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1. (WO2012008274) 粒子線照射装置およびこれを備えた粒子線治療装置
国際事務局に記録されている最新の書誌情報

国際公開番号: WO/2012/008274 国際出願番号: PCT/JP2011/064271
国際公開日: 19.01.2012 国際出願日: 22.06.2011
IPC:
A61N 5/10 (2006.01) ,G21K 1/02 (2006.01) ,G21K 1/04 (2006.01) ,G21K 5/04 (2006.01)
A 生活必需品
61
医学または獣医学;衛生学
N
電気治療;磁気治療;放射線治療;超音波治療
5
放射線治療
10
X線治療;ガンマ線治療;粒子照射治療
G 物理学
21
核物理;核工学
K
他に分類されない粒子線または電離放射線の取扱い技術;照射装置;ガンマ線またはX線顕微鏡
1
粒子または電離放射線の取扱い装置,例.集束または減速
02
絞り,コリメーターを用いるもの
G 物理学
21
核物理;核工学
K
他に分類されない粒子線または電離放射線の取扱い技術;照射装置;ガンマ線またはX線顕微鏡
1
粒子または電離放射線の取扱い装置,例.集束または減速
02
絞り,コリメーターを用いるもの
04
可変絞り,シャッター,チョッパーを用いるもの
G 物理学
21
核物理;核工学
K
他に分類されない粒子線または電離放射線の取扱い技術;照射装置;ガンマ線またはX線顕微鏡
5
照射装置
04
ビーム形成手段をもつもの
出願人:
三菱電機株式会社 Mitsubishi Electric Corporation [JP/JP]; 東京都千代田区丸の内二丁目7番3号 7-3,Marunouchi 2-chome,Chiyoda-ku, Tokyo 1008310, JP (AllExceptUS)
蒲 越虎 PU Yuehu; JP (UsOnly)
原田 久 HARADA Hisashi; JP (UsOnly)
本田 泰三 HONDA Taizo; JP (UsOnly)
発明者:
蒲 越虎 PU Yuehu; JP
原田 久 HARADA Hisashi; JP
本田 泰三 HONDA Taizo; JP
代理人:
大岩 増雄 OIWA Masuo; 兵庫県尼崎市南武庫之荘3丁目35番8号 35-8, Minamimukonoso 3-chome, Amagasaki-shi, Hyogo 6610033, JP
優先権情報:
2010-16053815.07.2010JP
発明の名称: (EN) PARTICLE BEAM IRRADIATION APPARATUS AND PARTICLE BEAM THERAPY APPARATUS PROVIDED WITH SAME
(FR) APPAREIL PRODUISANT UN FAISCEAU DE PARTICULES ET APPAREIL DE TRAITEMENT PAR FAISCEAU DE PARTICULES L'UTILISANT
(JA) 粒子線照射装置およびこれを備えた粒子線治療装置
要約:
(EN) The present invention has the objective of providing a particle beam irradiation apparatus which, with a simple structure, is capable of checking the operation of a scanning mechanism and which has a relatively high reliability. The particle beam irradiation apparatus is provided with a particle beam shield (6) for shielding a portion of a scanned particle beam (4), an immediate signal detector (11) for detecting an immediate signal that is generated when the particle beam (4) which is scanned to the particle beam shield (6) hits the shield, and a signal comparison device (12) which predicts a pattern of generation of the immediate signal that is generated by a pre-determined scanning pattern and obtains the pattern to store thereof as a signal time pattern for comparison; wherein the signal comparison device (12) compares the detected signal time pattern, which is the time pattern of the signal detected at the immediate signal detector (11) when the particle beam was scanned according to the pre-determined scanning pattern and the particle beam was irradiated upon a target, and the stored signal time pattern for comparison, so as to detect an anomaly of the particle beam scanning or the particle beam shield (6).
(FR) La présente invention concerne un appareil produisant un faisceau de particules qui, malgré une structure simple, est capable de vérifier le fonctionnement d'un mécanisme de balayage et qui présente une fiabilité relativement élevée. L'appareil produisant un faisceau de particules comprend un blindage pour faisceau de particules (6) servant à faire écran à une partie du faisceau de particule balayé (4), un détecteur de signal immédiat (11) servant à détecter un signal immédiat qui est généré quand le faisceau de particules (4) qui est balayé sur le blindage pour faisceau de particules (6) frappe le blindage, et un dispositif de comparaison de signaux (12) qui prédit un profil de génération du signal immédiat qui est généré par un profil de balayage prédéterminé et qui le stocke sous la forme d'un profil signal-temps à des fins de comparaison. Le dispositif de comparaison de signaux (12) compare le profil signal-temps détecté, qui est le profil temporel du signal détecté par le détecteur de signal immédiat (11) quand le faisceau de particules est balayé selon le profil de balayage prédéterminé et le faisceau de particules est irradié sur une cible, et le profil signal-temps stocké à des fins de comparaison, afin de détecter une anomalie du balayage du faisceau de particules ou du blindage pour faisceau de particules (6).
(JA)  簡単な構成で走査機構などの動作をチェックでき、より信頼性の高い粒子線照射装置を提供することを目的とする。 走査された粒子ビーム(4)の一部を遮蔽する粒子ビーム遮蔽体(6)と、この粒子ビーム遮蔽体(6)に走査された粒子ビーム(4)が当たった時に発生する即信号を検出する即信号検出器(11)と、予め決められた走査パターンによって発生する即信号の発生パターンを予測して求めて比較用信号時間パターンとして格納する信号比較装置(12)とを備え、この信号比較装置(12)は、予め決められた走査パターンに従って粒子ビームを走査して標的に粒子ビームを照射した時に即信号検出器(11)で検出された信号の時間パターンである検出信号時間パターンと、格納された比較用信号時間パターンと、を比較して、粒子ビームの走査または粒子ビーム遮蔽体(6)の異常を検出するようにした。
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指定国: AE, AG, AL, AM, AO, AT, AU, AZ, BA, BB, BG, BH, BR, BW, BY, BZ, CA, CH, CL, CN, CO, CR, CU, CZ, DE, DK, DM, DO, DZ, EC, EE, EG, ES, FI, GB, GD, GE, GH, GM, GT, HN, HR, HU, ID, IL, IN, IS, JP, KE, KG, KM, KN, KP, KR, KZ, LA, LC, LK, LR, LS, LT, LU, LY, MA, MD, ME, MG, MK, MN, MW, MX, MY, MZ, NA, NG, NI, NO, NZ, OM, PE, PG, PH, PL, PT, RO, RS, RU, SC, SD, SE, SG, SK, SL, SM, ST, SV, SY, TH, TJ, TM, TN, TR, TT, TZ, UA, UG, US, UZ, VC, VN, ZA, ZM, ZW
アフリカ広域知的所有権機関 (ARIPO) (BW, GH, GM, KE, LR, LS, MW, MZ, NA, SD, SL, SZ, TZ, UG, ZM, ZW)
ユーラシア特許庁(EAPO) (AM, AZ, BY, KG, KZ, MD, RU, TJ, TM)
欧州特許庁(EPO) (AL, AT, BE, BG, CH, CY, CZ, DE, DK, EE, ES, FI, FR, GB, GR, HR, HU, IE, IS, IT, LT, LU, LV, MC, MK, MT, NL, NO, PL, PT, RO, RS, SE, SI, SK, SM, TR)
アフリカ知的所有権機関(OAPI) (BF, BJ, CF, CG, CI, CM, GA, GN, GQ, GW, ML, MR, NE, SN, TD, TG)
国際公開言語: 日本語 (JA)
国際出願言語: 日本語 (JA)
Also published as:
US20130053617CN102905761JPWO2012008274