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1. (WO2012002199) アクティブマトリクス基板、表示装置、およびこれらの検査方法
国際事務局に記録されている最新の書誌情報

国際公開番号: WO/2012/002199 国際出願番号: PCT/JP2011/064200
国際公開日: 05.01.2012 国際出願日: 22.06.2011
IPC:
G09G 3/20 (2006.01) ,G01R 31/00 (2006.01) ,G01R 31/02 (2006.01) ,G02F 1/13 (2006.01) ,G02F 1/1368 (2006.01) ,G09F 9/00 (2006.01) ,G09F 9/30 (2006.01)
G 物理学
09
教育;暗号方法;表示;広告;シール
G
静的手段を用いて可変情報を表示する表示装置の制御のための装置または回路
3
陰極線管以外の可視的表示器にのみ関連した,制御装置または回路
20
マトリックス状に配置された個々の要素の組み合わせによりその集合を構成することによって多数の文字の集合,例.1頁,を表示するためのもの
G 物理学
01
測定;試験
R
電気的変量の測定;磁気的変量の測定
31
電気的性質を試験するための装置;電気的故障の位置を示すための装置;試験対象に特徴のある電気的試験用の装置で,他に分類されないもの
G 物理学
01
測定;試験
R
電気的変量の測定;磁気的変量の測定
31
電気的性質を試験するための装置;電気的故障の位置を示すための装置;試験対象に特徴のある電気的試験用の装置で,他に分類されないもの
02
電気的装置,電線または構成要素の短絡,断線,漏電もしくは誤接続の試験
G 物理学
02
光学
F
光の強度,色,位相,偏光または方向の制御,例.スイッチング,ゲーテイング,変調または復調のための装置または配置の媒体の光学的性質の変化により,光学的作用が変化する装置または配置;そのための技法または手順;周波数変換;非線形光学;光学的論理素子;光学的アナログ/デジタル変換器
1
独立の光源から到達する光の強度,色,位相,偏光または方向の制御のための装置または配置,例.スィッチング,ゲーテイングまたは変調;非線形光学
01
強度,位相,偏光または色の制御のためのもの
13
液晶に基づいたもの,例.単一の液晶表示セル
G 物理学
02
光学
F
光の強度,色,位相,偏光または方向の制御,例.スイッチング,ゲーテイング,変調または復調のための装置または配置の媒体の光学的性質の変化により,光学的作用が変化する装置または配置;そのための技法または手順;周波数変換;非線形光学;光学的論理素子;光学的アナログ/デジタル変換器
1
独立の光源から到達する光の強度,色,位相,偏光または方向の制御のための装置または配置,例.スィッチング,ゲーテイングまたは変調;非線形光学
01
強度,位相,偏光または色の制御のためのもの
13
液晶に基づいたもの,例.単一の液晶表示セル
133
構造配置;液晶セルの作動;回路配置
136
半導体の層または基板と構造上組み合された液晶セル,例.集積回路の一部を構成するセル
1362
アクティブマトリックスセル
1368
スイッチング素子が三端子の素子であるもの
G 物理学
09
教育;暗号方法;表示;広告;シール
F
表示;広告;サイン;ラベルまたはネームプレート;シール
9
情報が個別素子の選択または組合わせによって支持体上に形成される可変情報用の指示装置
G 物理学
09
教育;暗号方法;表示;広告;シール
F
表示;広告;サイン;ラベルまたはネームプレート;シール
9
情報が個別素子の選択または組合わせによって支持体上に形成される可変情報用の指示装置
30
必要な文字が個々の要素を組み合わせることによって形成されるもの
出願人:
シャープ株式会社 SHARP KABUSHIKI KAISHA [JP/JP]; 大阪府大阪市阿倍野区長池町22番22号 22-22, Nagaike-cho, Abeno-ku, Osaka-shi, Osaka 5458522, JP (AllExceptUS)
川瀬伸行 KAWASE Nobuyuki; null (UsOnly)
小笠原功 OGASAWARA Isao; null (UsOnly)
生田一秀 IKUTA Kazuhide; null (UsOnly)
発明者:
川瀬伸行 KAWASE Nobuyuki; null
小笠原功 OGASAWARA Isao; null
生田一秀 IKUTA Kazuhide; null
代理人:
特許業務法人池内・佐藤アンドパートナーズ IKEUCHI SATO & PARTNER PATENT ATTORNEYS; 大阪府大阪市北区天満橋1丁目8番30号OAPタワー26階 26th Floor, OAP TOWER, 8-30, Tenmabashi 1-chome, Kita-ku, Osaka-shi, Osaka 5306026, JP
優先権情報:
2010-14633428.06.2010JP
発明の名称: (EN) ACTIVE MATRIX SUBSTRATE, DISPLAY DEVICE, AND METHOD FOR TESTING THE ACTIVE MATRIX SUBSTRATE OR THE DISPLAY DEVICE
(FR) SUBSTRAT DE MATRICE ACTIVE, DISPOSITIF D'AFFICHAGE ET PROCÉDÉ DE TEST DU SUBSTRAT DE MATRICE ACTIVE OU DU DISPOSITIF D'AFFICHAGE
(JA) アクティブマトリクス基板、表示装置、およびこれらの検査方法
要約:
(EN) Disclosed is an active matrix substrate which comprises: a plurality of bus lines (1, 2) that are provided in a pixel region (P); a plurality of signal terminals (5) that are provided in a connection terminal region (K); connection wiring lines (3); additional signal terminals (11); wiring lines for testing (8); and switching elements (4). The switching elements (4) are divided into a plurality of groups, and each group is capable of controlling the connection between a bus line and a wiring line for testing (8). Connection elements (12), each of which is composed of a diode or switching element connecting the plurality of signal terminals (5) with each other, are provided in the connection terminal region (K).
(FR) L'invention concerne un substrat de matrice active comprenant : plusieurs lignes de bus (1, 2) situées dans une région de pixels (P) ; plusieurs bornes de signaux (5) disposées dans une région de bornes de connexion (K) ; des lignes de câbles de connexion (3) ; des bornes de signaux supplémentaires (11) ; des lignes de câbles de test (8) ; et des éléments de commutation (4). Les éléments de commutation (4) sont divisés en plusieurs groupes, et chaque groupe peut commander la connexion entre une ligne de bus et une ligne de câble de test (8). Des éléments de connexion (12) comprenant chacun une diode ou un élément de commutation connectant lesdites plusieurs bornes de signaux (5) les unes aux autres sont disposés dans la région de bornes de connexion (K).
(JA) 画素領域(P)に設けられた複数のバスライン(1、2)と、接続端子領域(K)に設けられる、複数の信号端子(5)と、接続配線(3)と、付加信号端子(11)と、検査用配線(8)と、スイッチング素子(4)とを備え、スイッチング素子(4)は、複数のグループに分けられ、グループごとにバスラインと検査用配線(8)との接続が制御可能であり、接続端子領域(K)において、複数の信号端子(5)の間を接続するダイオードまたはスイッチング素子で構成される接続素子(12)が設けられる。
front page image
指定国: AE, AG, AL, AM, AO, AT, AU, AZ, BA, BB, BG, BH, BR, BW, BY, BZ, CA, CH, CL, CN, CO, CR, CU, CZ, DE, DK, DM, DO, DZ, EC, EE, EG, ES, FI, GB, GD, GE, GH, GM, GT, HN, HR, HU, ID, IL, IN, IS, JP, KE, KG, KM, KN, KP, KR, KZ, LA, LC, LK, LR, LS, LT, LU, LY, MA, MD, ME, MG, MK, MN, MW, MX, MY, MZ, NA, NG, NI, NO, NZ, OM, PE, PG, PH, PL, PT, RO, RS, RU, SC, SD, SE, SG, SK, SL, SM, ST, SV, SY, TH, TJ, TM, TN, TR, TT, TZ, UA, UG, US, UZ, VC, VN, ZA, ZM, ZW
アフリカ広域知的所有権機関 (ARIPO) (BW, GH, GM, KE, LR, LS, MW, MZ, NA, SD, SL, SZ, TZ, UG, ZM, ZW)
ユーラシア特許庁(EAPO) (AM, AZ, BY, KG, KZ, MD, RU, TJ, TM)
欧州特許庁(EPO) (AL, AT, BE, BG, CH, CY, CZ, DE, DK, EE, ES, FI, FR, GB, GR, HR, HU, IE, IS, IT, LT, LU, LV, MC, MK, MT, NL, NO, PL, PT, RO, RS, SE, SI, SK, SM, TR)
アフリカ知的所有権機関(OAPI) (BF, BJ, CF, CG, CI, CM, GA, GN, GQ, GW, ML, MR, NE, SN, TD, TG)
国際公開言語: 日本語 (JA)
国際出願言語: 日本語 (JA)
Also published as:
US20130099816EP2587473CN102959608JPWO2012002199KR1020130020725