(EN) A particle measuring system is equipped with a stage, an illumination device for reflected light, an illumination device for transmitted light, an illumination control device, an imaging device, and an image processing device. On the basis of a transmitted light image, in which opaque fine particle groups are captured using transmitted light, and a reflected light image, in which opaque fine particle groups are captured using reflected light, various characteristics (position, size, brightness, and the like) of the individual particles in the fine particle groups are simultaneously measured by associating the transmitted light particles that are present in the transmitted light image with the reflected light particles that are present in the reflected light image using a predetermined method.
(FR) L'invention porte sur un système de mesure de particules, équipé d'une platine, d'un dispositif d'éclairage pour la lumière réfléchie, d'un dispositif d'éclairage pour la lumière transmise, d'un dispositif de commande d'éclairage, d'un dispositif d'imagerie et d'un dispositif de traitement d'image. Sur la base de l'image en lumière transmise, dans laquelle des groupes de particules fines opaques sont capturés par utilisation de la lumière transmise, et d'une image en lumière réfléchie, dans laquelle des groupes de particules fines opaques sont capturés par utilisation de la lumière réfléchie, différentes caractéristiques (position, granulométrie, luminosité et analogues) des particules individuelles se trouvant dans les groupes de particules fines sont simultanément mesurées par association des particules en lumière transmise, qui sont présentes dans l'image en lumière transmise, aux particules en lumière réfléchie, qui sont présentes dans l'image en lumière réfléchie, par utilisation d'un procédé prédéterminé.
(JA) この粒子測定装置は、ステージと、反射光用照明装置と、透過光用照明装置と、照明制御装置と、撮像装置と、画像処理装置とを備える。そして、透過光を用いて不透明な微粒子群を撮像した透過光画像と、反射光を用いて不透明な微粒子群を撮像した反射光画像とに基づき、透過光画像中に存在する透過光粒子と反射光画像中に存在する反射光粒子とを所定の方法により対応付けることにより、微粒子群中の個々の粒子の各種特性(位置、大きさ、明度等)を同時に測定する。