WIPO logo
Mobile | Deutsch | English | Español | Français | 한국어 | Português | Русский | 中文 | العربية |
PATENTSCOPE

国際・国内特許データベース検索
World Intellectual Property Organization
検索
 
閲覧
 
翻訳
 
オプション
 
最新情報
 
ログイン
 
ヘルプ
 
自動翻訳
1. (WO2011118309) 分析装置
国際事務局に記録されている最新の書誌情報   

Translation翻訳: 原文 > 日本語
国際公開番号:    WO/2011/118309    国際出願番号:    PCT/JP2011/053668
国際公開日: 29.09.2011 国際出願日: 21.02.2011
IPC:
G01N 35/00 (2006.01), G01J 3/36 (2006.01), G01J 3/51 (2006.01), G01N 21/27 (2006.01), G01N 21/35 (2014.01), G01N 21/3577 (2014.01), G01N 21/359 (2014.01), G02B 5/18 (2006.01)
出願人: NEC System Technologies, Ltd. [JP/JP]; 4-24, Shiromi 1-chome, Chuo-ku, Osaka-shi Osaka 5408551 (JP) (米国を除く全ての指定国).
KAMIMURA, Ippei [JP/JP]; (JP) (米国のみ)
発明者: KAMIMURA, Ippei; (JP)
代理人: ONEDEE IP PARTNERS; Shin-Osaka Center Bldg., 1-4, Miyahara 4-chome, Yodogawa-ku, Osaka-shi, Osaka 5320003 (JP)
優先権情報:
2010-067808 24.03.2010 JP
発明の名称: (EN) ANALYSIS DEVICE
(FR) DISPOSITIF D'ANALYSE
(JA) 分析装置
要約: front page image
(EN)Provided is an analysis device which can handle analyzing various components while preventing the size of the device from enlarging. An analysis device (1) is provided with a light-emitting unit (10), a transmission spectral filter (22), a light detector (23), and an analyzing unit (31). The spectral filter (22) is provided with a translucent substrate, a plurality of protrusions formed from a first metal material on one surface of the substrate, and a metal film which is formed from a second metal material having a higher refractive index than that of the first metal material and which is formed so as to cover the aforementioned surface along with the protrusions. The protrusions are arranged so that the metal film located between the protrusions functions as a diffraction grating, and the protrusions function as a waveguide. The grating period of the diffraction grating, the height of the protrusions, and the thickness of the metal film are set to have a different value for each section of the spectral filter so that the wavelength of the transmitted light from the spectral filter is varied at each section. The light detector (23) is disposed in a manner such that each light-receiving element (24) can received the transmitted light from the spectral filter. The analyzing unit (31) acquires the spectrum of an object (40) by means of the output signal of the light-receiving elements (24).
(FR)L'invention concerne un dispositif d'analyse qui peut gérer l'analyse de différents composants tout en évitant une augmentation de la taille du dispositif. Un dispositif d'analyse (1) est muni d'une unité émettrice de lumière (10), un filtre spectral de transmission (22), un détecteur de lumière (23) et une unité d'analyse (31). Le filtre spectral (22) comprend un substrat translucide, une pluralité d'éléments en saillie formés à partir d'un premier matériau métallique sur une surface du substrat et un film métallique qui est formé à partir d'un deuxième matériau métallique qui possède un indice de réfraction plus élevé que celui du premier matériau métallique et qui est façonné de manière à recouvrir la surface mentionnée précédemment ainsi que les éléments en saillie. Les éléments en saillie sont disposés de telle sorte que le film métallique disposé entre les éléments en saillie fait office de réseau de diffraction et les éléments en saillie font office de guide d'onde. La période de réseau du réseau de diffraction, la hauteur des éléments en saillie et l'épaisseur du film métallique sont réglées de manière à présenter des valeurs différentes pour chaque section du filtre spectral, de sorte que la longueur d'onde de la lumière émise depuis le filtre spectral varie à chaque section. Le détecteur de lumière (23) est disposé de telle sorte que chaque élément récepteur de lumière (24) peut recevoir la lumière émise depuis le filtre spectral. L'unité d'analyse (31) acquiert le spectre d'un objet (40) au moyen du signal de sortie des éléments récepteurs de lumière (24).
(JA) 装置の大型化を抑制しつつ、多種類の成分の分析に対応可能な分析装置を提供する。 分析装置1は、発光部10と、透過型の分光フィルタ22と、光検出器23と、分析部31とを備える。分光フィルタ22は、光透過性の基板と、基板の一方の面上に第1の金属材料で形成された複数の凸部と、第1の金属材料よりも屈折率の高い第2の金属材料によって、凸部と共に一方の面を覆うように形成された金属膜とを備える。凸部は、凸部間に存在する金属膜が回折格子となり、凸部が導波路となるように配置される。回折格子の格子周期、凸部の高さ、金属膜の厚みは、分光フィルタの透過光の波長が部分毎に変化するよう、部分毎に異なる値に設定される。光検出器23は、各受光素子24が、分光フィルタの透過光を受光するように配置される。分析部31は、受光素子24の出力信号から対象物40のスペクトルを取得する。
指定国: AE, AG, AL, AM, AO, AT, AU, AZ, BA, BB, BG, BH, BR, BW, BY, BZ, CA, CH, CL, CN, CO, CR, CU, CZ, DE, DK, DM, DO, DZ, EC, EE, EG, ES, FI, GB, GD, GE, GH, GM, GT, HN, HR, HU, ID, IL, IN, IS, KE, KG, KM, KN, KP, KR, KZ, LA, LC, LK, LR, LS, LT, LU, LY, MA, MD, ME, MG, MK, MN, MW, MX, MY, MZ, NA, NG, NI, NO, NZ, OM, PE, PG, PH, PL, PT, RO, RS, RU, SC, SD, SE, SG, SK, SL, SM, ST, SV, SY, TH, TJ, TM, TN, TR, TT, TZ, UA, UG, US, UZ, VC, VN, ZA, ZM, ZW.
アフリカ広域知的所有権機関(ARIPO) (BW, GH, GM, KE, LR, LS, MW, MZ, NA, SD, SL, SZ, TZ, UG, ZM, ZW)
ユーラシア特許庁(EAPO) (AM, AZ, BY, KG, KZ, MD, RU, TJ, TM)
欧州特許庁(EPO) (AL, AT, BE, BG, CH, CY, CZ, DE, DK, EE, ES, FI, FR, GB, GR, HR, HU, IE, IS, IT, LT, LU, LV, MC, MK, MT, NL, NO, PL, PT, RO, RS, SE, SI, SK, SM, TR)
アフリカ知的所有権機関(OAPI) (BF, BJ, CF, CG, CI, CM, GA, GN, GQ, GW, ML, MR, NE, SN, TD, TG).
国際公開言語: Japanese (JA)
国際出願言語: Japanese (JA)