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1. WO2011125927 - 粒子測定装置および粒子測定方法

公開番号 WO/2011/125927
公開日 13.10.2011
国際出願番号 PCT/JP2011/058399
国際出願日 01.04.2011
IPC
G01B 11/00 2006.1
G物理学
01測定;試験
B長さ,厚さまたは同種の直線寸法の測定;角度の測定;面積の測定;表面または輪郭の不規則性の測定
11光学的手段の使用によって特徴づけられた測定装置
G01B 11/08 2006.1
G物理学
01測定;試験
B長さ,厚さまたは同種の直線寸法の測定;角度の測定;面積の測定;表面または輪郭の不規則性の測定
11光学的手段の使用によって特徴づけられた測定装置
08直径測定用
G01B 11/28 2006.1
G物理学
01測定;試験
B長さ,厚さまたは同種の直線寸法の測定;角度の測定;面積の測定;表面または輪郭の不規則性の測定
11光学的手段の使用によって特徴づけられた測定装置
28面積測定用
G01N 15/02 2006.1
G物理学
01測定;試験
N材料の化学的または物理的性質の決定による材料の調査または分析
15粒子の特徴の調査;多孔性材料の透過率,気孔量または表面積の調査
02粒度または粒度分布の調査
G01N 21/84 2006.1
G物理学
01測定;試験
N材料の化学的または物理的性質の決定による材料の調査または分析
21光学的手段,すなわち,赤外線,可視光線または紫外線を使用することによる材料の調査または分析
84特殊な応用に特に適合したシステム
CPC
G01B 11/00
GPHYSICS
01MEASURING; TESTING
BMEASURING LENGTH, THICKNESS OR SIMILAR LINEAR DIMENSIONS; MEASURING ANGLES; MEASURING AREAS; MEASURING IRREGULARITIES OF SURFACES OR CONTOURS
11Measuring arrangements characterised by the use of optical means
G01B 11/08
GPHYSICS
01MEASURING; TESTING
BMEASURING LENGTH, THICKNESS OR SIMILAR LINEAR DIMENSIONS; MEASURING ANGLES; MEASURING AREAS; MEASURING IRREGULARITIES OF SURFACES OR CONTOURS
11Measuring arrangements characterised by the use of optical means
08for measuring diameters
G01N 15/02
GPHYSICS
01MEASURING; TESTING
NINVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
15Investigating characteristics of particles; Investigating permeability, pore-volume, or surface-area of porous materials
02Investigating particle size or size distribution
G01N 15/0227
GPHYSICS
01MEASURING; TESTING
NINVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
15Investigating characteristics of particles; Investigating permeability, pore-volume, or surface-area of porous materials
02Investigating particle size or size distribution
0205by optical means, e.g. by light scattering, diffraction, holography or imaging
0227using imaging, e.g. a projected image of suspension; using holography
G01N 15/1463
GPHYSICS
01MEASURING; TESTING
NINVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
15Investigating characteristics of particles; Investigating permeability, pore-volume, or surface-area of porous materials
10Investigating individual particles
14Electro-optical investigation, e.g. flow cytometers
1456without spatial resolution of the texture or inner structure of the particle, e.g. processing of pulse signals
1463using image analysis for extracting features of the particle
G01N 2021/4771
GPHYSICS
01MEASURING; TESTING
NINVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
21Investigating or analysing materials by the use of optical means, i.e. using sub-millimetre waves, infrared, visible or ultraviolet light
17Systems in which incident light is modified in accordance with the properties of the material investigated
47Scattering, i.e. diffuse reflection
4738Diffuse reflection
4764Special kinds of physical applications
4771Matte surfaces with reflecting particles
出願人
  • 新日本製鐵株式会社 NIPPON STEEL CORPORATION [JP]/[JP] (AllExceptUS)
  • 伊藤 信明 ITO Nobuaki [JP]/[JP] (UsOnly)
発明者
  • 伊藤 信明 ITO Nobuaki
代理人
  • 志賀 正武 SHIGA Masatake
優先権情報
2010-08498601.04.2010JP
公開言語 (言語コード) 日本語 (ja)
出願言語 (言語コード) 日本語 (JA)
指定国 (国コード)
発明の名称
(EN) PARTICLE MEASURING SYSTEM AND PARTICLE MEASURING METHOD
(FR) SYSTÈME DE MESURE DE PARTICULES ET PROCÉDÉ DE MESURE DE PARTICULES
(JA) 粒子測定装置および粒子測定方法
要約
(EN) A particle measuring system is equipped with a stage, an illumination device for reflected light, an illumination device for transmitted light, an illumination control device, an imaging device, and an image processing device. On the basis of a transmitted light image, in which opaque fine particle groups are captured using transmitted light, and a reflected light image, in which opaque fine particle groups are captured using reflected light, various characteristics (position, size, brightness, and the like) of the individual particles in the fine particle groups are simultaneously measured by associating the transmitted light particles that are present in the transmitted light image with the reflected light particles that are present in the reflected light image using a predetermined method.
(FR) L'invention porte sur un système de mesure de particules, équipé d'une platine, d'un dispositif d'éclairage pour la lumière réfléchie, d'un dispositif d'éclairage pour la lumière transmise, d'un dispositif de commande d'éclairage, d'un dispositif d'imagerie et d'un dispositif de traitement d'image. Sur la base de l'image en lumière transmise, dans laquelle des groupes de particules fines opaques sont capturés par utilisation de la lumière transmise, et d'une image en lumière réfléchie, dans laquelle des groupes de particules fines opaques sont capturés par utilisation de la lumière réfléchie, différentes caractéristiques (position, granulométrie, luminosité et analogues) des particules individuelles se trouvant dans les groupes de particules fines sont simultanément mesurées par association des particules en lumière transmise, qui sont présentes dans l'image en lumière transmise, aux particules en lumière réfléchie, qui sont présentes dans l'image en lumière réfléchie, par utilisation d'un procédé prédéterminé.
(JA)  この粒子測定装置は、ステージと、反射光用照明装置と、透過光用照明装置と、照明制御装置と、撮像装置と、画像処理装置とを備える。そして、透過光を用いて不透明な微粒子群を撮像した透過光画像と、反射光を用いて不透明な微粒子群を撮像した反射光画像とに基づき、透過光画像中に存在する透過光粒子と反射光画像中に存在する反射光粒子とを所定の方法により対応付けることにより、微粒子群中の個々の粒子の各種特性(位置、大きさ、明度等)を同時に測定する。
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