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1. (WO2011104881) 太陽電池の改修方法、太陽電池の製造方法、この製造方法により製造された太陽電池、太陽電池の改修装置、太陽電池の製造装置及び検査装置、これらの装置を製造工程に用いた太陽電池
国際事務局に記録されている最新の書誌情報   

Translation翻訳: 原文 > 日本語
国際公開番号:    WO/2011/104881    国際出願番号:    PCT/JP2010/053155
国際公開日: 01.09.2011 国際出願日: 26.02.2010
IPC:
H01L 31/04 (2006.01)
出願人: NF Corporation [JP/JP]; 6-3-20, Tsunashima Higashi, Kohoku-ku, Yokohama-shi, Kanagawa 2238508 (JP) (米国を除く全ての指定国).
AIZONO, Takeiki [JP/JP]; (米国のみ).
OKAJIMA, Hideki [JP/JP]; (米国のみ)
発明者: AIZONO, Takeiki; .
OKAJIMA, Hideki;
代理人: SUZUYE, Takehiko; c/o SUZUYE & SUZUYE, 1-12-9, Toranomon, Minato-ku, Tokyo 1050001 (JP)
優先権情報:
発明の名称: (EN) SOLAR CELL REFURBISHMENT METHOD, SOLAR CELL MANUFACTURING METHOD, SOLAR CELL MANUFACTURED BY SAID MANUFACTURING METHOD, SOLAR CELL REFURBISHMENT DEVICE, SOLAR CELL MANUFACTURING DEVICE AND INSPECTION DEVICE, AND SOLAR CELL MANUFACTURED BY A PROCESS USING SAID DEVICES
(FR) PROCÉDÉ DE RÉNOVATION DE CELLULE SOLAIRE, PROCÉDÉ DE FABRICATION DE CELLULE SOLAIRE, CELLULE SOLAIRE FABRIQUÉE PAR LEDIT PROCÉDÉ DE FABRICATION, DISPOSITIF DE RÉNOVATION DE CELLULE SOLAIRE, DISPOSITIF DE FABRICATION ET DISPOSITIF D'INSPECTION DE CELLULE SOLAIRE, ET CELLULE SOLAIRE FABRIQUÉE PAR UN PROCÉDÉ UTILISANT LESDITS DISPOSITIFS
(JA) 太陽電池の改修方法、太陽電池の製造方法、この製造方法により製造された太陽電池、太陽電池の改修装置、太陽電池の製造装置及び検査装置、これらの装置を製造工程に用いた太陽電池
要約: front page image
(EN)Provided are: a solar cell refurbishment method that can efficiently remove a shorted part from a solar cell; a method for manufacturing solar cells suited to said refurbishment method; a solar cell manufactured by said manufacturing method; a solar cell refurbishment device; a solar cell manufacturing device and inspection device, and a solar cell manufactured by a process using said devices. First, the resistance per unit length of a solar cell (105) in a thin-film solar cell module (100) is inputted as a parameter. A probe unit (305) is used to apply a reverse voltage to the solar cell (105) via point probe pins (305a and 305b). The position on the solar cell (105) to which to move the probe unit (305) is computed, the probe unit (305) is moved to said position, the probe pins (305a and 305b) are put in contact with the solar cell (105), a reverse voltage is applied, and the resulting leakage current is detected. When said leakage current falls to or below an allowable leakage current, the shorted part removal process is ended.
(FR)La présente invention concerne un procédé de rénovation de cellule solaire qui peut éliminer efficacement une partie court-circuitée d'une cellule solaire ; un procédé de fabrication de cellules solaires appropriées pour ledit procédé de rénovation ; une cellule solaire fabriquée par ledit procédé de fabrication ; un dispositif de rénovation de cellule solaire ; un dispositif de fabrication et un dispositif d'inspection de cellule solaire, et une cellule solaire fabriquée par un procédé utilisant lesdits dispositifs. D'abord, la résistance par longueur unitaire d'une cellule solaire (105) dans un module de cellule à film mince (100) est entrée en tant que paramètre. Une unité sonde (305) est utilisée pour appliquer une tension inverse sur la cellule solaire (105) par l'intermédiaire d'aiguilles de sonde ponctuelle (305a et 305b). La position sur la cellule solaire (105) jusqu'à laquelle l'unité sonde (305) doit être déplacée est calculée, l'unité sonde (305) est déplacée jusqu'à ladite position, les aiguilles de sonde (305a et 305b) sont mises en contact avec la cellule solaire (105), une tension inverse est appliquée, et le courant de fuite résultant est détecté. Lorsque ledit courant de fuite est égal ou inférieur à un courant de fuite admissible, le procédé d'élimination de partie court-circuitée est terminé.
(JA) 太陽電池の短絡部の除去処理を効率的に行うことができる太陽電池の改修方法、この改修方法を適用した太陽電池の製造方法、この製造方法により製造された太陽電池、太陽電池の改修装置、太陽電池の製造装置及び検査装置、これらの装置を製造工程に用いた太陽電池を提供する。 薄膜型太陽電池100の太陽電池セル105の単位長さ当たりの抵抗値をパラメータとして入力し、太陽電池セル105に対し点状のプローブピン305a、305bを介して逆電圧を印加するプローブ部305の太陽電池セル105上での移動位置を算出し、この移動位置にプローブ部305を移動させ、プローブピン305a、305bを太陽電池セル105に接触させて逆電圧を印加してリーク電流を検出し、リーク電流が許容リーク電流以下になったとき短絡部除去の処理を終了する。
指定国: AE, AG, AL, AM, AO, AT, AU, AZ, BA, BB, BG, BH, BR, BW, BY, BZ, CA, CH, CL, CN, CO, CR, CU, CZ, DE, DK, DM, DO, DZ, EC, EE, EG, ES, FI, GB, GD, GE, GH, GM, GT, HN, HR, HU, ID, IL, IN, IS, JP, KE, KG, KM, KN, KP, KR, KZ, LA, LC, LK, LR, LS, LT, LU, LY, MA, MD, ME, MG, MK, MN, MW, MX, MY, MZ, NA, NG, NI, NO, NZ, OM, PE, PG, PH, PL, PT, RO, RS, RU, SC, SD, SE, SG, SK, SL, SM, ST, SV, SY, TH, TJ, TM, TN, TR, TT, TZ, UA, UG, US, UZ, VC, VN, ZA, ZM, ZW.
アフリカ広域知的所有権機関(ARIPO) (BW, GH, GM, KE, LS, MW, MZ, NA, SD, SL, SZ, TZ, UG, ZM, ZW)
ユーラシア特許庁(EAPO) (AM, AZ, BY, KG, KZ, MD, RU, TJ, TM)
欧州特許庁(EPO) (AT, BE, BG, CH, CY, CZ, DE, DK, EE, ES, FI, FR, GB, GR, HR, HU, IE, IS, IT, LT, LU, LV, MC, MK, MT, NL, NO, PL, PT, RO, SE, SI, SK, SM, TR)
アフリカ知的所有権機関(OAPI) (BF, BJ, CF, CG, CI, CM, GA, GN, GQ, GW, ML, MR, NE, SN, TD, TG).
国際公開言語: Japanese (JA)
国際出願言語: Japanese (JA)