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1. (WO2012005226) 厚み検査装置
国際事務局に記録されている最新の書誌情報

国際公開番号: WO/2012/005226 国際出願番号: PCT/JP2011/065311
国際公開日: 12.01.2012 国際出願日: 04.07.2011
IPC:
G01B 11/06 (2006.01)
G 物理学
01
測定;試験
B
長さ,厚さまたは同種の直線寸法の測定;角度の測定;面積の測定;表面または輪郭の不規則性の測定
11
光学的手段の使用によって特徴づけられた測定装置
02
長さ,幅または厚み測定用
06
厚み測定用
出願人:
株式会社メガトレード MEGA TRADE CORP. [JP/JP]; 京都府京都市伏見区竹田段川原町5 Dangawara-cho 5, Takeda, Fushimi-ku, Kyoto-city, Kyoto 6128414, JP (AllExceptUS)
笹井 昌年 SASAI Masatoshi [JP/JP]; JP
発明者:
笹井 昌年 SASAI Masatoshi; JP
代理人:
久留 徹 KURU Toru; 京都府京都市中京区富小路通六角下る骨屋之町550番地の2 550-2, Honeyano-cho, Rokkaku-sagaru, Tominokoji-dori, Nakagyo-ku, Kyoto-shi, Kyoto 6048064, JP
優先権情報:
2010-15347405.07.2010JP
発明の名称: (EN) THICKNESS DETECTION DEVICE
(FR) DISPOSITIF DE DÉTECTION D'ÉPAISSEUR
(JA) 厚み検査装置
要約:
(EN) The disclosed thickness detection device can accurately detect the thickness of a target object in a short time. Banded light (25) is irradiated at an angle in the movement direction along a mount member (11) and an image is generated from the reflected light. A thickness detection device (100) that detects the thickness of a product by detecting phase shifts is provided with: a filtering means (4) that acquires an image of the target object (10) from among images acquired by a line sensor (21) through the difference between the brightness value of the mount member (11) and the brightness value of the target object (10); a phase of a region (A1) of the target object (10) acquired through the filtering means (4); and a phase difference calculation means (5) that requests the phase difference in the phase of the banded light (25) that irradiates the mounting member (11). On the basis of the phase difference requested by the phase difference calculation means (5), the quality of the target object is determined.
(FR) La présente invention concerne un dispositif de détection d'épaisseur pouvant détecter de manière précise l'épaisseur d'un objet cible en peu de temps. De la lumière zonée (25) est irradiée selon un angle dans la direction du mouvement le long d'un élément de montage (11) et une image est générée à partir de la lumière réfléchie. Un dispositif de détection d'épaisseur (100) qui détecte l'épaisseur d'un produit en détectant des déphasages comporte : un moyen de filtration (4) qui acquiert une image de l'objet cible (10) parmi des images acquises par un capteur linéaire (21) par la différence entre la luminance de l'élément de montage (11) et la luminance de l'objet cible (10) ; une phase d'une région (A1) de l'objet cible (10) acquise par le moyen de filtration (4) ; et un moyen de calcul de la différence de phase (5) qui demande la différence de phase dans la phase de la lumière zonée (25) qui irradie l'élément de montage (11). En fonction de la différence de phase demandée par le moyen de calcul de la différence de phase (5), la qualité de l'objet cible est déterminée.
(JA) 【課題】短い時間で検査対象物の厚みを正確に検査できるようにする。 【解決手段】載置部材11に沿った移動方向に対して斜めの縞状光25を照射し、その反射光から画像を生成し、位相変化を検出することによって物品の厚みを検出する厚み検出装置100において、ラインセンサ21で取得された画像のうち、載置部材11の輝度値と検査対象物10の輝度値の違いによって検査対象物10の画像を取得するフィルタリング手段4と、そのフィルタリング手段4によって取得された検査対象物10の領域A1の位相と、載置部材11上に照射された縞状光25の位相の位相差を求める位相差算出手段5とを備え、その位相差算出手段5によって求められた位相差に基づいて検査対象物の良否を判定するようにした。
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指定国: AE, AG, AL, AM, AO, AT, AU, AZ, BA, BB, BG, BH, BR, BW, BY, BZ, CA, CH, CL, CN, CO, CR, CU, CZ, DE, DK, DM, DO, DZ, EC, EE, EG, ES, FI, GB, GD, GE, GH, GM, GT, HN, HR, HU, ID, IL, IN, IS, JP, KE, KG, KM, KN, KP, KR, KZ, LA, LC, LK, LR, LS, LT, LU, LY, MA, MD, ME, MG, MK, MN, MW, MX, MY, MZ, NA, NG, NI, NO, NZ, OM, PE, PG, PH, PL, PT, RO, RS, RU, SC, SD, SE, SG, SK, SL, SM, ST, SV, SY, TH, TJ, TM, TN, TR, TT, TZ, UA, UG, US, UZ, VC, VN, ZA, ZM, ZW
アフリカ広域知的所有権機関(ARIPO) (BW, GH, GM, KE, LR, LS, MW, MZ, NA, SD, SL, SZ, TZ, UG, ZM, ZW)
ユーラシア特許庁(EAPO) (AM, AZ, BY, KG, KZ, MD, RU, TJ, TM)
欧州特許庁(EPO) (AL, AT, BE, BG, CH, CY, CZ, DE, DK, EE, ES, FI, FR, GB, GR, HR, HU, IE, IS, IT, LT, LU, LV, MC, MK, MT, NL, NO, PL, PT, RO, RS, SE, SI, SK, SM, TR)
アフリカ知的所有権機関(OAPI) (BF, BJ, CF, CG, CI, CM, GA, GN, GQ, GW, ML, MR, NE, SN, TD, TG)
国際公開言語: 日本語 (JA)
国際出願言語: 日本語 (JA)
また、:
JPWO2012005226