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1. (WO2012011406) 絞り位置測定方法、絞り位置測定装置、絞り位置決め方法及び絞り位置決め装置
国際事務局に記録されている最新の書誌情報

国際公開番号: WO/2012/011406 国際出願番号: PCT/JP2011/065835
国際公開日: 26.01.2012 国際出願日: 12.07.2011
IPC:
G01M 11/00 (2006.01) ,G01B 11/00 (2006.01)
G 物理学
01
測定;試験
M
機械または構造物の静的または動的つり合い試験;他に分類されない構造物または装置の試験
11
光学装置の試験;他に分類されない光学的方法による構造物の試験
G 物理学
01
測定;試験
B
長さ,厚さまたは同種の直線寸法の測定;角度の測定;面積の測定;表面または輪郭の不規則性の測定
11
光学的手段の使用によって特徴づけられた測定装置
出願人:
コニカミノルタアドバンストレイヤー株式会社 Konica Minolta Advanced Layers, Inc. [JP/JP]; 東京都八王子市石川町2970番地 2970, Ishikawa-machi, Hachioji-shi, Tokyo 1928505, JP (AllExceptUS)
和田一啓 WADA Kazuhiro [JP/JP]; JP (UsOnly)
発明者:
和田一啓 WADA Kazuhiro; JP
代理人:
田村敬二郎 TAMURA Keijiro; 東京都新宿区西新宿七丁目4番3号 升本ビル8階 8th Floor, Masumoto Bldg., 4-3, Nishi-Shinjuku 7-chome, Shinjuku-ku, Tokyo 1600023, JP
優先権情報:
2010-16582823.07.2010JP
発明の名称: (EN) DIAPHRAGM POSITION MEASURING METHOD, DIAPHRAGM POSITION MEASURING DEVICE, DIAPHRAGM POSITIONING METHOD AND DIAPHRAGM POSITIONING DEVICE
(FR) MÉTHODE DE MESURE DE POSITION DE DIAPHRAGME, DISPOSITIF DE MESURE DE POSITION DE DIAPHRAGME, MÉTHODE DE POSITIONNEMENT DE DIAPHRAGME ET DISPOSITIF DE POSITIONNEMENT DE DIAPHRAGME
(JA) 絞り位置測定方法、絞り位置測定装置、絞り位置決め方法及び絞り位置決め装置
要約:
(EN) Disclosed are a diaphragm position measuring method and a diaphragm position measuring device which are capable of accurately measuring the amount of offset between the center of an optical diaphragm and the optical axis. Also disclosed are a diaphragm positioning method and a diaphragm positioning device which are capable of accurately disposing an optical diaphragm in a lens unit. If a light collection spot is formed by causing parallel light to be incident on a lens of a lens unit supported by a glass plate and the position of the light collection spot is detected by a microscope, the position of the light collection spot can be used as a reference point for positioning an optical diaphragm. The amount of offset between the position of the light collection spot and the position of the center of the optical diaphragm obtained by the microscope can be found by a central processing unit, and using the result thereof, the lens unit can be effectively inspected. Consequently, the amount of offset of the position of the center of the optical diaphragm can be detected with an error of ±3 μm or less.
(FR) L'invention concerne un procédé de mesure de position de diaphragme et un dispositif de mesure de position de diaphragme qui permettent de mesurer avec précision la quantité de décalage entre le centre d'un diaphragme optique et l'axe optique. Sont également décrits une méthode de positionnement de diaphragme et un dispositif de positionnement de diaphragme qui permettent de disposer avec précision un diaphragme optique dans une unité de lentille. Si un spot de collecte de lumière est formé en amenant une lumière parallèle à être incidente sur une lentille d'une unité de lentille supportée par une plaque de verre, et la position du spot de collecte de lumière est détectée par un microscope, la position du spot de collecte de lumière peut être utilisée comme point de référence pour le positionnement d'un diaphragme optique. La quantité de décalage entre la position du spot de collecte de lumière et la position du centre du diaphragme optique obtenue par le microscope peut être trouvée par une unité centrale de traitement, et en utilisant le résultat, l'unité de lentille peut être inspectée efficacement. En conséquence, la quantité de décalage de la position du centre du diaphragme optique peut être détectée avec une erreur de ± 3 mm ou moins.
(JA)  光学絞りの中心と光軸とのズレ量を精度よく測定できる絞り位置測定方法及び絞り位置測定装置を開示する。また、レンズユニットに光学絞りを精度よく配設することのできる絞り位置決め方法及び絞り位置決め装置を開示する。ガラス板に支持されたレンズユニットのレンズに平行光を入射して集光スポットを形成し、その集光スポットの位置を顕微鏡で検出すれば、これを、光学絞りを位置決めする為の基準点として用いることができる。集光スポットの位置と、顕微鏡で求めた光学絞りの中心位置とのズレ量を、中央演算装置で求めることができ、その結果を用いてレンズユニットの検査を有効に行うことができる。これにより、誤差±3μm以内で光学絞りの中心位置のズレ量を検出できる。
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指定国: AE, AG, AL, AM, AO, AT, AU, AZ, BA, BB, BG, BH, BR, BW, BY, BZ, CA, CH, CL, CN, CO, CR, CU, CZ, DE, DK, DM, DO, DZ, EC, EE, EG, ES, FI, GB, GD, GE, GH, GM, GT, HN, HR, HU, ID, IL, IN, IS, JP, KE, KG, KM, KN, KP, KR, KZ, LA, LC, LK, LR, LS, LT, LU, LY, MA, MD, ME, MG, MK, MN, MW, MX, MY, MZ, NA, NG, NI, NO, NZ, OM, PE, PG, PH, PL, PT, RO, RS, RU, SC, SD, SE, SG, SK, SL, SM, ST, SV, SY, TH, TJ, TM, TN, TR, TT, TZ, UA, UG, US, UZ, VC, VN, ZA, ZM, ZW
アフリカ広域知的所有権機関(ARIPO) (BW, GH, GM, KE, LR, LS, MW, MZ, NA, SD, SL, SZ, TZ, UG, ZM, ZW)
ユーラシア特許庁(EAPO) (AM, AZ, BY, KG, KZ, MD, RU, TJ, TM)
欧州特許庁(EPO) (AL, AT, BE, BG, CH, CY, CZ, DE, DK, EE, ES, FI, FR, GB, GR, HR, HU, IE, IS, IT, LT, LU, LV, MC, MK, MT, NL, NO, PL, PT, RO, RS, SE, SI, SK, SM, TR)
アフリカ知的所有権機関(OAPI) (BF, BJ, CF, CG, CI, CM, GA, GN, GQ, GW, ML, MR, NE, SN, TD, TG)
国際公開言語: 日本語 (JA)
国際出願言語: 日本語 (JA)
また、:
US20130120762JPWO2012011406