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1. (WO2012005019) ガラス基板端面の評価方法及びガラス基板端面の加工方法並びにガラス基板
国際事務局に記録されている最新の書誌情報

国際公開番号: WO/2012/005019 国際出願番号: PCT/JP2011/053749
国際公開日: 12.01.2012 国際出願日: 21.02.2011
IPC:
C03C 19/00 (2006.01) ,G02F 1/1333 (2006.01)
C 化学;冶金
03
ガラス;鉱物またはスラグウール
C
ガラス,うわ薬またはガラス質ほうろうの化学組成;ガラスの表面処理;ガラス,鉱物またはスラグからの繊維またはフィラメントの表面処理;ガラスのガラスまたは他物質への接着
19
繊維やフィラメントの形態をとらないガラスの,機械的手段による表面処理(ガラスのサンドブラスト,荒けずりまたはつや出しB24)
G 物理学
02
光学
F
光の強度,色,位相,偏光または方向の制御,例.スイッチング,ゲーテイング,変調または復調のための装置または配置の媒体の光学的性質の変化により,光学的作用が変化する装置または配置;そのための技法または手順;周波数変換;非線形光学;光学的論理素子;光学的アナログ/デジタル変換器
1
独立の光源から到達する光の強度,色,位相,偏光または方向の制御のための装置または配置,例.スィッチング,ゲーテイングまたは変調;非線形光学
01
強度,位相,偏光または色の制御のためのもの
13
液晶に基づいたもの,例.単一の液晶表示セル
133
構造配置;液晶セルの作動;回路配置
1333
構造配置
出願人:
旭硝子株式会社 Asahi Glass Company, Limited. [JP/JP]; 東京都千代田区丸の内一丁目5番1号 5-1, Marunouchi 1-chome, Chiyoda-ku, Tokyo 1008405, JP (AllExceptUS)
宮本 幹大 MIYAMOTO Mikio [JP/JP]; JP (UsOnly)
鳥井 秀晴 TORII Hideharu [JP/JP]; JP (UsOnly)
木村 友紀 KIMURA Tomonori [JP/JP]; JP (UsOnly)
発明者:
宮本 幹大 MIYAMOTO Mikio; JP
鳥井 秀晴 TORII Hideharu; JP
木村 友紀 KIMURA Tomonori; JP
代理人:
小栗 昌平 OGURI Shohei; 東京都港区西新橋一丁目7番13号 虎ノ門イーストビルディング10階 栄光特許事務所 Eikoh Patent Firm, Toranomon East Bldg. 10F, 7-13, Nishi-Shimbashi 1-chome, Minato-ku, Tokyo 1050003, JP
優先権情報:
2010-15598708.07.2010JP
発明の名称: (EN) GLASS SUBSTRATE END SURFACE EVALUATION METHOD, GLASS SUBSTRATE END SURFACE PROCESSING METHOD, AND GLASS SUBSTRATE
(FR) PROCÉDÉ D'ÉVALUATION DE LA SURFACE EN BOUT D'UN SUBSTRAT DE VERRE, PROCÉDÉ DE TRAITEMENT DE LA SURFACE EN BOUT D'UN SUBSTRAT DE VERRE, ET SUBSTRAT DE VERRE
(JA) ガラス基板端面の評価方法及びガラス基板端面の加工方法並びにガラス基板
要約:
(EN) Disclosed are: a glass substrate end surface evaluation method that enables the characteristics of an end surface of a glass substrate to be accurately evaluated; a glass substrate end surface processing method based on the evaluation method; and a glass substrate for which the adhesion of dust on the glass substrate end surface can be reduced on the basis of the processing method, and for which the occurrence of defects such as burning, chipping, and cracking can be prevented on a chamfered surface on the basis of the processing method. According to the glass substrate end surface evaluation method, the glass substrate end surface processing method, and the glass substrate, an image of an end surface (Z) taken with a laser microscope (14) undergoes black and white binarization processing whereby recesses that exist on the end surface are identified as white images, and mirrored surfaces on the end surface are identified as black images, and the characteristics of the end surface of the glass substrate are evaluated on the basis of the ratio of the area of the white images to the area of the black images. The characteristics of an end surface (Z) of a glass substrate (G) can be more accurately evaluated by this evaluation method than the evaluation methods of the prior art, which involve stylus profilometers, whereby the reliability of the accuracy depends on the size of the recesses that exist on an end surface (Z).
(FR) L'invention porte sur un procédé d'évaluation de la surface en bout d'un substrat de verre, qui permet d'évaluer avec précision les caractéristiques d'une surface en bout d'un substrat de verre ; sur un procédé de traitement de la surface en bout d'un substrat de verre se fondant sur le procédé d'évaluation ; et sur un substrat de verre pour lequel il est possible de réduire, sur la base du procédé de traitement, l'adhérence des poussières à la surface en bout du substrat de verre, et pour lequel il est possible d'empêcher l'apparition de défauts tels qu'une brûlure, un écaillage et une craquelure sur une surface chanfreinée, sur la base du procédé de traitement. Conformément au procédé d'évaluation d'une surface en bout d'un substrat de verre, au procédé de traitement de la surface en bout du substrat de verre, ainsi qu'au substrat de verre, une image d'une surface en bout (Z), prise à l'aide d'un microscope à laser (14), subit un traitement de binarisation en noir et blanc, grâce auquel les renfoncements qui existent sur la surface en bout sont identifiés comme étant des images blanches, et les surfaces miroirs, sur la surface en bout, sont identifiées comme étant des images noires, et les caractéristiques de la surface en bout du substrat de verre sont évaluées sur la base du rapport entre l'aire des images blanches et l'aire des images noires. Les caractéristiques d'une surface en bout (Z) d'un substrat de verre (G) peuvent, par ce procédé d'évaluation, être évaluées plus précisément qu'avec les procédés d'évaluation de la technique antérieure, qui mettent en jeu des profilomètres à stylet, la fiabilité de la précision dépendant de la taille des renfoncements qui existent sur une surface en bout (Z).
(JA)  本発明は、ガラス基板の端面の性状を正確に評価することができるガラス基板端面の評価方法、及びこの評価方法に基づいたガラス基板端面の加工方法、並びにこの加工方法に基づいて、ガラス基板端面の塵付着を低減できるガラス基板、更にこの加工方法に基づき面取り面においてヤケ、チッピング、欠け等の欠点発生を防止することができるガラス基板を提供する。 本発明によれば、レーザ顕微鏡14によって撮像した端面Zの画像を白黒二値化処理し、端面に存在する凹部を白画像、端面の鏡面を黒画像として識別し、そして、黒画像の面積に対する白画像の面積の比率に基づいてガラス基板の端面の性状を評価する。この評価方法によれば、精度の信頼性が端面Zに存在する凹部の大きさに依存する従来の触針式粗さ計による評価方法と比較して、ガラス基板Gの端面Zの性状をより正確に評価することができる。
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指定国: AE, AG, AL, AM, AO, AT, AU, AZ, BA, BB, BG, BH, BR, BW, BY, BZ, CA, CH, CL, CN, CO, CR, CU, CZ, DE, DK, DM, DO, DZ, EC, EE, EG, ES, FI, GB, GD, GE, GH, GM, GT, HN, HR, HU, ID, IL, IN, IS, JP, KE, KG, KM, KN, KP, KR, KZ, LA, LC, LK, LR, LS, LT, LU, LY, MA, MD, ME, MG, MK, MN, MW, MX, MY, MZ, NA, NG, NI, NO, NZ, OM, PE, PG, PH, PL, PT, RO, RS, RU, SC, SD, SE, SG, SK, SL, SM, ST, SV, SY, TH, TJ, TM, TN, TR, TT, TZ, UA, UG, US, UZ, VC, VN, ZA, ZM, ZW
アフリカ広域知的所有権機関(ARIPO) (BW, GH, GM, KE, LR, LS, MW, MZ, NA, SD, SL, SZ, TZ, UG, ZM, ZW)
ユーラシア特許庁(EAPO) (AM, AZ, BY, KG, KZ, MD, RU, TJ, TM)
欧州特許庁(EPO) (AL, AT, BE, BG, CH, CY, CZ, DE, DK, EE, ES, FI, FR, GB, GR, HR, HU, IE, IS, IT, LT, LU, LV, MC, MK, MT, NL, NO, PL, PT, RO, RS, SE, SI, SK, SM, TR)
アフリカ知的所有権機関(OAPI) (BF, BJ, CF, CG, CI, CM, GA, GN, GQ, GW, ML, MR, NE, SN, TD, TG)
国際公開言語: 日本語 (JA)
国際出願言語: 日本語 (JA)
また、:
US20130122265EP2592057CN102985386JPWO2012005019KR1020130100259