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1. (WO2011122262) ターゲット投影装置及びターゲット投影方法
国際事務局に記録されている最新の書誌情報

国際公開番号: WO/2011/122262 国際出願番号: PCT/JP2011/055342
国際公開日: 06.10.2011 国際出願日: 08.03.2011
IPC:
G01B 11/25 (2006.01) ,G01B 11/245 (2006.01) ,G06T 1/00 (2006.01)
G 物理学
01
測定;試験
B
長さ,厚さまたは同種の直線寸法の測定;角度の測定;面積の測定;表面または輪郭の不規則性の測定
11
光学的手段の使用によって特徴づけられた測定装置
24
輪郭または曲率の測定用
25
対象物にパターン,例.モアレ縞,を投影することによるもの
G 物理学
01
測定;試験
B
長さ,厚さまたは同種の直線寸法の測定;角度の測定;面積の測定;表面または輪郭の不規則性の測定
11
光学的手段の使用によって特徴づけられた測定装置
24
輪郭または曲率の測定用
245
複数の,固定された,同時に作動する変換器を用いるもの
G 物理学
06
計算;計数
T
イメージデータ処理または発生一般
1
汎用イメージデータ処理
出願人:
株式会社トプコン TOPCON CORPORATION [JP/JP]; 東京都板橋区蓮沼町75番1号 75-1, Hasunuma-cho, Itabashi-ku, Tokyo 1748580, JP (AllExceptUS)
高地 伸夫 KOCHI,Nobuo [JP/JP]; JP (UsOnly)
森山 拓哉 MORIYAMA, Takuya [JP/JP]; JP (UsOnly)
発明者:
高地 伸夫 KOCHI,Nobuo; JP
森山 拓哉 MORIYAMA, Takuya; JP
代理人:
宮川 貞二 MIYAGAWA,Teiji; 東京都新宿区愛住町19番地 富士ビル6階 6th Floor,Fuji Bldg.,19,Aizumi-cho,Shinjuku-ku, Tokyo 1600005, JP
優先権情報:
2010-08452831.03.2010JP
発明の名称: (EN) TARGET-PROJECTING DEVICE AND TARGET-PROJECTING METHOD
(FR) DISPOSITIF DE PROJECTION DE CIBLE ET PROCÉDÉ DE PROJECTION DE CIBLE
(JA) ターゲット投影装置及びターゲット投影方法
要約:
(EN) Disclosed is a target-projecting device that corrects a for-projection target and re-projects the target, when detection of a target projected on a measurement object is difficult. The target-projecting device is equipped with a projecting unit (3) that projects onto a measurement object (2) a for-projection target image (F1) displayed with a target (T); capturing unit (4) that gets a captured image (F3) by capturing a target image (F2) shown on the measurement object (2) by projecting the for-projection target image (F1) from the projecting unit (3); a target-feature detection unit (62) that detects features of the target (T) from the captured image (F3) captured by the capturing unit (4); a permitted condition storage unit (54) that stores predetermined permitted conditions related to the target (T) in the captured image (F3); a permitted condition judgment unit (7) that judges whether the captured image (F3) satisfies the predetermined permitted conditions; and an image-processing unit (8) that corrects the for-projection target image (F1) by changing a feature of the target (T) to satisfy the predetermined permitted condition when the permitted condition judgment unit (7) judges that the predetermined permitted conditions were not satisfied.
(FR) L'invention concerne un dispositif de projection de cible qui corrige une cible à projeter et projette de nouveau la cible lorsque la détection d'une cible projetée sur un objet de mesure est difficile. Le dispositif de projection de cible est équipé d'une unité de projection (3) qui projette sur un objet de mesure (2) une image de cible à projeter (F1) affichée avec une cible (T) ; d'une unité d'acquisition (4) qui obtient une image acquise (F3) en acquérant une image de cible (F2) présentée sur l'objet de mesure (2) par projection de l'image de cible à projeter (F1) depuis l'unité de projection (3) ; d'une unité de détection d'éléments de cible (62) qui détecte des éléments de la cible (T) à partir de l'image acquise (F3) obtenue par l'unité d'acquisition (4) ; d'une unité de mémorisation de conditions autorisées (54) qui mémorise des conditions autorisées prédéterminées relatives à la cible (T) dans l'image acquise (F3) ; d'une unité de détermination de conditions autorisées (7) qui détermine si l'image acquise (F3) satisfait aux conditions autorisées prédéterminées ; et d'une unité de traitement d'image (8) qui corrige l'image de cible à projeter (F1) en changeant un élément de la cible (T) pour satisfaire aux conditions autorisées prédéterminées lorsque l'unité de détermination de conditions autorisées (7) détermine que les conditions autorisées prédéterminées ne sont pas satisfaites.
(JA)  測定対象に投影されたターゲットが検出し難い場合に、投影用ターゲット画像を補正して、再度投影できるターゲット投影装置を提供する。 ターゲットTが表示された投影用ターゲット画像F1を測定対象2に投影する投影部3、投影部3から投影用ターゲット画像F1を投影して測定対象2に映されたターゲット映像F2を撮影して撮影画像F3を得る撮影部4、撮影部4で撮影された撮影画像F3からターゲットTの特徴を検出するターゲット特徴検出部62、撮影画像F3におけるターゲットTの特徴に関する所定の許容条件を記憶する許容条件記憶部54、撮影画像F3が所定の許容条件を満たすか否かを判定する許容条件判定部7、許容条件判定部7が所定の許容条件を満たさないと判定した場合には、所定の許容条件を満たすようにターゲットTの特徴を変更して投影用ターゲット画像F1を補正する画像処理部8とを備える。
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指定国: AE, AG, AL, AM, AO, AT, AU, AZ, BA, BB, BG, BH, BR, BW, BY, BZ, CA, CH, CL, CN, CO, CR, CU, CZ, DE, DK, DM, DO, DZ, EC, EE, EG, ES, FI, GB, GD, GE, GH, GM, GT, HN, HR, HU, ID, IL, IN, IS, KE, KG, KM, KN, KP, KR, KZ, LA, LC, LK, LR, LS, LT, LU, LY, MA, MD, ME, MG, MK, MN, MW, MX, MY, MZ, NA, NG, NI, NO, NZ, OM, PE, PG, PH, PL, PT, RO, RS, RU, SC, SD, SE, SG, SK, SL, SM, ST, SV, SY, TH, TJ, TM, TN, TR, TT, TZ, UA, UG, US, UZ, VC, VN, ZA, ZM, ZW
アフリカ広域知的所有権機関(ARIPO) (BW, GH, GM, KE, LR, LS, MW, MZ, NA, SD, SL, SZ, TZ, UG, ZM, ZW)
ユーラシア特許庁(EAPO) (AM, AZ, BY, KG, KZ, MD, RU, TJ, TM)
欧州特許庁(EPO) (AL, AT, BE, BG, CH, CY, CZ, DE, DK, EE, ES, FI, FR, GB, GR, HR, HU, IE, IS, IT, LT, LU, LV, MC, MK, MT, NL, NO, PL, PT, RO, RS, SE, SI, SK, SM, TR)
アフリカ知的所有権機関(OAPI) (BF, BJ, CF, CG, CI, CM, GA, GN, GQ, GW, ML, MR, NE, SN, TD, TG)
国際公開言語: 日本語 (JA)
国際出願言語: 日本語 (JA)