WIPO logo
Mobile | Deutsch | English | Español | Français | 한국어 | Português | Русский | 中文 | العربية |
PATENTSCOPE

国際・国内特許データベース検索
World Intellectual Property Organization
検索
 
閲覧
 
翻訳
 
オプション
 
最新情報
 
ログイン
 
ヘルプ
 
自動翻訳
1. (WO2011046130) 異物の沈積度合いを測定する方法
国際事務局に記録されている最新の書誌情報   

Translation翻訳: 原文 > 日本語
国際公開番号:    WO/2011/046130    国際出願番号:    PCT/JP2010/067919
国際公開日: 21.04.2011 国際出願日: 13.10.2010
予備審査請求日:    08.02.2011    
IPC:
G01N 5/02 (2006.01)
出願人: NIPPON PAPER INDUSTRIES CO., LTD. [JP/JP]; (JP) (米国を除く全ての指定国).
GOTO, Shisei [JP/JP]; (JP) (米国のみ).
OOKA, Yasunobu [JP/JP]; (JP) (米国のみ).
OKAMOTO, Kosuke [JP/JP]; (JP) (米国のみ)
発明者: GOTO, Shisei; (JP).
OOKA, Yasunobu; (JP).
OKAMOTO, Kosuke; (JP)
代理人: ONO, Shinjiro; YUASA AND HARA, Section 206, New Ohtemachi Bldg., 2-1, Ohtemachi 2-chome, Chiyoda-ku, Tokyo 1000004 (JP)
優先権情報:
2009-237759 14.10.2009 JP
発明の名称: (EN) METHOD FOR MEASURING DEGREE OF CONTAMINANT DEPOSITION
(FR) PROCÉDÉ POUR MESURER UN DEGRÉ DE DÉPOSITION DE CONTAMINANTS
(JA) 異物の沈積度合いを測定する方法
要約: front page image
(EN)Disclosed is a method that is for measuring the deposition of contaminants that have a large effect on machine operability or product quality in a manufacturing step for pulp and paper, specifically measuring the degree of deposition of adhesive contaminants and pitch and the form of deposits, and is also for determining the effectiveness of a chemical that decreases deposits. In the manufacturing step for pulp and paper, a method is used that includes measuring the degree of deposition of contaminants from a liquid or slurry onto a crystal oscillator and quantifying the form of the deposits on the surface of the crystal oscillator by means of image analysis. Furthermore, using the method that quantifies the aforementioned degree of deposition and form of the deposits after adding to the aforementioned liquid or slurry a chemical that decreases deposits, the effectiveness of the aforementioned chemical can be determined.
(FR)L'invention porte sur un procédé, qui sert à mesurer la déposition de contaminants qui ont un grand effet sur une aptitude de fonctionnement de machine ou sur une qualité de produit dans une étape de fabrication de la pâte et du papier, et, de façon spécifique, à mesurer le degré de déposition de contaminants adhésifs et le pas et la forme de dépôts, et qui sert également à déterminer l'efficacité d'un produit chimique qui diminue les dépôts. Dans l'étape de fabrication de la pâte et du papier, il est utilisé un procédé qui comprend la mesure du degré de déposition de contaminants à partir d'un liquide ou d'une suspension sur un oscillateur à cristal et la quantification de la forme des dépôts sur la surface de l'oscillateur à cristal à l'aide d'une analyse d'image. De plus, à l'aide du procédé qui quantifie le degré précédemment mentionné de déposition et la forme des dépôts après addition d'un produit chimique qui diminue les dépôts au liquide ou à la suspension précédemment mentionnée, l'efficacité du produit chimique précédemment mentionné peut être déterminée.
(JA) パルプ及び紙の製造工程において、マシン操業性、あるいは製品品質に大きな影響を及ぼす異物の沈積、特に粘着異物、ピッチの沈積度合いと沈積物の形態を測定するとともに、沈積を低減させる薬品の効果を判定するための方法を提供する。 パルプ及び紙の製造工程において、水晶振動子上への液体又はスラリからの異物の沈積度合いを測定することと、水晶振動子表面の沈積物の形態を画像解析によって定量化することを含んでなる方法を用いる。更に、沈積を低減させる薬品を前記液体又はスラリに添加した後に前記の沈積度合いと沈積物の形態を定量化する方法を用いて、前記薬品の効果を判定する。
指定国: AE, AG, AL, AM, AO, AT, AU, AZ, BA, BB, BG, BH, BR, BW, BY, BZ, CA, CH, CL, CN, CO, CR, CU, CZ, DE, DK, DM, DO, DZ, EC, EE, EG, ES, FI, GB, GD, GE, GH, GM, GT, HN, HR, HU, ID, IL, IN, IS, JP, KE, KG, KM, KN, KP, KR, KZ, LA, LC, LK, LR, LS, LT, LU, LY, MA, MD, ME, MG, MK, MN, MW, MX, MY, MZ, NA, NG, NI, NO, NZ, OM, PE, PG, PH, PL, PT, RO, RS, RU, SC, SD, SE, SG, SK, SL, SM, ST, SV, SY, TH, TJ, TM, TN, TR, TT, TZ, UA, UG, US, UZ, VC, VN, ZA, ZM, ZW.
アフリカ広域知的所有権機関(ARIPO) (BW, GH, GM, KE, LR, LS, MW, MZ, NA, SD, SL, SZ, TZ, UG, ZM, ZW)
ユーラシア特許庁(EAPO) (AM, AZ, BY, KG, KZ, MD, RU, TJ, TM)
欧州特許庁(EPO) (AL, AT, BE, BG, CH, CY, CZ, DE, DK, EE, ES, FI, FR, GB, GR, HR, HU, IE, IS, IT, LT, LU, LV, MC, MK, MT, NL, NO, PL, PT, RO, RS, SE, SI, SK, SM, TR)
アフリカ知的所有権機関(OAPI) (BF, BJ, CF, CG, CI, CM, GA, GN, GQ, GW, ML, MR, NE, SN, TD, TG).
国際公開言語: Japanese (JA)
国際出願言語: Japanese (JA)