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1. (WO2011132586) 細胞観察装置および細胞観察方法
国際事務局に記録されている最新の書誌情報

国際公開番号: WO/2011/132586 国際出願番号: PCT/JP2011/059201
国際公開日: 27.10.2011 国際出願日: 13.04.2011
IPC:
C12M 1/34 (2006.01) ,C12Q 1/02 (2006.01) ,G02B 21/00 (2006.01)
C 化学;冶金
12
生化学;ビール;酒精;ぶどう酒;酢;微生物学;酵素学;突然変異または遺伝子工学
M
酵素学または微生物学のための装置
1
酵素学または微生物学のための装置
34
状態の測定または検出手段をもって測定または試験を行なうもの,例.コロニー計数器
C 化学;冶金
12
生化学;ビール;酒精;ぶどう酒;酢;微生物学;酵素学;突然変異または遺伝子工学
Q
酵素または微生物を含む測定または試験方法そのための組成物または試験紙;その組成物を調製する方法;微生物学的または酵素学的方法における状態応答制御
1
酵素または微生物を含む測定または試験方法;そのための組成物;そのような組成物の製造方法
02
生きた微生物を含むもの
G 物理学
02
光学
B
光学要素,光学系,または光学装置
21
顕微鏡
出願人:
浜松ホトニクス株式会社 HAMAMATSU PHOTONICS K.K. [JP/JP]; 静岡県浜松市東区市野町1126番地の1 1126-1, Ichino-cho, Higashi-ku, Hamamatsu-shi, Shizuoka 4358558, JP (AllExceptUS)
杉山 範和 SUGIYAMA Norikazu [JP/JP]; JP (UsOnly)
片岡 卓治 KATAOKA Takuji [JP/JP]; JP (UsOnly)
池田 貴裕 IKEDA Takahiro [JP/JP]; JP (UsOnly)
発明者:
杉山 範和 SUGIYAMA Norikazu; JP
片岡 卓治 KATAOKA Takuji; JP
池田 貴裕 IKEDA Takahiro; JP
代理人:
長谷川 芳樹 HASEGAWA Yoshiki; 東京都千代田区丸の内二丁目1番1号丸の内 MY PLAZA(明治安田生命ビル) 9階 創英国際特許法律事務所 SOEI PATENT AND LAW FIRM, Marunouchi MY PLAZA (Meiji Yasuda Life Bldg.) 9th fl., 1-1, Marunouchi 2-chome, Chiyoda-ku, Tokyo 1000005, JP
優先権情報:
2010-10029523.04.2010JP
発明の名称: (EN) CELL OBSERVATION DEVICE AND CELL OBSERVATION METHOD
(FR) PROCÉDÉ ET APPAREIL POUR L'OBSERVATION DE CELLULES
(JA) 細胞観察装置および細胞観察方法
要約:
(EN) The disclosed cell observation device is provided with a reflection interference shutter (106A) for adjusting the amount of light irradiated from a reflection interference measurement light source (106), a quantitative phase shutter (105A) for adjusting the amount of light irradiated from a quantitative phase measurement light source (105), a camera (110) which generates reflection interference images by capturing light reflected from the reflection interference measurement light source (106) and generates quantitative phase images by capturing light transmitted from the quantitative phase measurement light source (105), and a first extracting unit (204) and a second extracting unit (205) which extract a first and a second parameter from the reflection interference images generated by the camera (110). When reflection interference images are generated, the quantitative phase shutter (105A) blocks light from the quantitative phase measurement light source (105). When quantitative phase images are generated, the reflection interference shutter (106A) blocks light from the reflection interference measurement light source (106).
(FR) L'appareil de cette invention comporte un obturateur (106A) d'interférences de réflexion destiné à ajuster la quantité de lumière d'un rayon émis par une source lumineuse (106) pour mesurer des interférences de réflexion, un obturateur (105A) de phase de quantité déterminée destiné à ajuster la quantité de lumière d'un rayon émis par une source lumineuse pour indicateur de phase de quantité déterminée, une caméra (11) qui tout en générant une image d'interférences de réflexion par capture du rayon réfléchi de la source lumineuse (106) pour mesurer des interférences de réflexion, génère une image de phase de quantité déterminée, par capture du rayon transmis de la source lumineuse (105) pour indicateur de phase de quantité déterminée, ainsi qu'une première section d'extraction (204) et une seconde section d'extraction (205) qui extraient des premiers paramètres et des seconds paramètres à partir de l'image d'interférences de réflexion générée par la caméra (110). Lors de la génération d'une image d'interférences de réflexion, l'obturateur (105A) de phase de quantité déterminée fait écran contre la lumière provenant de la source lumineuse (105) pour indicateur de phase de quantité déterminée, et lors de la génération d'une image de phase de quantité déterminée, l'obturateur (106A) d'interférences de réflexion fait écran contre la lumière provenant de la source lumineuse (106) pour mesurer des interférences de réflexion.
(JA)  反射干渉計測用光源106から放射される光の光量を調整する反射干渉シャッタ106Aと、定量位相計測用光源から放射される光の光量を調整する定量位相シャッタ105Aと、反射干渉計測用光源106からの反射光を撮像することにより、反射干渉画像を生成するとともに、定量位相計測用光源105からの透過光を撮像することにより、定量位相画像を生成するカメラ110と、カメラ110が生成した反射干渉画像より第1および第2パラメータを抽出する第1抽出部204および第2抽出部205とを備える。反射干渉画像を生成する際に、定量位相シャッタ105Aが定量位相計測用光源105からの光を遮光する。定量位相画像を生成する際に、反射干渉シャッタ106Aが反射干渉計測用光源106からの光を遮光する。
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指定国: AE, AG, AL, AM, AO, AT, AU, AZ, BA, BB, BG, BH, BR, BW, BY, BZ, CA, CH, CL, CN, CO, CR, CU, CZ, DE, DK, DM, DO, DZ, EC, EE, EG, ES, FI, GB, GD, GE, GH, GM, GT, HN, HR, HU, ID, IL, IN, IS, JP, KE, KG, KM, KN, KP, KR, KZ, LA, LC, LK, LR, LS, LT, LU, LY, MA, MD, ME, MG, MK, MN, MW, MX, MY, MZ, NA, NG, NI, NO, NZ, OM, PE, PG, PH, PL, PT, RO, RS, RU, SC, SD, SE, SG, SK, SL, SM, ST, SV, SY, TH, TJ, TM, TN, TR, TT, TZ, UA, UG, US, UZ, VC, VN, ZA, ZM, ZW
アフリカ広域知的所有権機関(ARIPO) (BW, GH, GM, KE, LR, LS, MW, MZ, NA, SD, SL, SZ, TZ, UG, ZM, ZW)
ユーラシア特許庁(EAPO) (AM, AZ, BY, KG, KZ, MD, RU, TJ, TM)
欧州特許庁(EPO) (AL, AT, BE, BG, CH, CY, CZ, DE, DK, EE, ES, FI, FR, GB, GR, HR, HU, IE, IS, IT, LT, LU, LV, MC, MK, MT, NL, NO, PL, PT, RO, RS, SE, SI, SK, SM, TR)
アフリカ知的所有権機関(OAPI) (BF, BJ, CF, CG, CI, CM, GA, GN, GQ, GW, ML, MR, NE, SN, TD, TG)
国際公開言語: 日本語 (JA)
国際出願言語: 日本語 (JA)
また、:
EP2562245US20130130307JPWO2011132586