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1. (WO2011096563) パルス電磁波を用いた計測装置及び計測方法
国際事務局に記録されている最新の書誌情報   

Translation翻訳: 原文 > 日本語
国際公開番号:    WO/2011/096563    国際出願番号:    PCT/JP2011/052529
国際公開日: 11.08.2011 国際出願日: 07.02.2011
IPC:
G01N 21/35 (2006.01)
出願人: National University Corporation Okayama University [JP/JP]; 1-1, Tsushima-Naka 1-chome, Kita-ku, Okayama-shi, Okayama 7008530 (JP) (米国を除く全ての指定国).
KIWA Toshihiko [JP/JP]; (JP) (米国のみ).
TSUKADA Keiji [JP/JP]; (JP) (米国のみ)
発明者: KIWA Toshihiko; (JP).
TSUKADA Keiji; (JP)
代理人: YANO Juichiro; YANO INTERNATIONAL PATENT OFFICE, Twin 21 MID Tower 34th Floor, 1-61, Shiromi 2-chome, Chuo-ku, Osaka-shi, Osaka 5406134 (JP)
優先権情報:
2010-025991 08.02.2010 JP
発明の名称: (EN) MEASURING DEVICE AND MEASURING METHOD THAT USE PULSED ELECTROMAGNETIC WAVE
(FR) DISPOSITIF ET PROCÉDÉ DE MESURE UTILISANT UNE ONDE ÉLECTROMAGNÉTIQUE PULSÉE
(JA) パルス電磁波を用いた計測装置及び計測方法
要約: front page image
(EN)Provided are a measuring device and a measuring method that use terahertz light, by which a substance to be detected can be detected with high sensitivity and high accuracy. A measuring device using a pulsed electromagnetic wave is provided with a substance detection plate, a means for generating the pulsed electromagnetic wave having amplitude intensity dependent on the amount of a substance to be detected at an irradiation position by irradiating the substance detection plate with a pulsed laser beam, and a detection means for detecting the amplitude intensity of the pulsed electromagnetic wave, and measures the change of the state of a solution containing the substance to be detected on the basis of the amplitude intensity. Said measuring device is provided with a first beam splitter which divides the pulsed laser beam into two, a detection region part into which the solution containing the substance to be detected can be introduced, and a reference region part into which a reference solution can be introduced, irradiates a semiconductor corresponding to the detection region part and a semiconductor corresponding to the reference region respectively with the two divided pulsed laser beams, collects pulsed electromagnetic waves generated from the semiconductors corresponding to the detection region part and the reference region part, and detects the collected pulsed electromagnetic waves by said one detection means.
(FR)L'invention concerne un dispositif de mesure et un procédé de mesure utilisant une lumière térahertz, au moyen de laquelle une substance à détecter peut être détectée avec une haute sensibilité et une haute précision. Un dispositif de mesure utilisant une onde électromagnétique pulsée comporte une plaque de détection de substance, un moyen de génération de l'onde électromagnétique pulsée dont l'intensité d'amplitude dépend de la quantité d'une substance à détecter dans une position d'irradiation en irradiant la plaque de détection de substance à l'aide d'un faisceau laser pulsé, et un moyen de détection servant à détecter l'intensité d'amplitude de l'onde électromagnétique pulsée, et mesure le changement d'état d'une solution contenant la substance à détecter en se basant sur l'intensité d'amplitude. Ledit dispositif de mesure comporte un premier séparateur de faisceau qui divise le faisceau laser pulsé en deux, une partie de région de détection dans laquelle peut être introduite la solution contenant la substance à détecter et une partie de région de référence dans laquelle peut être introduite une solution de référence ; le dispositif irradie respectivement un semiconducteur correspondant à la partie de région de détection et un semiconducteur correspondant à la partie de région de référence au moyen des deux faisceaux laser pulsés divisés, recueille des ondes électromagnétiques pulsées générées par les semiconducteurs correspondant à la partie de région de détection et à la partie de région de référence, et détecte les ondes électromagnétiques pulsées recueillies au moyen dudit moyen de détection.
(JA)【課題】被検出物質を高感度・高精度に検出可能であるテラヘルツ光を用いた計測装置及び計測方法を提供する。 【解決手段】物質検出プレートと、物質検出プレートにパルスレーザー光を照射することで、照射位置における被検出物質の量に依存する振幅強度を持ったパルス電磁波を発生させる手段と、パルス電磁波の振幅強度を検出する検出手段と、を備え、前記振幅強度より、被検出物質を含む溶液の状態の変化を計測するパルス電磁波を用いた計測装置であって、パルスレーザー光を2分割する第1ビームスプリッタと、被検出物質を含む溶液が導入可能である検出領域部と、参照溶液が導入可能である参照領域部と、を備え、2分割されたパルスレーザー光を検出領域部に対応する半導体に照射するとともに、参照領域に対応する半導体に各々照射し、検出領域部及び参照領域部に対応する半導体から発生する各々のパルス電磁波を集光して、ひとつの検出手段により検出する。
指定国: AE, AG, AL, AM, AO, AT, AU, AZ, BA, BB, BG, BH, BR, BW, BY, BZ, CA, CH, CL, CN, CO, CR, CU, CZ, DE, DK, DM, DO, DZ, EC, EE, EG, ES, FI, GB, GD, GE, GH, GM, GT, HN, HR, HU, ID, IL, IN, IS, JP, KE, KG, KM, KN, KP, KR, KZ, LA, LC, LK, LR, LS, LT, LU, LY, MA, MD, ME, MG, MK, MN, MW, MX, MY, MZ, NA, NG, NI, NO, NZ, OM, PE, PG, PH, PL, PT, RO, RS, RU, SC, SD, SE, SG, SK, SL, SM, ST, SV, SY, TH, TJ, TM, TN, TR, TT, TZ, UA, UG, US, UZ, VC, VN, ZA, ZM, ZW.
アフリカ広域知的所有権機関(ARIPO) (BW, GH, GM, KE, LR, LS, MW, MZ, NA, SD, SL, SZ, TZ, UG, ZM, ZW)
ユーラシア特許庁(EAPO) (AM, AZ, BY, KG, KZ, MD, RU, TJ, TM)
欧州特許庁(EPO) (AL, AT, BE, BG, CH, CY, CZ, DE, DK, EE, ES, FI, FR, GB, GR, HR, HU, IE, IS, IT, LT, LU, LV, MC, MK, MT, NL, NO, PL, PT, RO, RS, SE, SI, SK, SM, TR)
アフリカ知的所有権機関(OAPI) (BF, BJ, CF, CG, CI, CM, GA, GN, GQ, GW, ML, MR, NE, SN, TD, TG).
国際公開言語: Japanese (JA)
国際出願言語: Japanese (JA)