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1. (WO2011129068) 偏心量測定方法
国際事務局に記録されている最新の書誌情報

国際公開番号: WO/2011/129068 国際出願番号: PCT/JP2011/002018
国際公開日: 20.10.2011 国際出願日: 05.04.2011
IPC:
G01M 11/00 (2006.01)
G 物理学
01
測定;試験
M
機械または構造物の静的または動的つり合い試験;他に分類されない構造物または装置の試験
11
光学装置の試験;他に分類されない光学的方法による構造物の試験
出願人:
コニカミノルタアドバンストレイヤー株式会社 Konica Minolta Advanced Layers, Inc. [JP/JP]; 東京都八王子市石川町2970番地 2970, Ishikawa-machi, Hachioji-shi, Tokyo 1928505, JP (AllExceptUS)
小椋 和幸 OGURA, Kazuyuki [JP/JP]; JP (UsOnly)
興津 昌広 OKITSU, Masahiro [JP/JP]; JP (UsOnly)
小川 洋一 OGAWA, Youichi [JP/JP]; JP (UsOnly)
高田 球 TAKADA, Kyu [JP/JP]; JP (UsOnly)
発明者:
小椋 和幸 OGURA, Kazuyuki; JP
興津 昌広 OKITSU, Masahiro; JP
小川 洋一 OGAWA, Youichi; JP
高田 球 TAKADA, Kyu; JP
代理人:
小谷 悦司 KOTANI, Etsuji; 大阪府大阪市北区中之島2丁目2番2号大阪中之島ビル2階 Osaka Nakanoshima Building 2nd Floor, 2-2, Nakanoshima 2-chome, Kita-ku, Osaka-shi, Osaka 5300005, JP
優先権情報:
2010-09205713.04.2010JP
発明の名称: (EN) ECCENTRIC AMOUNT MEASURING METHOD
(FR) MÉTHODE DE MESURE D'EXCENTRICITÉ
(JA) 偏心量測定方法
要約:
(EN) Disclosed is an eccentric amount measuring method, wherein a first position of a light source image formed by reflection by a first optical surface is measured (S2), a predetermined second position related to a second optical surface is measured (S3), and a relative eccentric amount between both the optical surfaces is calculated on the basis of the first and second positions (S5). In the eccentric amount measuring method, the eccentric amount can be measured by the same measurement optical system regardless of the radius of curvature of the optical surface of an optical element.
(FR) L'invention concerne une méthode de mesure d'excentricité, dans laquelle on mesure une première position d'une image d'une source lumineuse formée par la réflexion par une première surface optique (S2), une deuxième position prédéterminée associée à une deuxième surface optique (S3), et on calcule une excentricité relative entre les deux surfaces optiques en fonction de la première et de la deuxième position (S5). Dans la méthode de mesure d'excentricité, l'excentricité peut être mesurée par le même système optique de mesure quel que soit le rayon de courbure de la surface optique d'un élément optique.
(JA)  本発明にかかる偏心量測定方法では、一方の光学面での反射によって結像された光源の像の第1の位置が測定され(S2)、他方の光学面に関わる所定の第2の位置が測定され(S3)、これら第1および第2の各位置に基づいて両光学面における相対的な偏心量が算出される(S5)。このため、本発明にかかる偏心量測定方法は、光学素子の光学面の曲率半径に関わりなく、同一の測定光学系で偏心量を測定することができる。
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指定国: AE, AG, AL, AM, AO, AT, AU, AZ, BA, BB, BG, BH, BR, BW, BY, BZ, CA, CH, CL, CN, CO, CR, CU, CZ, DE, DK, DM, DO, DZ, EC, EE, EG, ES, FI, GB, GD, GE, GH, GM, GT, HN, HR, HU, ID, IL, IN, IS, JP, KE, KG, KM, KN, KP, KR, KZ, LA, LC, LK, LR, LS, LT, LU, LY, MA, MD, ME, MG, MK, MN, MW, MX, MY, MZ, NA, NG, NI, NO, NZ, OM, PE, PG, PH, PL, PT, RO, RS, RU, SC, SD, SE, SG, SK, SL, SM, ST, SV, SY, TH, TJ, TM, TN, TR, TT, TZ, UA, UG, US, UZ, VC, VN, ZA, ZM, ZW
アフリカ広域知的所有権機関(ARIPO) (BW, GH, GM, KE, LR, LS, MW, MZ, NA, SD, SL, SZ, TZ, UG, ZM, ZW)
ユーラシア特許庁(EAPO) (AM, AZ, BY, KG, KZ, MD, RU, TJ, TM)
欧州特許庁(EPO) (AL, AT, BE, BG, CH, CY, CZ, DE, DK, EE, ES, FI, FR, GB, GR, HR, HU, IE, IS, IT, LT, LU, LV, MC, MK, MT, NL, NO, PL, PT, RO, RS, SE, SI, SK, SM, TR)
アフリカ知的所有権機関(OAPI) (BF, BJ, CF, CG, CI, CM, GA, GN, GQ, GW, ML, MR, NE, SN, TD, TG)
国際公開言語: 日本語 (JA)
国際出願言語: 日本語 (JA)
また、:
US20130027692JPWO2011129068CN102822656