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1. (WO2011122095) 電磁波検出装置
国際事務局に記録されている最新の書誌情報

国際公開番号: WO/2011/122095 国際出願番号: PCT/JP2011/052048
国際公開日: 06.10.2011 国際出願日: 01.02.2011
IPC:
G01N 21/35 (2014.01) ,G01N 21/3581 (2014.01) ,G01N 21/3586 (2014.01)
G 物理学
01
測定;試験
N
材料の化学的または物理的性質の決定による材料の調査または分析
21
光学的手段,すなわち.赤外線,可視光線または紫外線を使用することによる材料の調査または分析
17
調査される材料の特性に応じて入射光が変調されるシステム
25
色;スペクトル特性,すなわち2またはそれ以上の波長あるいは波長帯において材料が光に与える効果の比較
31
特定の元素または分子を特徴づける波長における材料の相対的効果の調査,例.原子吸光分光
35
赤外光を用いるもの
[IPC code unknown for G01N 21/3581][IPC code unknown for G01N 21/3586]
出願人:
浜松ホトニクス株式会社 HAMAMATSU PHOTONICS K.K. [JP/JP]; 静岡県浜松市東区市野町1126番地の1 1126-1, Ichino-cho, Higashi-ku, Hamamatsu-shi, Shizuoka 4358558, JP (AllExceptUS)
河田 陽一 KAWADA Yoichi [JP/JP]; JP (UsOnly)
安田 敬史 YASUDA Takashi [JP/JP]; JP (UsOnly)
高橋 宏典 TAKAHASHI Hironori [JP/JP]; JP (UsOnly)
松本 徹 MATSUMOTO Toru [JP/JP]; JP (UsOnly)
発明者:
河田 陽一 KAWADA Yoichi; JP
安田 敬史 YASUDA Takashi; JP
高橋 宏典 TAKAHASHI Hironori; JP
松本 徹 MATSUMOTO Toru; JP
代理人:
長谷川 芳樹 HASEGAWA Yoshiki; 東京都千代田区丸の内二丁目1番1号丸の内 MY PLAZA(明治安田生命ビル) 9階 創英国際特許法律事務所 SOEI PATENT AND LAW FIRM, Marunouchi MY PLAZA (Meiji Yasuda Life Bldg.) 9th fl., 1-1, Marunouchi 2-chome, Chiyoda-ku, Tokyo 1000005, JP
優先権情報:
2010-08376631.03.2010JP
発明の名称: (EN) ELECTROMAGNETIC WAVE DETECTION DEVICE
(FR) DISPOSITIF DE DÉTECTION D'ONDE ÉLECTROMAGNÉTIQUE
(JA) 電磁波検出装置
要約:
(EN) A probe light pulse is inputted into an optical operation part after the beam diameter is modified by a beam diameter modifying optical system, the pulse surface is inclined by a pulse surface inclining part, and the beam diameter is adjusted by a beam diameter adjusting optical system. The probe light pulse which is outputted from the beam diameter adjusting optical system and an electromagnetic wave to be detected are inputted into the optical operation part. The optical characteristics of the optical operation part are changed with the propagation of the electromagnetic wave and the probe light pulse subjected to the effect of the changes in the optical characteristics is outputted from the optical operation part. The probe light pulse outputted from the optical operation part is detected by a light detector. Thus, an electromagnetic wave detection device can be realized, which is capable of easily setting appropriate values respectively for the pulse surface inclination angle and the beam diameter of the probe light pulse which is inputted into the optical operation part.
(FR) Selon l'invention, une impulsion de lumière de sonde est entrée dans une partie fonctionnelle optique après que le diamètre de faisceau a été modifié par un système optique de modification de diamètre de faisceau, la surface d'impulsion est inclinée par une partie d'inclinaison de surface d'impulsion, et le diamètre de faisceau est réglé par un système optique d'ajustement de diamètre de faisceau. L'impulsion de lumière de sonde qui est délivrée en sortie du système optique d'ajustement de diamètre de faisceau et une onde électromagnétique devant être détectée sont entrées dans la partie fonctionnelle optique. Les caractéristiques optiques de la partie fonctionnelle optique sont changées avec la propagation de l'onde électromagnétique, et l'impulsion de lumière de sonde soumise à l'effet des changements des caractéristiques optiques est délivrée en sortie de la partie fonctionnelle optique. L'impulsion de lumière de sonde délivrée en sortie de la partie fonctionnelle optique est détectée par un détecteur de lumière. Par conséquent, un dispositif de détection d'onde électromagnétique peut être réalisé, ledit dispositif étant apte à établir facilement des valeurs appropriées, respectivement, pour l'angle d'inclinaison de surface d'impulsion et le diamètre de faisceau de l'impulsion de lumière de sonde, qui est entrée dans la partie fonctionnelle optique.
(JA)  光源から出力されたプローブ光パルスは、ビーム径変更光学系によりビーム径を変更され、パルス面傾斜部によりパルス面を傾斜され、ビーム径調整光学系によりビーム径を調整されて、光学的作用部に入力される。光学的作用部には、ビーム径調整光学系から出力されたプローブ光パルスが入力されるとともに、検出対象である電磁波が入力される。電磁波の伝搬に伴って光学的作用部の光学特性が変化し、その光学特性の変化の影響を受けたプローブ光パルスが光学的作用部から出力される。光学的作用部から出力されたプローブ光パルスは光検出器により検出される。これにより、光学的作用部に入力されるプローブ光パルスのパルス面傾斜角度およびビーム径それぞれを適切な値に容易に設定することができる電磁波検出装置が実現される。
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指定国: AE, AG, AL, AM, AO, AT, AU, AZ, BA, BB, BG, BH, BR, BW, BY, BZ, CA, CH, CL, CN, CO, CR, CU, CZ, DE, DK, DM, DO, DZ, EC, EE, EG, ES, FI, GB, GD, GE, GH, GM, GT, HN, HR, HU, ID, IL, IN, IS, KE, KG, KM, KN, KP, KR, KZ, LA, LC, LK, LR, LS, LT, LU, LY, MA, MD, ME, MG, MK, MN, MW, MX, MY, MZ, NA, NG, NI, NO, NZ, OM, PE, PG, PH, PL, PT, RO, RS, RU, SC, SD, SE, SG, SK, SL, SM, ST, SV, SY, TH, TJ, TM, TN, TR, TT, TZ, UA, UG, US, UZ, VC, VN, ZA, ZM, ZW
アフリカ広域知的所有権機関(ARIPO) (BW, GH, GM, KE, LR, LS, MW, MZ, NA, SD, SL, SZ, TZ, UG, ZM, ZW)
ユーラシア特許庁(EAPO) (AM, AZ, BY, KG, KZ, MD, RU, TJ, TM)
欧州特許庁(EPO) (AL, AT, BE, BG, CH, CY, CZ, DE, DK, EE, ES, FI, FR, GB, GR, HR, HU, IE, IS, IT, LT, LU, LV, MC, MK, MT, NL, NO, PL, PT, RO, RS, SE, SI, SK, SM, TR)
アフリカ知的所有権機関(OAPI) (BF, BJ, CF, CG, CI, CM, GA, GN, GQ, GW, ML, MR, NE, SN, TD, TG)
国際公開言語: 日本語 (JA)
国際出願言語: 日本語 (JA)
また、:
EP2554974US20120326041