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1. (WO2011121749) 光情報解析装置及び光情報解析方法
国際事務局に記録されている最新の書誌情報

国際公開番号: WO/2011/121749 国際出願番号: PCT/JP2010/055810
国際公開日: 06.10.2011 国際出願日: 31.03.2010
IPC:
G01N 15/14 (2006.01)
G 物理学
01
測定;試験
N
材料の化学的または物理的性質の決定による材料の調査または分析
15
粒子の特徴の調査;多孔性材料の透過率,気孔量または表面積の調査
10
個別の粒子の調査
14
電気光学的調査
出願人:
古河電気工業株式会社 FURUKAWA ELECTRIC CO.,LTD. [JP/JP]; 東京都千代田区丸の内2丁目2番3号 2-3, Marunouchi 2-chome, Chiyoda-ku, Tokyo 1008322, JP (AllExceptUS)
月井 健 TSUKII, Ken [JP/JP]; JP (UsOnly)
木村 健一 KIMURA, Kenichi [JP/JP]; JP (UsOnly)
高橋 亨 TAKAHASHI, Toru [JP/JP]; JP (UsOnly)
徐 傑 XU, Jie [CN/JP]; JP (UsOnly)
発明者:
月井 健 TSUKII, Ken; JP
木村 健一 KIMURA, Kenichi; JP
高橋 亨 TAKAHASHI, Toru; JP
徐 傑 XU, Jie; JP
代理人:
松下 亮 MATSUSHITA, Makoto; 神奈川県横浜市港北区新横浜2-5-19 アプリ新横浜ビル5階 Apuri Shinyokohama Building 5F., 2-5-19, Shinyokohama, Kohoku-ku, Yokohama-shi, Kanagawa 2220033, JP
優先権情報:
発明の名称: (EN) OPTICAL INFORMATION ANALYSIS DEVICE AND OPTICAL INFORMATION ANALYSIS METHOD
(FR) DISPOSITIF ET PROCÉDÉ D'ANALYSE D'INFORMATIONS OPTIQUES
(JA) 光情報解析装置及び光情報解析方法
要約:
(EN) Disclosed is an optical information analysis device that enables an increase in the sensitivity to transmitted light that is received and the acquisition of consistent optical information for specimens by being provided with a light receiving unit for receiving transmitted light in a position facing an irradiation unit and by relatively adjusting the position of the flow of samples with respect to a measurement region within the flow channel. Also disclosed is an optical information analysis method. The optical information analysis device (10) is equipped with an irradiation unit (30) that irradiates a specimen (S) with irradiation light (L0), a transmitted light receiving unit (50) that receives transmitted light (L1) and detects the transmitted light as a transmitted light signal (SG1), a scattered light/fluorescence receiving unit (60) that receives side-scattered light and fluorescence (L2) and detects the side-scattered light and fluorescence as a scattered light/fluorescence signal (SG2), a nozzle position adjustment mechanism (80) that adjusts the position of the tip (15a) of an introduction nozzle (15) to match the transmitted light receiving unit (50) and the irradiation unit (30), and an analysis unit (90) that measures the optical information of the specimen (S) on the basis of the detected transmitted light signal (SG1) and scattered light/fluorescence signal (SG2) and analyzes the specimen (S).
(FR) La présente invention concerne un dispositif d'analyse d'informations optiques qui permet d'augmenter la sensibilité à la lumière émise qui est reçue ainsi que l'acquisition d'informations optiques cohérentes pour les échantillons par l'apport d'une unité de réception de lumière destinée à recevoir la lumière émise dans une position face à une unité de rayonnement et par l'ajustement relatif de la position du flux d'échantillons par rapport à une zone de mesure dans le canal d'écoulement. L'invention concerne également un procédé d'analyse d'informations optiques. Le dispositif d'analyse d'informations optiques (10) est équipé d'une unité de rayonnement (30) qui expose un échantillon (S) à la lumière de rayonnement (L0), d'une unité de réception de la lumière émise (50) qui reçoit la lumière émise (L1) et la détecte sous la forme d'un signal lumineux émis (SG1), d'une unité de réception de lumière diffusée/fluorescence (60) qui reçoit une lumière diffusée latérale et une fluorescence (L2) et les détecte sous la forme d'un signal de lumière diffusée/fluorescence (SG2), d'un mécanisme d'ajustement de position de buse (80) qui ajuste la position de la pointe (15a) d'une buse d'introduction (15) afin de s'apparier à l'unité de réception de la lumière émise (50) et à l'unité de rayonnement (30), et d'une unité d'analyse (90) qui mesure les informations optiques de l'échantillon (S) sur la base du signal lumineux émis détecté (SG1) et du signal de lumière diffusée/fluorescence (SG2) et analyse l'échantillon (S).
(JA)  照射部と正対する位置に透過光を受光する受光部を設け、流路内の測定領域に対してサンプル流の位置を相対的に調整することにより、受光する透過光の感度を高めるとともに、バラツキの少ない検体の光情報を得ることが可能な光情報解析装置及び光情報解析方法を提供する。 光情報解析装置10は、検体Sに照射光L0を照射する照射部30と、透過光L1を受光して透過光信号SG1として検出する透過光受光部50と、側方散乱光及び蛍光L2を受光して散乱・蛍光信号SG2として検出する散乱・蛍光受光部60と、導入ノズル15の先端部15aの位置を透過光受光部50及び照射部30に合わせて調整するノズル位置調整機構80と、検出された透過光信号SG1及び散乱・蛍光信号SG2に基づいて、検体Sの光情報を測定し、検体Sを解析する解析部90と、を備えている。
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指定国: AE, AG, AL, AM, AO, AT, AU, AZ, BA, BB, BG, BH, BR, BW, BY, BZ, CA, CH, CL, CN, CO, CR, CU, CZ, DE, DK, DM, DO, DZ, EC, EE, EG, ES, FI, GB, GD, GE, GH, GM, GT, HN, HR, HU, ID, IL, IN, IS, JP, KE, KG, KM, KN, KP, KR, KZ, LA, LC, LK, LR, LS, LT, LU, LY, MA, MD, ME, MG, MK, MN, MW, MX, MY, MZ, NA, NG, NI, NO, NZ, OM, PE, PG, PH, PL, PT, RO, RS, RU, SC, SD, SE, SG, SK, SL, SM, ST, SV, SY, TH, TJ, TM, TN, TR, TT, TZ, UA, UG, US, UZ, VC, VN, ZA, ZM, ZW
アフリカ広域知的所有権機関(ARIPO) (BW, GH, GM, KE, LR, LS, MW, MZ, NA, SD, SL, SZ, TZ, UG, ZM, ZW)
ユーラシア特許庁(EAPO) (AM, AZ, BY, KG, KZ, MD, RU, TJ, TM)
欧州特許庁(EPO) (AT, BE, BG, CH, CY, CZ, DE, DK, EE, ES, FI, FR, GB, GR, HR, HU, IE, IS, IT, LT, LU, LV, MC, MK, MT, NL, NO, PL, PT, RO, SE, SI, SK, SM, TR)
アフリカ知的所有権機関(OAPI) (BF, BJ, CF, CG, CI, CM, GA, GN, GQ, GW, ML, MR, NE, SN, TD, TG)
国際公開言語: 日本語 (JA)
国際出願言語: 日本語 (JA)
また、:
JP4805416CN102272574