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1. WO2011067904 - システムテスト仕様生成装置及び試験装置

公開番号 WO/2011/067904
公開日 09.06.2011
国際出願番号 PCT/JP2010/006873
国際出願日 25.11.2010
IPC
G06F 11/28 2006.01
G物理学
06計算;計数
F電気的デジタルデータ処理
11エラー検出;エラー訂正;監視
28処理順序の正しさを検査することによるもの
G06F 9/44 2006.01
G物理学
06計算;計数
F電気的デジタルデータ処理
9プログラム制御のための装置,例.制御装置
06プログラム記憶方式を用いるもの,すなわちプログラムを受取りまたは保持するために処理装置の内部記憶装置を用いるもの
44特定のプログラムを実行するための装置
CPC
G06F 11/3684
GPHYSICS
06COMPUTING; CALCULATING; COUNTING
FELECTRIC DIGITAL DATA PROCESSING
11Error detection; Error correction; Monitoring
36Preventing errors by testing or debugging software
3668Software testing
3672Test management
3684for test design, e.g. generating new test cases
出願人
  • 株式会社日立製作所 HITACHI, LTD. [JP]/[JP] (AllExceptUS)
  • 吉村健太郎 YOSHIMURA, Kentaro [JP]/[JP] (UsOnly)
  • 成沢文雄 NARISAWA, Fumio [JP]/[JP] (UsOnly)
  • 守田雄一朗 MORITA, Yuichiro [JP]/[JP] (UsOnly)
発明者
  • 吉村健太郎 YOSHIMURA, Kentaro
  • 成沢文雄 NARISAWA, Fumio
  • 守田雄一朗 MORITA, Yuichiro
代理人
  • ポレール特許業務法人 Polaire I.P.C.
優先権情報
2009-27501703.12.2009JP
公開言語 (言語コード) 日本語 (JA)
出願言語 (言語コード) 日本語 (JA)
指定国 (国コード)
発明の名称
(EN) SYSTEM TEST SPECIFICATION GENERATION DEVICE AND TESTING DEVICE
(FR) DISPOSITIF DE GÉNÉRATION DE SPÉCIFICATION DE TEST DE SYSTÈME ET DISPOSITIF DE TEST
(JA) システムテスト仕様生成装置及び試験装置
要約
(EN)
Disclosed is a system test specification generation device for generating a system test specification to be applied to software constituted by a plurality of software components in a state in which the software components have been combined. The system test specification generation device comprises software (1), a specification analysis unit (2), a system test specification database (3), a system test specification setting unit (4), and a system test specification output unit (5). The software (1) comprises software components (11, 12, and 13). The specification analysis unit (2) comprises software component specification extraction units (21, 22, and 23) corresponding to each software component, and a system specification integration unit for integrating the software component specifications to generate a system specification. The system specification setting unit (4), on the basis of the system specification from the system specification integration unit (24), reuses the system test specification stored in the system test specification database (3), generates a system test specification to be applied when the software components have been combined, and outputs thereof to the system test specification output unit (5).
(FR)
La présente invention concerne un dispositif de génération de spécification de test de système permettant de générer une spécification de test de système à appliquer au logiciel, constitué d'une pluralité de composants logiciels, dans un état dans lequel les composants logiciels ont été combinés. Le dispositif de génération de spécification de test de système comprend un logiciel (1), une unité d'analyse de spécification (2), une base de données de spécification de test de système (3), une unité de définition de spécification de test de système (4) et une unité de sortie de spécification de test de système (5). Le logiciel (1) comprend des composants logiciels (11, 12 et 13). L'unité d'analyse de spécification (2) comprend des unités d'extraction de spécification de composant logiciel (21, 22 et 23) correspondant à chaque composant logiciel, et une unité d'intégration de spécification de système servant à intégrer les spécifications de composant logiciel afin de générer une spécification du système. L'unité de définition de spécification du système (4), sur la base de la spécification du système provenant de l'unité d'intégration de spécification de système (24), réutilise la spécification de test du système stockée dans la base de données de spécification de test de système (3), génère une spécification de test de système à appliquer lorsque les composants logiciels ont été combinés, et la délivre à l'unité de sortie de spécification de test de système (5).
(JA)
複数のソフトウェア部品で構成されているソフトウェアに対して、ソフトウェア部品が組み合わされた状態で実施されるシステムテスト仕様を生成する。 システムテスト仕様生成装置は、ソフトウェア1と、仕様分析部2と、システムテスト仕様データベース3と、システムテスト仕様設定部4と、システムテスト仕様出力部5で構成される。ソフトウェア1はソフトウェア部品11、12、13で構成される。仕様分析部2はソフトウェア部品毎に対応するソフトウェア部品仕様抽出部21、22、23と、ソフトウェア部品仕様を統合してシステム仕様を生成するシステム仕様統合部で構成される。システム仕様設定部4は、システム仕様統合部24からのシステム仕様に基づいて、システムテスト使用データベース3に格納されているからシステムテスト仕様を再利用し、ソフトウェア部品が組み合わされた状態で実施されるシステムテスト仕様を生成し、システムテスト仕様出力部5に出力する。
他の公開
DE112010004658
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