WIPO logo
Mobile | Deutsch | English | Español | Français | 한국어 | Português | Русский | 中文 | العربية |
PATENTSCOPE

国際・国内特許データベース検索
World Intellectual Property Organization
検索
 
閲覧
 
翻訳
 
オプション
 
最新情報
 
ログイン
 
ヘルプ
 
自動翻訳
1. (WO2011108042) 電子顕微鏡画像と光学画像を重ねて表示する方法
国際事務局に記録されている最新の書誌情報   

Translation翻訳: 原文 > 日本語
国際公開番号:    WO/2011/108042    国際出願番号:    PCT/JP2010/006529
国際公開日: 09.09.2011 国際出願日: 08.11.2010
IPC:
H01J 37/244 (2006.01), H01J 37/22 (2006.01)
出願人: HITACHI HIGH-TECHNOLOGIES CORPORATION [JP/JP]; 24-14, Nishi Shimbashi 1-chome, Minato-ku, Tokyo 1058717 (JP) (米国を除く全ての指定国).
SHIONO, Masamichi [JP/JP]; (JP) (米国のみ).
NISHIMURA, Masako [JP/JP]; (JP) (米国のみ)
発明者: SHIONO, Masamichi; (JP).
NISHIMURA, Masako; (JP)
代理人: INOUE, Manabu; c/o HITACHI,LTD., 6-1, Marunouchi 1-chome, Chiyoda-ku, Tokyo 1008220 (JP)
優先権情報:
2010-048561 05.03.2010 JP
発明の名称: (EN) METHOD FOR DISPLAYING SUPERIMPOSED ELECTRON MICROSCOPE IMAGE AND OPTICAL IMAGE
(FR) PROCÉDÉ POUR AFFICHER UNE IMAGE PAR MICROSCOPE ET UNE IMAGE OPTIQUE SUPERPOSÉES
(JA) 電子顕微鏡画像と光学画像を重ねて表示する方法
要約: front page image
(EN)The main characteristic of the method is to align an electron beam that is incident upon a sample and the optical axis from an optical image device, using a combination mirror/reflected electron detector in order to achieve the following three objectives: to minimize the misalignment of the field of view of an electron microscope image and an optical image; to add color information obtained by the optical image device, which is equipped with a digital image function, to the electron microscope image; and to simplify the structure of the device as a whole. By adding an optical mirror function to a reflected electron detector, the overall structure of the device is simplified, and the beam axis of an electron microscope and the optical axis of the optical image device are aligned.
(FR)La présente invention concerne un procédé pour afficher une image par microscope et une image optique superposées dont la principale caractéristique est d'aligner un faisceau électronique qui est incident sur un échantillon et l'axe optique à partir d'un appareil d'images optiques, à l'aide d'un détecteur électronique associé à miroir/à réflexion afin de réaliser les trois objectifs suivants : réduire le mauvais alignement du champ de vision d'une image par microscope électronique et d'une image optique ; ajouter des informations en couleur obtenues par le dispositif d'images optiques, qui est équipé d'une fonction d'images numériques, à l'image par microscope électronique ; et simplifier la structure du dispositif dans son ensemble. En ajoutant la fonction de miroir optique à un détecteur électronique à réflexion, la structure globale du dispositif est simplifiée et l'axe de faisceau d'un microscope électronique et l'axe optique du dispositif d'images optiques sont alignés.
(JA) 第一に電子顕微鏡画像と光学画像の視野のずれを最小限にすることであり、第二にデジタル映像機能を備えた光学画像装置により得た色情報を電子顕微鏡画像に付加することであり、第三に、装置の全体の構造を簡略化することである。 ミラー兼用反射電子検出器を使用し、試料に入射する電子ビームと、光学画像装置からの光軸を一致させることを最も主要な特徴とする。反射電子検出器に光学ミラーの機能を付加することで装置の全体の構造を簡略化するとともに、電子顕微鏡のビーム軸と光学画像装置の光軸を一致させる。
指定国: AE, AG, AL, AM, AO, AT, AU, AZ, BA, BB, BG, BH, BR, BW, BY, BZ, CA, CH, CL, CN, CO, CR, CU, CZ, DE, DK, DM, DO, DZ, EC, EE, EG, ES, FI, GB, GD, GE, GH, GM, GT, HN, HR, HU, ID, IL, IN, IS, KE, KG, KM, KN, KP, KR, KZ, LA, LC, LK, LR, LS, LT, LU, LY, MA, MD, ME, MG, MK, MN, MW, MX, MY, MZ, NA, NG, NI, NO, NZ, OM, PE, PG, PH, PL, PT, RO, RS, RU, SC, SD, SE, SG, SK, SL, SM, ST, SV, SY, TH, TJ, TM, TN, TR, TT, TZ, UA, UG, US, UZ, VC, VN, ZA, ZM, ZW.
アフリカ広域知的所有権機関(ARIPO) (BW, GH, GM, KE, LR, LS, MW, MZ, NA, SD, SL, SZ, TZ, UG, ZM, ZW)
ユーラシア特許庁(EAPO) (AM, AZ, BY, KG, KZ, MD, RU, TJ, TM)
欧州特許庁(EPO) (AL, AT, BE, BG, CH, CY, CZ, DE, DK, EE, ES, FI, FR, GB, GR, HR, HU, IE, IS, IT, LT, LU, LV, MC, MK, MT, NL, NO, PL, PT, RO, RS, SE, SI, SK, SM, TR)
アフリカ知的所有権機関(OAPI) (BF, BJ, CF, CG, CI, CM, GA, GN, GQ, GW, ML, MR, NE, SN, TD, TG).
国際公開言語: Japanese (JA)
国際出願言語: Japanese (JA)