WIPO logo
Mobile | Deutsch | English | Español | Français | 한국어 | Português | Русский | 中文 | العربية |
PATENTSCOPE

国際・国内特許データベース検索
World Intellectual Property Organization
検索
 
閲覧
 
翻訳
 
オプション
 
最新情報
 
ログイン
 
ヘルプ
 
自動翻訳
1. (WO2011114699) プラズマディスプレイパネル
国際事務局に記録されている最新の書誌情報   

Translation翻訳: 原文 > 日本語
国際公開番号:    WO/2011/114699    国際出願番号:    PCT/JP2011/001487
国際公開日: 22.09.2011 国際出願日: 15.03.2011
IPC:
H01J 11/12 (2012.01), H01J 11/40 (2012.01)
出願人: PANASONIC CORPORATION [JP/JP]; 1006, Oaza Kadoma, Kadoma-shi, Osaka 5718501 (JP) (米国を除く全ての指定国).
HASHIMOTO, Jun; (米国のみ).
ZUKAWA, Takehiro; (米国のみ).
TSUJITA, Takuji; (米国のみ).
SHIMAMURA, Takayuki; (米国のみ)
発明者: HASHIMOTO, Jun; .
ZUKAWA, Takehiro; .
TSUJITA, Takuji; .
SHIMAMURA, Takayuki;
代理人: NAITO, Hiroki; c/o Panasonic Corporation, 1006, Oaza Kadoma, Kadoma-shi, Osaka 5718501 (JP)
優先権情報:
2010-057048 15.03.2010 JP
発明の名称: (EN) PLASMA DISPLAY PANEL
(FR) PANNEAU D'AFFICHAGE À PLASMA
(JA) プラズマディスプレイパネル
要約: front page image
(EN)A PDP (1) is provided with a front plate (2) and a back plate (10). The front plate (2) has a protective layer (9). The back plate (10) has a phosphor layer (15). The protective layer (9) contains a first metal oxide and a second metal oxide. In X-ray diffraction analysis, the peak of an underlayer lies between the first peak of the first metal oxide and the second peak of the second metal oxide. The first metal oxide and the second metal oxide are two metal oxides selected from among a group comprising MgO, CaO, SrO, and BaO. The concentration of calcium contained in the underlayer is from 1 atomic% to 5 atomic% with respect to the underlayer, and in X-ray diffraction analysis of the underlayer surface, for the metal oxides, a single peak exists between the minimum diffraction angle and the maximum diffraction angle produced by a single metal oxide on the specifically-oriented (111) surface.
(FR)L'invention concerne un panneau d'affichage à plasma (1) qui est pourvu d'une plaque antérieure (2) et d'une plaque postérieure (10). La plaque antérieure (2) possède une couche de protection (9). La plaque postérieure (10) possède une couche de phosphore (15). La couche de protection (9) contient un premier oxyde métallique et un second oxyde métallique. Dans une analyse par diffraction X, le pic d'une sous-couche se situe entre le premier pic du premier oxyde métallique et le second pic du second oxyde métallique. Le premier oxyde métallique et le second oxyde métallique sont deux oxydes métalliques choisis dans un groupe comportant MgO, CaO, SrO et BaO. La concentration de calcium contenue dans la sous-couche va de 1 %a à 5 %a par rapport à la sous-couche et, dans une analyse par diffraction X de la surface de la sous-couche, il existe pour les oxydes métalliques un pic unique, entre l'angle de diffraction minimale et l'angle de diffraction maximale, produit par un unique oxyde métallique sur la surface orientée spécifiquement (111).
(JA) PDP(1)は、前面板(2)と背面板(10)とを備える。前面板(2)は、保護層(9)を有する。背面板(10)は、蛍光体層(15)を有する。保護層(9)は、第1の金属酸化物と第2の金属酸化物とを含む。X線回折分析において、下地層のピークは、第1金属酸化物の第1のピークと第2金属酸化物の第2のピークとの間にある。第1の金属酸化物および第2の金属酸化物は、MgO、CaO、SrOおよびBaOからなる群の中から選ばれる2種である。下地層に含まれるカルシウムの濃度が下地層に対して1atomic%以上5atomic%以下であり、金属酸化物は下地層面のX線回折分析において、特定方位面(111)面の金属酸化物の単体より発生する最小回折角と最大回折角との間に1本のピークが存在する。
指定国: AE, AG, AL, AM, AO, AT, AU, AZ, BA, BB, BG, BH, BR, BW, BY, BZ, CA, CH, CL, CN, CO, CR, CU, CZ, DE, DK, DM, DO, DZ, EC, EE, EG, ES, FI, GB, GD, GE, GH, GM, GT, HN, HR, HU, ID, IL, IN, IS, JP, KE, KG, KM, KN, KP, KR, KZ, LA, LC, LK, LR, LS, LT, LU, LY, MA, MD, ME, MG, MK, MN, MW, MX, MY, MZ, NA, NG, NI, NO, NZ, OM, PE, PG, PH, PL, PT, RO, RS, RU, SC, SD, SE, SG, SK, SL, SM, ST, SV, SY, TH, TJ, TM, TN, TR, TT, TZ, UA, UG, US, UZ, VC, VN, ZA, ZM, ZW.
アフリカ広域知的所有権機関(ARIPO) (BW, GH, GM, KE, LR, LS, MW, MZ, NA, SD, SL, SZ, TZ, UG, ZM, ZW)
ユーラシア特許庁(EAPO) (AM, AZ, BY, KG, KZ, MD, RU, TJ, TM)
欧州特許庁(EPO) (AL, AT, BE, BG, CH, CY, CZ, DE, DK, EE, ES, FI, FR, GB, GR, HR, HU, IE, IS, IT, LT, LU, LV, MC, MK, MT, NL, NO, PL, PT, RO, RS, SE, SI, SK, SM, TR)
アフリカ知的所有権機関(OAPI) (BF, BJ, CF, CG, CI, CM, GA, GN, GQ, GW, ML, MR, NE, SN, TD, TG).
国際公開言語: Japanese (JA)
国際出願言語: Japanese (JA)