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1. (WO2011111447) 放射線計測装置、核医学診断装置
国際事務局に記録されている最新の書誌情報   

Translation翻訳: 原文 > 日本語
国際公開番号:    WO/2011/111447    国際出願番号:    PCT/JP2011/052253
国際公開日: 15.09.2011 国際出願日: 03.02.2011
IPC:
G01T 1/24 (2006.01), G01T 1/161 (2006.01), G01T 1/17 (2006.01)
出願人: HITACHI, LTD. [JP/JP]; 6-6, Marunouchi 1-chome, Chiyoda-ku, Tokyo 1008280 (JP) (米国を除く全ての指定国).
SEINO Tomoyuki [JP/JP]; (JP) (米国のみ).
UENO Yuichiro [JP/JP]; (JP) (米国のみ).
ISHITSU Takafumi [JP/JP]; (JP) (米国のみ)
発明者: SEINO Tomoyuki; (JP).
UENO Yuichiro; (JP).
ISHITSU Takafumi; (JP)
代理人: ISONO Michizo; c/o Isono International Patent Office, Sabo Kaikan Annex, 7-4, Hirakawa-cho 2-chome, Chiyoda-ku, Tokyo 1020093 (JP)
優先権情報:
2010-053947 11.03.2010 JP
発明の名称: (EN) RADIATION MEASURING DEVICE, NUCLEAR MEDICINE DIAGNOSTIC DEVICE
(FR) DISPOSITIF DE MESURE DE RAYONNEMENT, DISPOSITIF DE DIAGNOSTIC MÉDICAL NUCLÉAIRE
(JA) 放射線計測装置、核医学診断装置
要約: front page image
(EN)The purpose of the present invention is to improve energy resolving power and prevent energy resolving power from deteriorating when a thick semiconductor detection element with a wide energy range is used, in a radiation measuring device using a semiconductor detector and a nuclear medicine diagnostic device. With the present invention, the purpose is achieved by pulsed wave value compensation employing the differential Hs - Hf between the pulsed wave height value Hs obtained from the low-speed shaping circuit, and the pulsed wave height value Hf obtained from the high-speed shaping circuit and normalized with respect to Hs. An even more desirable result may be obtained by employing either (Hs - Hf)/Hf or exp(k(Hs - Hf)/Hf), wherein k is a coefficient to be optimized, said optimization being dependent on the measurement assembly.
(FR)Le but de la présente invention est d'améliorer le pouvoir de résolution énergétique et d'empêcher une dégradation du pouvoir de résolution énergétique lorsqu'un élément de détection à semi-conducteur épais ayant une large plage d'énergie est utilisé dans un dispositif de mesure de rayonnement utilisant un détecteur à semi-conducteur et un dispositif de diagnostic médical nucléaire. Conformément à la présente invention, ce but est atteint par compensation de valeurs d'ondes pulsées utilisant le différentiel Hs - Hf entre la valeur de la hauteur Hs de l'onde pulsée obtenue par le circuit de mise en forme à faible vitesse, et la valeur de la hauteur Hf de l'onde pulsée obtenue par le circuit de mise en forme à grande vitesse et normalisée par rapport à Hs. Un résultat encore plus souhaitable peut être obtenu en utilisant soit (Hs - Hf)/Hf, soit exp(k(Hs - Hf)/Hf), où k est un coefficient à optimiser, ladite optimisation dépendant de l'ensemble de mesure.
(JA) 本発明は、半導体検出器を使用した放射線計測装置および核医学診断装置において、エネルギー分解能を向上させ、かつ、そのエネルギー範囲が広く、また、厚い半導体検出素子を使用した場合にエネルギー分解能を悪化させないことを課題とする。 本発明では、低速のシェーピング回路から得られる波高値をHs、高速のシェーピング回路から得られ、Hsに対して規格化した波高値であるHfを用い、その差分であるHs-Hfを用いて波高値を補正することで解決される。また、(Hs-Hf)/Hfあるいはexp(k(Hs-Hf)/Hf)を用いるとさらに良好な結果が得られる。なお、kは測定系に依存して最適化すべき係数である。
指定国: AE, AG, AL, AM, AO, AT, AU, AZ, BA, BB, BG, BH, BR, BW, BY, BZ, CA, CH, CL, CN, CO, CR, CU, CZ, DE, DK, DM, DO, DZ, EC, EE, EG, ES, FI, GB, GD, GE, GH, GM, GT, HN, HR, HU, ID, IL, IN, IS, KE, KG, KM, KN, KP, KR, KZ, LA, LC, LK, LR, LS, LT, LU, LY, MA, MD, ME, MG, MK, MN, MW, MX, MY, MZ, NA, NG, NI, NO, NZ, OM, PE, PG, PH, PL, PT, RO, RS, RU, SC, SD, SE, SG, SK, SL, SM, ST, SV, SY, TH, TJ, TM, TN, TR, TT, TZ, UA, UG, US, UZ, VC, VN, ZA, ZM, ZW.
アフリカ広域知的所有権機関(ARIPO) (BW, GH, GM, KE, LR, LS, MW, MZ, NA, SD, SL, SZ, TZ, UG, ZM, ZW)
ユーラシア特許庁(EAPO) (AM, AZ, BY, KG, KZ, MD, RU, TJ, TM)
欧州特許庁(EPO) (AL, AT, BE, BG, CH, CY, CZ, DE, DK, EE, ES, FI, FR, GB, GR, HR, HU, IE, IS, IT, LT, LU, LV, MC, MK, MT, NL, NO, PL, PT, RO, RS, SE, SI, SK, SM, TR)
アフリカ知的所有権機関(OAPI) (BF, BJ, CF, CG, CI, CM, GA, GN, GQ, GW, ML, MR, NE, SN, TD, TG).
国際公開言語: Japanese (JA)
国際出願言語: Japanese (JA)