
欧州特許庁(EPO) (AL, AT, BE, BG, CH, CY, CZ, DE, DK, EE, ES, FI, FR, GB, GR, HR, HU, IE, IS, IT, LT, LU, LV, MC, MK, MT, NL, NO, PL, PT, RO, RS, SE, SI, SK, SM, TR)
アフリカ知的所有権機関(OAPI) (BF, BJ, CF, CG, CI, CM, GA, GN, GQ, GW, ML, MR, NE, SN, TD, TG).
国際公開言語: Japanese (JA)
国際出願言語: Japanese (JA)