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1. (WO2011122365) 半導体集積回路の経年劣化診断回路および経年劣化診断方法
国際事務局に記録されている最新の書誌情報

国際公開番号: WO/2011/122365 国際出願番号: PCT/JP2011/056495
国際公開日: 06.10.2011 国際出願日: 11.03.2011
IPC:
H01L 21/822 (2006.01) ,H01L 27/04 (2006.01) ,H03K 19/00 (2006.01)
H 電気
01
基本的電気素子
L
半導体装置,他に属さない電気的固体装置
21
半導体装置または固体装置またはそれらの部品の製造または処理に特に適用される方法または装置
70
1つの共通基板内または上に形成された複数の固体構成部品または集積回路からなる装置またはその特定部品の製造または処理;集積回路装置またはその特定部品の製造
77
1つの共通基板内または上に形成される複数の固体構成部品または集積回路からなる装置の製造または処理
78
複数の別個の装置に基板を分割することによるもの
82
それぞれが複数の構成部品からなる装置,例.集積回路の製造
822
基板がシリコン技術を用いる半導体であるもの
H 電気
01
基本的電気素子
L
半導体装置,他に属さない電気的固体装置
27
1つの共通基板内または上に形成された複数の半導体構成部品または他の固体構成部品からなる装置
02
整流,発振,増幅またはスイッチングに特に適用される半導体構成部品を含むものであり,少なくとも1つの電位障壁または表面障壁を有するもの;少なくとも1つの電位障壁または表面障壁を有する集積化された受動回路素子を含むもの
04
基板が半導体本体であるもの
H 電気
03
基本電子回路
K
パルス技術
19
論理回路,すなわち,1出力に作用する少なくとも2入力を持つもの;反転回路
出願人:
日本電気株式会社 NEC Corporation [JP/JP]; 東京都港区芝五丁目7番1号 7-1, Shiba 5-chome, Minato-ku, Tokyo 1088001, JP (AllExceptUS)
實吉 永典 SANEYOSHI, Eisuke [JP/JP]; JP (UsOnly)
野瀬 浩一 NOSE, Koichi [JP/JP]; JP (UsOnly)
発明者:
實吉 永典 SANEYOSHI, Eisuke; JP
野瀬 浩一 NOSE, Koichi; JP
代理人:
池田 憲保 IKEDA, Noriyasu; 東京都千代田区内幸町1丁目2番2号日比谷ダイビル Hibiya Daibiru Bldg., 2-2, Uchisaiwaicho 1-chome, Chiyoda-ku, Tokyo 1000011, JP
優先権情報:
2010-07529229.03.2010JP
発明の名称: (EN) AGING DIAGNOSIS CIRCUIT AND AGING DIAGNOSIS METHOD FOR SEMICONDUCTOR INTEGRATED CIRCUIT
(FR) CIRCUIT DE DIAGNOSTIC DE VIEILLISSEMENT ET PROCÉDÉ DE DIAGNOSTIC DE VIEILLISSEMENT POUR CIRCUIT INTÉGRÉ À SEMI-CONDUCTEURS
(JA) 半導体集積回路の経年劣化診断回路および経年劣化診断方法
要約:
(EN) Disclosed an aging diagnosis circuit comprising a first delay circuit in which an input signal is delayed and a first output signal is output that is formed by a gate array that advances aging, a second delay circuit in which an input signal is delayed and a second output signal is output that is formed by a gate array in the same column as the first delay circuit, and an arbitrary delay unit that enables a prescribed increase and decrease of delay time in the aforementioned second delay circuit. A delay comparison unit outputs comparison information obtained by relatively comparing the delay between the aforementioned first and second output signals. An adjustment unit readjusts the delay time in the second delay circuit using the aforementioned comparison information.
(FR) L'invention concerne un circuit de diagnostic de vieillissement comprenant un premier circuit à retard dans lequel un signal d'entrée est retardé et un premier signal de sortie formé par un réseau prédiffusé qui avance le vieillissement est délivré, un deuxième circuit à retard dans lequel un signal d'entrée est retardé et un deuxième signal de sortie formé par un réseau prédiffusé dans la même colonne que le premier circuit à retard est délivré, et une unité de retard arbitraire qui permet une augmentation et une diminution prescrites du retard dans le deuxième circuit à retard susmentionné. Une unité de comparaison de retards délivre des informations de comparaison obtenues en comparant relativement le retard entre le premier et le deuxième circuits à retard susmentionnés. Une unité d'ajustement réajuste le retard dans le deuxième circuit à retard en utilisant lesdites informations de comparaison.
(JA)  経年劣化診断回路は、経年劣化を進行させるゲート列で構成され、入力信号が遅延されて第1の出力信号が出力される第1のディレイ回路と、第1のディレイ回路と同一段のゲート列で構成され、入力信号が遅延されて第2の出力信号が出力される第2のディレイ回路と、前記第2のディレイ回路における遅延時間を所定量増減可能とする任意遅延部と、を含む。遅延比較部は、前記第1、第2の出力信号間の遅延を相対的に比較して得た比較情報を出力する。調整部は、前記比較情報を用いて、第2のディレイ回路における遅延時間を再調整する。
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指定国: AE, AG, AL, AM, AO, AT, AU, AZ, BA, BB, BG, BH, BR, BW, BY, BZ, CA, CH, CL, CN, CO, CR, CU, CZ, DE, DK, DM, DO, DZ, EC, EE, EG, ES, FI, GB, GD, GE, GH, GM, GT, HN, HR, HU, ID, IL, IN, IS, JP, KE, KG, KM, KN, KP, KR, KZ, LA, LC, LK, LR, LS, LT, LU, LY, MA, MD, ME, MG, MK, MN, MW, MX, MY, MZ, NA, NG, NI, NO, NZ, OM, PE, PG, PH, PL, PT, RO, RS, RU, SC, SD, SE, SG, SK, SL, SM, ST, SV, SY, TH, TJ, TM, TN, TR, TT, TZ, UA, UG, US, UZ, VC, VN, ZA, ZM, ZW
アフリカ広域知的所有権機関(ARIPO) (BW, GH, GM, KE, LR, LS, MW, MZ, NA, SD, SL, SZ, TZ, UG, ZM, ZW)
ユーラシア特許庁(EAPO) (AM, AZ, BY, KG, KZ, MD, RU, TJ, TM)
欧州特許庁(EPO) (AL, AT, BE, BG, CH, CY, CZ, DE, DK, EE, ES, FI, FR, GB, GR, HR, HU, IE, IS, IT, LT, LU, LV, MC, MK, MT, NL, NO, PL, PT, RO, RS, SE, SI, SK, SM, TR)
アフリカ知的所有権機関(OAPI) (BF, BJ, CF, CG, CI, CM, GA, GN, GQ, GW, ML, MR, NE, SN, TD, TG)
国際公開言語: 日本語 (JA)
国際出願言語: 日本語 (JA)
また、:
US20130002274JPWO2011122365