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1. (WO2011126041) 複合顕微鏡装置
国際事務局に記録されている最新の書誌情報

国際公開番号: WO/2011/126041 国際出願番号: PCT/JP2011/058684
国際公開日: 13.10.2011 国際出願日: 06.04.2011
予備審査請求日: 02.02.2012
IPC:
H01J 37/26 (2006.01) ,H01J 37/141 (2006.01) ,H01J 37/16 (2006.01) ,H01J 37/20 (2006.01) ,H01J 37/22 (2006.01)
H 電気
01
基本的電気素子
J
電子管または放電ランプ
37
放電にさらされる物体または材料を導入する設備を有する電子管,例,その試験や処理をするためのもの
26
電子またはイオン顕微鏡;電子またはイオン回折管
H 電気
01
基本的電気素子
J
電子管または放電ランプ
37
放電にさらされる物体または材料を導入する設備を有する電子管,例,その試験や処理をするためのもの
02
細部
04
電極装置および放電を発生しまたは制御するための関連部品,例.電子光学装置,イオン光学装置
10
レンズ
14
磁気的なもの
141
電磁レンズ
H 電気
01
基本的電気素子
J
電子管または放電ランプ
37
放電にさらされる物体または材料を導入する設備を有する電子管,例,その試験や処理をするためのもの
02
細部
16
うつわ;容器
H 電気
01
基本的電気素子
J
電子管または放電ランプ
37
放電にさらされる物体または材料を導入する設備を有する電子管,例,その試験や処理をするためのもの
02
細部
20
物体または材料を支持しまたは位置づける手段;支持体に関連した隔膜壁またはレンズを調節する手段
H 電気
01
基本的電気素子
J
電子管または放電ランプ
37
放電にさらされる物体または材料を導入する設備を有する電子管,例,その試験や処理をするためのもの
02
細部
22
管と関連した光学または写真装置
出願人:
大学共同利用機関法人自然科学研究機構 INTER-UNIVERSITY RESEARCH INSTITUTE CORPORATION NATIONAL INSTITUTES OF NATURAL SCIENCES [JP/JP]; 東京都三鷹市大沢二丁目21番1号 2-21-1, Osawa, Mitaka-shi, Tokyo 1818588, JP (AllExceptUS)
ナガヤマ アイピー ホールディングス エルエルシー NAGAYAMA IP HOLDINGS, LLC [US/US]; ニューヨーク エヌワイ 10022、805 サードアベニュー、17 フロア、トヨタ ツウショー アメリカ インク内 c/o Toyota Tsusho America, Inc. 805 Third Avenue, 17th Floor New York, NY 10022, US (AllExceptUS)
日本電子株式会社 JEOL LTD. [JP/JP]; 東京都昭島市武蔵野3丁目1番2号 1-2, Musashino 3-chome, Akishima-shi, Tokyo 1968558, JP (AllExceptUS)
永山 國昭 NAGAYAMA Kuniaki [JP/JP]; JP (UsOnly)
新井 善博 ARAI Yoshihiro [JP/JP]; JP (UsOnly)
飯島 寛文 IIJIMA Hirofumi [JP/JP]; JP (UsOnly)
寺川 進 TERAKAWA Susumu [JP/JP]; JP (UsOnly)
発明者:
永山 國昭 NAGAYAMA Kuniaki; JP
新井 善博 ARAI Yoshihiro; JP
飯島 寛文 IIJIMA Hirofumi; JP
寺川 進 TERAKAWA Susumu; JP
代理人:
渡邊 薫 WATANABE Kaoru; 東京都港区高輪2丁目20番29号サクセス泉岳寺ビル3階薫風国際特許事務所 KUNPU INTELLECTUAL PROPERTY AGENTS, SUCCESS-SENGAKUJI BLDG. 3F, 2-20-29, Takanawa, Minato-ku, Tokyo 1080074, JP
優先権情報:
2010-08820106.04.2010JP
発明の名称: (EN) COMPOUND MICROSCOPE DEVICE
(FR) DISPOSITIF DE MICROSCOPE COMPOSÉ
(JA) 複合顕微鏡装置
要約:
(EN) Disclosed is a compound microscope device (1) which is provided with a transmissive electron microscope (2), and an optical microscope (4). On the electron optical axis (C) of an electron beam, a sample (10) and a reflecting mirror (41) are disposed, and the reflecting mirror is tilted from the electron optical axis toward an optical objective lens (43) and the sample. Light, such as fluorescent light, reflected light and the like, which is generated from the sample, is inputted to the optical objective lens by being reflected by the reflecting mirror, and is detected by an optical detecting section (46). The electron beam that has passed through the sample passes through the installation center hole (42) of the reflecting mirror, and is detected by a detecting section (30). Thus, the compound microscope device, whereby the same sample can be observed at the same time by means of the transmissive electron microscope and the optical microscope, is provided.
(FR) La présente invention a trait à un dispositif de microscope composé (1) qui est équipé d'un microscope électronique transmissif (2) et d'un microscope optique (4). Sur l'axe électro-optique (C) d'un faisceau électronique, un échantillon (10) et un miroir réfléchissant (41) sont disposés et le miroir réfléchissant est incliné depuis l'axe électro-optique vers une lentille de focalisation optique (43) et l'échantillon. La lumière, telle qu'une lumière fluorescente, une lumière réfléchie ou similaire, qui est produite à partir de l'échantillon, est fournie à la lentille de focalisation optique en étant réfléchie par le miroir réfléchissant et est détectée par une section de détection optique (46). Le faisceau électronique qui est passé par l'échantillon passe par le trou central de l'installation (42) du miroir réfléchissant et est détecté au moyen d'une section de détection (30). De la sorte, il est possible de fournir le dispositif de microscope composé, grâce auquel le même échantillon peut être observé à la fois au moyen d'un microscope électronique transmissif et d'un microscope optique.
(JA)  本発明の複合顕微鏡装置(1)は、透過型の電子顕微鏡(2)と、光学顕微鏡(4)とを備える。電子線の電子光軸(C)上には試料(10)と反射鏡(41)とが配置され、前記反射鏡は光学対物レンズ(43)と試料に向かって前記電子光軸から傾斜している。試料から発生する蛍光光、反射光等の光は、反射鏡で反射されて光学対物レンズに入射し、光学検出部(46)で検出される。試料を透過した電子線は反射鏡の設置中心孔(42)を通過して、検出部(30)で検出される。 これにより、透過電子顕微鏡と光学顕微鏡で同一試料を同時に観察可能な複合顕微鏡装置を提供することが可能になった。
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指定国: AE, AG, AL, AM, AO, AT, AU, AZ, BA, BB, BG, BH, BR, BW, BY, BZ, CA, CH, CL, CN, CO, CR, CU, CZ, DE, DK, DM, DO, DZ, EC, EE, EG, ES, FI, GB, GD, GE, GH, GM, GT, HN, HR, HU, ID, IL, IN, IS, JP, KE, KG, KM, KN, KP, KR, KZ, LA, LC, LK, LR, LS, LT, LU, LY, MA, MD, ME, MG, MK, MN, MW, MX, MY, MZ, NA, NG, NI, NO, NZ, OM, PE, PG, PH, PL, PT, RO, RS, RU, SC, SD, SE, SG, SK, SL, SM, ST, SV, SY, TH, TJ, TM, TN, TR, TT, TZ, UA, UG, US, UZ, VC, VN, ZA, ZM, ZW
アフリカ広域知的所有権機関(ARIPO) (BW, GH, GM, KE, LR, LS, MW, MZ, NA, SD, SL, SZ, TZ, UG, ZM, ZW)
ユーラシア特許庁(EAPO) (AM, AZ, BY, KG, KZ, MD, RU, TJ, TM)
欧州特許庁(EPO) (AL, AT, BE, BG, CH, CY, CZ, DE, DK, EE, ES, FI, FR, GB, GR, HR, HU, IE, IS, IT, LT, LU, LV, MC, MK, MT, NL, NO, PL, PT, RO, RS, SE, SI, SK, SM, TR)
アフリカ知的所有権機関(OAPI) (BF, BJ, CF, CG, CI, CM, GA, GN, GQ, GW, ML, MR, NE, SN, TD, TG)
国際公開言語: 日本語 (JA)
国際出願言語: 日本語 (JA)
また、:
EP2557588US20130088775JPWO2011126041