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1. WO2011078171 - 太陽電池の評価方法及び評価装置

公開番号 WO/2011/078171
公開日 30.06.2011
国際出願番号 PCT/JP2010/073012
国際出願日 21.12.2010
IPC
H01L 31/04 2006.01
H電気
01基本的電気素子
L半導体装置,他に属さない電気的固体装置
31赤外線,可視光,短波長の電磁波,または粒子線輻射に感応する半導体装置で,これらの輻射線エネルギーを電気的エネルギーに変換するかこれらの輻射線によって電気的エネルギーを制御かのどちらかに特に適用されるもの;それらの装置またはその部品の製造または処理に特に適用される方法または装置;それらの細部
04光起電変換装置として使用されるもの
CPC
H02S 50/10
HELECTRICITY
02GENERATION; CONVERSION OR DISTRIBUTION OF ELECTRIC POWER
SGENERATION OF ELECTRIC POWER BY CONVERSION OF INFRA-RED RADIATION, VISIBLE LIGHT OR ULTRAVIOLET LIGHT, e.g. USING PHOTOVOLTAIC [PV] MODULES
50Monitoring or testing of PV systems, e.g. load balancing or fault identification
10Testing of PV devices, e.g. of PV modules or single PV cells
Y02E 10/50
YSECTIONAL TECHNOLOGIES SPANNING OVER SEVERAL SECTIONS OF THE IPC; TECHNICAL SUBJECTS COVERED BY FORMER USPC CROSS-REFERENCE ART COLLECTIONS [XRACs] AND DIGESTS
02TECHNOLOGIES OR APPLICATIONS FOR MITIGATION OR ADAPTATION AGAINST CLIMATE CHANGE
EREDUCTION OF GREENHOUSE GAS [GHG] EMISSIONS, RELATED TO ENERGY GENERATION, TRANSMISSION OR DISTRIBUTION
10Energy generation through renewable energy sources
50Photovoltaic [PV] energy
出願人
  • 株式会社アルバック ULVAC, Inc. [JP]/[JP] (AllExceptUS)
  • 山室 和弘 YAMAMURO Kazuhiro [JP]/[JP] (UsOnly)
  • 金丸 龍馬 KANEMARU Ryoma [JP]/[JP] (UsOnly)
  • 滝田 宏一 TAKIDA Koichi [JP]/[JP] (UsOnly)
発明者
  • 山室 和弘 YAMAMURO Kazuhiro
  • 金丸 龍馬 KANEMARU Ryoma
  • 滝田 宏一 TAKIDA Koichi
代理人
  • 志賀 正武 SHIGA Masatake
優先権情報
2009-29098522.12.2009JP
公開言語 (言語コード) 日本語 (JA)
出願言語 (言語コード) 日本語 (JA)
指定国 (国コード)
発明の名称
(EN) METHOD FOR EVALUATING SOLAR CELL AND DEVICE FOR EVALUATING SAME
(FR) PROCÉDÉ D'ÉVALUATION D'UNE CELLULE SOLAIRE ET SON DISPOSITIF D'ÉVALUATION
(JA) 太陽電池の評価方法及び評価装置
要約
(EN)
The disclosed solar-cell evaluation method involves: forming a first groove (140a) by removing the semiconductor layer (14) so as to surround the evaluation region (Rb); laminating a second electrode layer (15) on the semiconductor layer (14), in which the first groove (140a) has been formed, to thus embed the second electrode layer (15) in the first groove (140a); forming a second groove (140b) within the region surrounded by the first groove (140a) and located inside the same in the direction parallel to the substrate (11), the second groove being formed by removing the semiconductor layer (14) and the second electrode layer (15), thus electrically insulating the evaluation region (Rb) from the surrounding region; irradiating a region including the evaluation region (Rb), which has been electrically insulated from the surrounding region, with light; and measuring the current-and-voltage properties in the evaluation region (Rb) while the region including the evaluation region (Rb) is being irradiated with light.
(FR)
Le procédé d'évaluation de cellule solaire selon l'invention consiste : à former un premier sillon (140a) en retirant la couche semi-conductrice (14) de manière à entourer la zone d'évaluation (Rb) ; à stratifier une seconde couche d'électrode (15) sur la couche semi-conductrice (14) dans laquelle le premier sillon (140a) a été formé, pour ainsi incorporer la seconde couche d'électrode (15) dans le premier sillon (140a) ; à former un second sillon (140b) dans la zone entourée par le premier sillon (140a) et située à l'intérieur de ce dernier dans la direction parallèle au substrat (11), le second sillon étant formé en retirant la couche semi-conductrice (14) et la seconde couche d'électrode (15), isolant ainsi électriquement la zone d'évaluation (Rb) de la zone qui l'entoure ; à irradier une zone comprenant la zone d'évaluation (Rb) qui a été électriquement isolée de la zone qui l'entoure, avec de la lumière ; et à mesurer les propriétés de courant et de tension dans la zone d'évaluation (Rb) tandis que la zone comprenant la zone d'évaluation (Rb) est irradiée avec de la lumière.
(JA)
 太陽電池の評価方法は、評価領域(Rb)を囲むように半導体層(14)を除去することによって第一の溝(140a)を形成し、前記第一の溝(140a)が形成された前記半導体層(14)上に第二電極層(15)を積層することによって、前記第一の溝(140a)に前記第二電極層(15)を埋没させ、基板(11)に平行な方向における前記第一の溝(140a)によって囲まれた内側領域において、前記半導体層(14)及び前記第二電極層(15)を除去することによって第二の溝(140b)を形成し、前記評価領域(Rb)を周辺領域から電気的に絶縁し、前記周辺領域から電気的に絶縁された前記評価領域(Rb)を含む領域に光を照射し、前記評価領域(Rb)を含む領域に光が照射されている時の前記評価領域(Rb)における電流電圧特性を測定する。
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